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Microscopie connectée.
Accélérez la prise de décision.Gamme pour la microscopie industrielle
ZEISS s'appuie sur ses 170 ans d'expérience et ses capacités inégalées de traitement de données sur tous les types d'appareils. Tirant parti de son portefeuille complet de solutions connectées de microscopie industrielle qui s'adaptent à de nombreuses applications, ZEISS vous aide à transformer les données en informations exploitables et à accélérer votre prise de décisions.
Du micromètre au nanomètre
ZEISS propose un portefeuille unique et complet de tous les types de microscopes pertinents pour les applications industrielles. Ceci, combiné avec les données corrélables entre les différentes technologies de microscope et le logiciel central ZEN orienté vers le flux de travail, fournit aux clients un système de solution complet et cohérent que seul ZEISS peut offrir.
De l'analyse d'image à la productivité
Traitement des données dans toutes les dimensions
Grâce à sa gamme pour la microscopie industrielle, ZEISS aide ses clients à acquérir, gérer et utiliser avec cohérence leurs données de microscopie dans des environnements multi-utilisateurs, pour des services et types de microscopie variés.
Ce concept favorise une manipulation en toute indépendance par l'utilisateur, l'analyse des tendances et un aperçu approfondi en combinant les résultats obtenus dans différentes dimensions ou modalités au partage des données. Le résultat est une productivité et une certitude accrue dans les applications en microscopie industrielle.
- Décidez s'il y a lieu d'effectuer un contrôle visuel
- Identifiez les défauts et défaillances ; déterminez leur cause profonde
- Caractérisez la rugosité des surfaces et la topographie
- Surveillez la contamination particulaire
- Identifiez les variations des dimensions géométriques critiques
Gestion intelligente des données
pour la microscopie connectée
L'interface utilisateur uniformisée ZEN core permet une utilisation identique des microscopes, qu'il s'agisse de microscopes stéréo ou d'applications haut de gamme entièrement automatisées. Cette puissante suite logicielle permet de corréler les microscopies optique et électronique dans des flux de travail multimodaux et assure la connectivité entre les systèmes, les laboratoires et les sites. Plus qu’une simple interface d’acquisition d'images, ZEN core est la suite d'outils d'imagerie, de segmentation, d'analyse et de connectivité la plus complète pour la microscopie multimodale dans les laboratoires connectés.
Workflow-oriented
ZEN core enables a workflow-oriented quality assurance for microscopy applications through dedicated
software modules for application fields such as technical cleanliness analysis and job templates for automated image quantification.
Mobile Access
ZEN Data Explorer allows access to all data on the central ZEN Data Storage from any place via mobile device or browser.
Reliable Data Storage
The central database for secure data handling and documentation offers a scalable central storage solution for results, methods, and templates.
Correlation and Connectivity
Through its correlative data output, ZEN core allows quick and easy re-localization of area of interests across different imaging methods and microscope technologies.
Découvrez comment d'autres clients utilisent les solutions de microscopie industrielle de ZEISS
Applications pour les systèmes de microscopie industrielle
Des solutions orientées vers le flux de travail pour une analyse efficace de la qualité
ZEISS propose la plus large gamme de solutions pour les applications industrielles dans divers segments industriels : électronique, automobile, aérospatiale, équipement médical et fabrication additive. Travaillez en partenariat avec nous pour résoudre vos problèmes technologiques spécifiques, faire progresser vos processus et minimiser vos délais d'obtention de résultats grâce à notre portefeuille complet de microscopie et à nos solutions logicielles ciblées. Obtenez une imagerie de haute qualité grâce à nos solutions uniques de microscopie utilisant les modalités d'imagerie par lumière, rayons X et électrons.
Analyse des défaillances et métallographie
Déterminer la cause première de la défaillance
Le défi
La métallographie révèle la structure interne des matériaux. Si quelque chose ne se passe pas comme prévu, l'analyse des défaillances est nécessaire pour inspecter, analyser et documenter la défaillance afin de révéler la cause fondamentale sous-jacente.
Vos bénéfices avec ZEISS
Des résultats plus rapides grâce à un logiciel orienté vers le flux de travail et à la corrélation des résultats avec ZEN core.
Inspection visuelle
Rapide et reproductible
Le défi
L'inspection optique offre aux fabricants la possibilité de détecter et d'arrêter les erreurs dès qu'elles apparaissent. Elle s'appuie sur des images rapides et reproductibles et sur une documentation fiable dans l'atelier et dans les services de qualité.
Vos bénéfices avec ZEISS
ZEISS propose la solution de microscopie adaptée à chaque application d'inspection : Microscopes optiques, microscopes électroniques à balayage et microscopes à rayons X.
Mesure optique
Métrologie précise à l'échelle microscopique
Le défi
As production technology progresses, manufacturing tools are able to produce features with ambitious tolerances on work pieces. To assure the quality of these products and components, manufacturers need to measure in dimensions smaller than a human eye can see.
Vos bénéfices avec ZEISS
L'expérience inégalée de ZEISS dans le domaine de la microscopie et son vaste savoir-faire en matière de métrologie permettent d'obtenir des résultats précis avec une large gamme de types de microscopes.
Caractérisation de la surface
Topographie et rugosité en 3D
Le défi
Les surfaces finies et fonctionnelles à géométrie complexe doivent être caractérisées par leur rugosité et leur topographie tridimensionnelle avec la plus grande précision.
Vos bénéfices avec ZEISS
En fonction des exigences de l'application, ZEISS peut proposer des options tactiles en plus des solutions de microscopie de pointe telles que le ZEISS LSM 900 MAT et le ZEISS Smartproof 5.
Analyse des particules
Contrôle qualité fiable pour la propreté technique
Le défi
La propreté des composants et des pièces est au cœur de la plupart des processus de fabrication industrielle. Une contamination particulaire non détectée peut affecter les performances, la durée de vie et la fiabilité des produits finaux.
Vos bénéfices avec ZEISS
ZEISS vous permet de prendre des décisions éclairées sur la cause première de la contamination.