Skip to main content
Industrial Quality Solutions
Webshop Accessoires France
retour
Industrial Quality Solutions
recherches recommandées
recherches fréquentes
ZEISS METROTOM 800 320 kV

ZEISS METROTOM 800
320 kV

La vitesse rencontre la précision pour les composants à haute densité

ZEISS METROTOM 800 320 kV est conçu pour l'inspection et la métrologie de haute précision des matériaux denses tels que l'Inconel, le Cobalt Chromium (CoCr), les pièces métalliques fabriquées par prototypage rapide ou les assemblages multi-matériaux. Avec 320 kV et une technologie d'imagerie avancée, il fournit des mesures plus rapides et une exactitude inégalée, même pour les composants de grande taille ou complexes. Le système de tomographie à rayons X haute performance ouvre de nouveaux domaines d'application dans l'aéronautique, l'automobile et les industries médicales, en offrant la vitesse, la flexibilité et la fiabilité dont vous avez besoin.

  • Mesures à haute résolution pour les pièces complexes de densité élevée
  • Numérisation rapide avec des spécifications métrologiques strictes
  • Système polyvalent pour les petites et grandes pièces
  • Solution logicielle tout-en-un ZEISS INSPECT X-Ray
ZEISS METROTOM 800 320 kV
Contact

Numérisation avancée par scanner à rayons X pour les applications exigeantes

Contenu tiers bloqué

Le lecteur vidéo est bloqué en raison de vos préférences en matière de cookies. Pour modifier les paramètres et lire la vidéo, cliquez sur le bouton ci-dessous afin d'accepter l'utilisation des technologies de suivi « fonctionnelles ».

Le système polyvalent efficace pour les pièces denses

ZEISS METROTOM 800 320 kV pénètre les pièces de matériaux denses et fournit des résultats fiables avec une qualité de mesure exceptionnelle grâce à son tube microfocal à haute tension. Avec une puissance de sortie allant jusqu'à 500 W et une taille de spot minimale de quelques microns, il offre un équilibre parfait entre vitesse et résolution, ce qui le rend idéal pour l'imagerie détaillée et les mesures rapides approuvées sur le plan métrologique. Le logiciel ZEISS INSPECT X-Ray assure un flux de tâches fluide et intuitif, de l'acquisition de la mesure à l'analyse finale.

Scanner à rayons X polyvalent pour petites et grandes pièces

Scanner à rayons X polyvalent pour petites et grandes pièces

ZEISS METROTOM 800 320 kV offre une flexibilité maximale, permettant de traiter aussi bien des pales de turbine complexes, des implants médicaux ou des connecteurs de grande taille et des pièces électroniques multimatériaux de plus grande taille. Grâce à sa source de rayons X à haute tension et à ses paramètres de mesure adaptables, le système offre une pénétration et une précision optimales pour obtenir des résultats précis sur des pièces de tailles et de matériaux variés. Il s'agit donc de la solution idéale à la fois pour l'inspection et la métrologie dans un large éventail d'applications industrielles.

Métrologie de haute précision pour les matériaux denses

Métrologie de haute précision pour les matériaux denses

Avec des spécifications métrologiques strictes à haute tension, ZEISS METROTOM 800 320 kV est idéal pour les applications exigeantes telles que les pales de turbines aéronautiques, les implants médicaux et les composants en acier. Le système est conforme aux normes VDI/VDE 2630 1.3, ce qui garantit la plus grande exactitude de mesure tant pour le contrôle qualité que pour les inspections critiques sur des géométries complexes.

Numérisation fiable à long terme

Numérisation fiable à long terme

Le tube à rayons X de notre système fonctionne en permanence à haute tension et ne nécessite pas de phase de refroidissement, garantissant un temps de fonctionnement maximal et permettant d'effectuer des mesures successives sans retard. Qu'il s'agisse d'inspections de longue durée ou d'environnements sur ligne à haut débit, ZEISS METROTOM 800 320 kV offre des performances et une productivité constantes.

Mesures rapides avec une qualité d'image exceptionnelle

Mesures rapides avec une qualité d'image exceptionnelle

Une courte distance source-détecteur permet d'effectuer des mesures jusqu'à quatre fois plus rapides que les autres systèmes ZEISS METROTOM afin de réduire encore davantage les temps de numérisation pour les applications à haut débit. En outre, ZEISS scatterControl minimise les artefacts de diffusion, garantissant des images nettes et contrastées, même pour les matériaux denses : une combinaison idéale de vitesse et de qualité d'image pour les inspections industrielles exigeantes.

ZEISS scatterControl
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl

Une qualité d'image CT exceptionnelle

La solution matérielle ZEISS scatterControl améliore considérablement la qualité de l'image en réduisant au minimum les artefacts de diffusion des mesures de scanner à rayons X, ce qui facilite le traitement des données et les étapes d'évaluation ultérieures et permet une détermination de la surface et une analyse des défauts encore plus précises.

En savoir plus

Applications

  • Application ZEISS dans l'aéronautique

    Aéronautique

    • Structures internes des petites pales en Inconel 
    • Pièces métalliques complexes fabriquées par prototypage rapide (par exemple, buses d'injection)
  • Application ZEISS pour le médical

    Médical

    • Implants en cobalt-chrome (par exemple, genou fémoral, genou tibial)
    • Implants en titane (par exemple, plaques et vis osseuses)
    • Fabrication par prototypage rapide et pièces moulées denses nécessitant une grande exactitude
  • Application ZEISS New Energy Vehicle

    Véhicules à énergie nouvelle

    • Cellules de batterie logées dans de l'acier 
    • Grands connecteurs 
    • Modules plus petits 
    • Piles de batteries
  • Application ZEISS pour l'électronique

    Électronique

    • Petits capteurs logés dans l'acier 
    • Pièces électroniques multi-matériaux de plus grande taille 
    • Petits moteurs avec aimants et bobines de cuivre
  • ZEISS INSPECT X-Ray Analyse complète des données de scanner à rayons X en 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Analyse complète des données de scanner à rayons X en 3D

    Facile à utiliser, le logiciel d'analyse ZEISS INSPECT X-Ray permet une analyse complète des données de scanner à rayons X en 3D, que cette analyse soit automatisée ou personnalisée. Il convient même aux novices. Les géométries, les cavités de retrait ou les structures internes et les assemblages peuvent être analysés avec précision. Même les petits défauts sont visibles sur les images en coupe. Vous pouvez également charger les données volumétriques de plusieurs composants dans un projet, effectuer une analyse de tendance et comparer les résultats aux données CAO, le tout dans un seul logiciel.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    L'intelligence artificielle dans la tomographie numérique

    Le module complémentaire ZADD de ZEISS INSPECT X-Ray détecte jusqu'aux moindres défauts et les défauts les plus flous de manière fiable, rapide et automatique. ZADD détecte, localise et classe ces défauts ou anomalies tout en les analysant en détail par la lecture de mesures de scanner à rayons X. Le module complémentaire est spécialement développé pour des applications telles que les pièces moulées, les pièces moulées par injection et les composants imprimés.

  • ZEISS PiWeb Transformer des données de qualité en résultats probants

    ZEISS PiWeb

    Transformer des données de qualité en résultats probants

    Le logiciel de création de rapports et de gestion des données de qualité ZEISS PiWeb permet de relier les résultats métrologiques des différentes technologies de mesure aux décisions de l'atelier afin d'assurer un suivi efficace de la qualité de votre production et des résultats immédiats. Utilisez ZEISS PiWeb pour réaliser des études ISO, contrôler la qualité de la gestion des données, travailler avec des données manuelles, créer des statistiques puissantes et profiter de divers modèles de rapports standard prêts à l'emploi.

Caractéristiques du logiciel pour l'acquisition d'images

Solutions logicielles pour des mesures de scanner à rayons X efficaces
  • Réduction des artefacts multi-matériaux

    Réduction des artefacts multi-matériaux

    Vos pièces sont plus détaillées lors du passage du métal au plastique. La correction des artefacts multi-matériaux réduit considérablement les artefacts qui se produisent lors de la numérisation de pièces composées de matériaux et d'épaisseurs différents, en particulier dans les pièces de type connecteur composées de métal et de plastique.

  • Extension du champ de vision horizontal

    Extension du champ de vision horizontal

    Mesurer des pièces plus larges que le détecteur : l'extension du champ de vision horizontal permet d'augmenter jusqu'à 80 % le diamètre de volume possible de vos captures. Elle permet de numériser des pièces nettement plus larges que le détecteur ou de mesurer des pièces plus petites avec des voxels plus petits et donc des résolutions plus élevées.

  • Extension verticale du champ de vision

    Extension verticale du champ de vision

    Le système de positionnement de haute précision, qui tire parti de notre expertise en matière de mesures tactiles, a permis d'augmenter la taille des composants pouvant être reconstruits dans le système jusqu'à 520 mm de hauteur. Résultat, les grands composants peuvent être entièrement capturés en un seul processus automatisé, éliminant ainsi la nécessité d'un repositionnement et d'un alignement chronophage de la part de l'utilisateur.

  • Mesure en demi-cercle

    Mesure en demi-cercle

    Le demi-cercle est un mode de mesure dans lequel une pièce ne doit effectuer qu'un peu plus de la moitié d'une rotation au lieu d'une rotation complète, ce qui vous permet de mesurer des régions spécifiques dans des pièces avec une résolution plus élevée qui serait autrement limitée géométriquement par une rotation complète.

  • Séparation automatique de plusieurs composants

    Séparation

    La séparation automatique augmente la productivité en numérisant plusieurs composants à la fois et en les évaluant automatiquement séparément, ce qui réduit considérablement le temps de numérisation et l'interaction avec l'opérateur.

Gamme ZEISS METROTOM

Détails techniques

ZEISS METROTOM 800 320 kV

Tube à rayons X

320 kV micro focus, max. 500 W

FPD

3072 x 3072 px @ 139 μm

Dimensions (largeur x longueur x hauteur) en mm

1820 x 3200 x 2100

Poids de la pièce

Jusqu'à 50 kg

MPE (selon VDI/VDE 2630 1.3) (VAST) en μm

SD (TS) 4.5+L/50
PS (TS) 3
PF (TS) 4
E (TS) 9+L/50

Volume de reconstruction maximal (p x h)

325 mm x 250 mm
325 mm x 520 mm (extension verticale du champ visuel)
500 mm x 470 mm (extension verticale et horizontale du champ visuel)

Téléchargements

Contactez-nous

Vous souhaitez en savoir plus sur nos produits et services ? Nous serons ravis de vous offrir plus de détails ou une démonstration en direct, que ce soit à distance ou en personne.

Boutique ZEISS Metrology

Commander facilement des palpeurs, des accessoires de mesure, etc.

Portail ZEISS Metrology

Accéder à la gamme complète de systèmes et de services logiciels

ZEISS Academy Metrology

Votre formation personnalisée en métrologie, disponible sous différents formats

Vous avez besoin de plus d'informations ?

Contactez-nous. Nos experts vous répondront.

Chargement du formulaire en cours...

/ 4
Étape suivante :
  • Demande d'intérêt
  • Données personnelles
  • Détails de l'entreprise

Pour obtenir plus d'informations sur le traitement des données chez ZEISS, veuillez consulter notre politique de confidentialité.

Produits associés