Facile à utiliser, le logiciel d'analyse ZEISS INSPECT X-Ray permet une analyse complète des données de scanner à rayons X en 3D, que cette analyse soit automatisée ou personnalisée. Il convient même aux novices. Les géométries, les cavités de retrait ou les structures internes et les assemblages peuvent être analysés avec précision. Même les petits défauts sont visibles sur les images en coupe. Vous pouvez également charger les données volumétriques de plusieurs composants dans un projet, effectuer une analyse de tendance et comparer les résultats aux données CAO, le tout dans un seul logiciel.

Le module complémentaire ZADD de ZEISS INSPECT X-Ray détecte jusqu'aux moindres défauts et les défauts les plus flous de manière fiable, rapide et automatique. ZADD détecte, localise et classe ces défauts ou anomalies tout en les analysant en détail par la lecture de mesures de scanner à rayons X. Le module complémentaire est spécialement développé pour des applications telles que les pièces moulées, les pièces moulées par injection et les composants imprimés.

Le logiciel de création de rapports et de gestion des données de qualité ZEISS PiWeb permet de relier les résultats métrologiques des différentes technologies de mesure aux décisions de l'atelier afin d'assurer un suivi efficace de la qualité de votre production et des résultats immédiats. Utilisez ZEISS PiWeb pour réaliser des études ISO, contrôler la qualité de la gestion des données, travailler avec des données manuelles, créer des statistiques puissantes et profiter de divers modèles de rapports standard prêts à l'emploi.