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New: High Resolution Option
Technologie à rayons X facile d'utilisation
La simplicité par excellence

Inspectez l'invisible en un tour de main
ZEISS METROTOM 1
Grâce à la technologie de tomographie à rayons X facile d'utilisation de ZEISS METROTOM 1, effectuer des tâches de mesure et d'inspection complexes en un seul scan est à la portée de tous. Mesurez et inspectez les défauts cachés et les structures internes que les systèmes de mesure tactiles ou optiques ne peuvent détecter. Tout aussi intelligent : la taille du ZEISS METROTOM 1. Compact, le tomographe trouve facilement sa place dans votre laboratoire de métrologie et permet d'effectuer en interne des mesures et des inspections en un tour de main.
Un système CT unique, des avantages multiples
ZEISS METROTOM 1 is the ideal device to upgrade your quality inspection portfolio using industrial computed tomography. The CT system boasts with many advantages:
Pilotage aisé

Dès sa conception, ZEISS METROTOM 1 a été pensé pour l'utilisateur. Son installation est simple et une formation courte suffit pour savoir l'utiliser. Le processus de numérisation se lance en un clic !
Mesures précises

Compact mais complet : ZEISS METROTOM 1 permet de mesurer et d'évaluer des pièces entières. Comparez avec précision les valeurs nominales et les valeurs réelles, effectuez des vérifications dimensionnelles et des analyses de l'épaisseur des parois avec la certitude de pouvoir vous fier à vos mesures.
Petite taille

ZEISS METROTOM 1 est étonnamment compact. Ses dimensions sont de 1750 mm (L) × 1820 mm (H) × 870 mm (P). Dès lors, ce système CT s'intègre dans n'importe quel laboratoire de métrologie, pour des mesures et une assurance qualité en interne, sans devoir contacter des services de mesure externes.
Retour sur investissement rapide

Outre le faible coût d'acquisition, le coût de propriété se limite également au minimum grâce à une maintenance réduite : le tube de ZEISS METROTOM 1 n'a pas besoin d'être entretenu lorsqu'il est en fonctionnement.
ZEISS METROTOM 1 - fiable et compact
Une technologie CT évolutive pour tous les laboratoires de métrologie
Fort de son expertise en technologie CT, ZEISS propose des systèmes CT de qualité dans sa gamme METROTOM depuis plus de dix ans. Le système de tomographie par ordinateur ZEISS METROTOM 1 met désormais à la portée de tous une technologie à rayons X fiable et une assurance qualité non destructive.

Mesurez des composants entiers. Garantissez des pièces irréprochables.
Détectez facilement les défauts cachés des pièces dans votre laboratoire de mesure grâce à ZEISS METROTOM 1. Ce dernier vous permet d'inspecter une variété de pièces de moyenne ou petite taille, en plastique ou en métal léger, par exemple des connecteurs, des bouchons en plastique, des composants en aluminium, etc.






GOM Volume Inspect
Analyse 3D complète de données volumétriques CT
ZEISS METROTOM 1 est livré avec le logiciel d'exploitation et d'inspection GOM Volume Inspect. Ce logiciel adapté aux débutants combine toutes les étapes du processus de tomographie à rayons X, de la configuration à la reconstruction du scan en passant par l'évaluation des données et la création de rapports. Les géométries, retassures, structures internes et assemblages peuvent être évalués avec précision. Grâce aux images de coupe individuelles, même les plus petits défauts deviennent visibles et peuvent être évalués automatiquement selon de nombreux critères. Ce logiciel est capable à la fois de charger dans un projet les données volumétriques de plusieurs composants, d'analyser les tendances, d'effectuer des comparaisons avec les données 3D du modèle CAO, etc.

Découvrez le fonctionnement du système
Caractéristiques techniques
Compact et puissant avec ZEISS
Champs d'application :
Contrôle non destructif, balayage simultané de plusieurs pièces.
Fonctions d'inspection :
Mesure des structures internes et externes, inspection des défauts internes, par exemple des retassures.
X-ray source |
160 kV |
X-ray detector (pixels): |
2.5 k (2,500 x 2,500) |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
Metrology specification (MPE SD) |
5 µm +L/100 |
Dimensions |
1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D) |
Weight |
2100 kg |
Software |
GOM Volume Inspect (included) |

High Resolution option
With the HR option you can increase the resolution of ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.
- Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
- Improved image quality
- Easy switch between Standard and High Resolution mode
- Option can be installed by the user easily and quickly
Features |
ZEISS METROTOM 1 |
ZEISS METROTOM 1 |
Resolution |
65.3 μm |
32.6 μm |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
80 x 80 mm |
Number of pixels |
2,560 x 2,560 |
5,120 x 5,120 |
Pixel size |
78 μm x 78 μm |
39 μm x 39 μm |
Accessories included |
Fixture plates (2x) |
Plate holder |


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