
ZEISS Industrial Quality Solutions
Permettez à vos clients de réussirVotre partenaire pour la métrologie industrielle multidimensionnelle
ZEISS Industrial Quality Solutions est un fabricant de premier plan de solutions de métrologie multidimensionnelle. Il s'agit notamment de machines à mesurer tridimensionnelles, de systèmes sans contact et multicapteurs, de systèmes de microscopie pour le contrôle qualité industriel, ainsi que de logiciels de métrologie pour les secteurs de l'automobile, de l'aéronautique, de la construction mécanique, des matières plastiques et de la technologie médicale. Des technologies innovantes telles que la métrologie 3D par rayons X pour l'inspection de la qualité complètent la gamme. En outre, ZEISS Industrial Quality Solutions offre un large éventail mondial de services à la clientèle avec des ZEISS Quality Excellence Centers situés à proximité de ses clients. Le siège de l'entreprise est situé à Oberkochen. Les sites de production et de développement en dehors de l'Allemagne sont situés à Minneapolis aux États-Unis, à Shanghai (Chine) et à Bangalore (Inde). ZEISS Industrial Quality Solutions fait partie du segment Industrial Quality & Research.

La décarbonisation est l'un des principaux moteurs de la transformation du marché
Les ZEISS Quality Solutions sont un exemple de précision et de performance. Nos systèmes et nos logiciels définissent les normes industrielles et garantissent l'augmentation de la productivité dont les fabricants ont besoin. En tant que pionniers, nous devons toujours avoir une longueur d'avance : un engagement clair en faveur d'actions entrepreneuriales et durables fait partie intégrante d'un secteur en pleine mutation en raison des nouvelles technologies, des processus de fabrication et des nouvelles spécifications des clients.
100 ans de Industrial Metrology chez ZEISS
Rejoignez-nous pour un voyage dans le temps-
1919
Fondation du « Département des mesures fines »
1ère présentation d'instruments de mesure à la foire de printemps de Leipzig.
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1920
Premiers grands appareils : Optimètres, microscopes et jauges de mesure d'atelier
Le nouvel Optimètre de ZEISS de 1920 a probablement été le premier instrument de mesure à intégrer l'optique dans la mécanique de précision.
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1926
Premier microscope de mesure universel
ZEISS a également réalisé des progrès technologiques significatifs avec le microscope de mesure universel ZEISS, lancé sur le marché en 1926.
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1953
Nouveau microscope de mesure universel
En 1950, ZEISS a commencé à créer le « Département des instruments de mesure techniques ». L'objectif du département était de concevoir des instruments de mesure entièrement nouveaux.
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1963
Premiers instruments de mesure numériques
Dans les années 1960, les signes d'une révolution se sont manifestés en métrologie avec les instruments de mesure avec sortie numérique-électronique de la valeur mesurée.
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1973
UMM 500 : machine à mesurer tridimensionnelle de haute précision
En 1973, la première machine à mesurer tridimensionnelle de haute précision a été lancée sur le marché, avec une sonde de mesure, une table intégrée, un ordinateur et son propre logiciel de mesure.
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1977
Le "Département des mesures fines" a été renommé en "Industrial Metrology (IMT)"
Le "Département des mesures fines" a été renommé en "Industrial Metrology (IMT)".
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1978
Série WMM pour une utilisation liée à la production
La nouvelle série de machines à mesurer d'atelier ZEISS WMM, lancée sur le marché en 1978, offre un aperçu de l'avenir de la mesure.
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1983
Premier fournisseur d'un changement de palpeur CNC pour MMT
Une innovation importante de ZEISS IMT datant de 1983 a été le changeur automatique de palpeur CNC pour les machines à mesurer tridimensionnelles.
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1985
Première programmation CAO de séquences de mesure CNC
Réduction des temps de mesure grâce aux procédures CAA et à la programmation CAO.
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1995
ZEISS CALYPSO
ZEISS CALYPSO : un concept de logiciel de mesure révolutionnaire basé sur la CAO.
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2001
ZEISS CenterMax
Dispositif de mesure de la production pour une mesure stable en température comme dans la cellule de mesure.
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2006
ZEISS METROTOM
Tomographies informatisées pour applications industrielles, métrotomographie dans le domaine du micromètre.
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2014
ZEISS XENOS
La machine à mesurer tridimensionnelle utilise une technologie innovante pour progresser dans de nouveaux domaines de précision et de dynamique, établissant ainsi de nouvelles normes.