Technologie à rayons X facile d'utilisation

La simplicité par excellence

Inspectez l'invisible en un tour de main

ZEISS METROTOM 1

Grâce à la technologie de tomographie à rayons X facile d'utilisation de ZEISS METROTOM 1, effectuer des tâches de mesure et d'inspection complexes en un seul scan est à la portée de tous. Mesurez et inspectez les défauts cachés et les structures internes que les systèmes de mesure tactiles ou optiques ne peuvent détecter. Tout aussi intelligent : la taille du ZEISS METROTOM 1. Compact, le tomographe trouve facilement sa place dans votre laboratoire de métrologie et permet d'effectuer en interne des mesures et des inspections en un tour de main.

Advantages
Technical Data
High Resolution Mode
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Un système CT unique, des avantages multiples

ZEISS METROTOM 1 is the ideal device to upgrade your quality inspection portfolio using industrial computed tomography. The CT system boasts with many advantages:

Pilotage aisé

X-Ray easy-to-use

Dès sa conception, ZEISS METROTOM 1 a été pensé pour l'utilisateur. Son installation est simple et une formation courte suffit pour savoir l'utiliser. Le processus de numérisation se lance en un clic !

Mesures précises

Precise X-Ray Technology

Compact mais complet : ZEISS METROTOM 1 permet de mesurer et d'évaluer des pièces entières. Comparez avec précision les valeurs nominales et les valeurs réelles, effectuez des vérifications dimensionnelles et des analyses de l'épaisseur des parois avec la certitude de pouvoir vous fier à vos mesures.

Petite taille

Compact CT system

ZEISS METROTOM 1 est étonnamment compact. Ses dimensions sont de 1750 mm (L) × 1820 mm (H) × 870 mm (P). Dès lors, ce système CT s'intègre dans n'importe quel laboratoire de métrologie, pour des mesures et une assurance qualité en interne, sans devoir contacter des services de mesure externes.

Retour sur investissement rapide

Fast return on investment

Outre le faible coût d'acquisition, le coût de propriété se limite également au minimum grâce à une maintenance réduite : le tube de ZEISS METROTOM 1 n'a pas besoin d'être entretenu lorsqu'il est en fonctionnement.

ZEISS METROTOM 1 - fiable et compact

Une technologie CT évolutive pour tous les laboratoires de métrologie

Fort de son expertise en technologie CT, ZEISS propose des systèmes CT de qualité dans sa gamme METROTOM depuis plus de dix ans. Le système de tomographie par ordinateur ZEISS METROTOM 1 met désormais à la portée de tous une technologie à rayons X fiable et une assurance qualité non destructive.

ZEISS METROTOM 1
Flat panel detector

Les rayons X qui criblent l'échantillon sont détectés par un détecteur à panneau plat.

Rotary table

La table rotative est un élément essentiel du processus de numérisation pour la capture d'un ensemble complet de données 3D d'une pièce.

X-ray tube

Les rayons X, générés par le tube à rayons X, pénètrent dans l'échantillon.

Mesurez des composants entiers. Garantissez des pièces irréprochables.

Détectez facilement les défauts cachés des pièces dans votre laboratoire de mesure grâce à ZEISS METROTOM 1. Ce dernier vous permet d'inspecter une variété de pièces de moyenne ou petite taille, en plastique ou en métal léger, par exemple des connecteurs, des bouchons en plastique, des composants en aluminium, etc.

ZEISS METROTOM 1 with GOM Volume Inspect

ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

Artificial intelligence in computed tomography

The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.

Find out more

Découvrez le fonctionnement du système

Caractéristiques techniques

Compact et puissant avec ZEISS

Champs d'application :
Contrôle non destructif, balayage simultané de plusieurs pièces.

Fonctions d'inspection :
Mesure des structures internes et externes, inspection des défauts internes, par exemple des retassures.

X-ray source

160 kV

X-ray detector (pixels):

2.5 k (2,500 x 2,500)

Measuring volume

165 x 140 mm

Metrology specification (MPE SD)

5 µm +L/100

Dimensions

1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D)

Weight

2100 kg

Software

GOM Volume Inspect (included)

Resolution

32,6 μm

High Resolution Mode

With the High Resolution (HR) mode you can decrease the voxel size of your ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.

  • Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
  • Improved image quality
  • Easy switch between Standard and High Resolution mode

Features

ZEISS METROTOM 1
Standard

ZEISS METROTOM 1
High Resolution

Voxel size

65.3 μm

32.6 μm

Measuring volume

165 x 140 mm

80 x 80 mm

Pixel size

78 μm x 78 μm

39 μm x 39 μm

View more details and receive a sharper image with the High Resolution mode.

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