Webinaires Microscopie Electronique


Vous avez investi dans un microscope ZEISS ou vous êtes un nouvel utilisateur et vous souhaitez vous familiariser avec votre machine. Cette formation est faite pour vous ! A l'issue de ce webinaire, vous serez en mesure de :

  • Décrire les interactions électrons-matière
  • Comprendre la technologie et les composants de votre microscope
  • Aborder les notions de base en optique électronique pour la microscopie

Nous proposons aussi des formations sur site avec nos ingénieurs d’applications. Pour toute demande de formation, envoyez un mail à service.microscopy.fr@zeiss.com.
 

Introduction

Les microscopes électroniques à balayage (MEB) scannent un échantillon à l'aide d'un faisceau d'électrons focalisés et permettent d'obtenir des images contenant des informations sur la topographie et la composition de l'échantillon.

Les C-SEM (MEB conventionnels utilisant une source d'électrons thermoïonique) et les FE-SEM (MEB utilisant une source d'électrons à effet de champ) ZEISS garantissent une imagerie en haute résolution et un contraste supérieur des matières.

  • Informations en haute résolution sensible à la surface et contraste des matières.
  • Largement utilisés pour la nanotechnologie, la recherche sur les matériaux, les sciences de la vie, les semi-conducteurs, les matières premières et l'industrie.

 

Détails de la formation

Ce webinaire est une formation théorique interactive de 2h30, animée par un ingénieur d’application Zeiss France. Les sujets abordés sont :

1- Introduction et histoire de la microscopie électronique

2- Les interactions électrons-matière

a. Les différents types d’émissions

b. Propriétés des électrons et impact sur l’imagerie

3- Le microscope électronique

a. Architecture du microscope

b. Fonctionnement du canon à électron

c. Fonctions fondamentales du microscope (balayage, grandissement…)

d. Génération des images et aberrations

e. Fonctionnement des différents détecteurs

Pendant cette formation, nous aurons l’occasion d’échanger et de répondre à toutes les questions que vous pourriez avoir.
 

Agenda - Sessions

Formation théorique FE-SEM pour les microscopes Zeiss GeminiSEM, Sigma et Crossbeam

Ces sessions sont ouvertes à tous les utilisateurs possédant un microscope ZEISS de type GeminiSEM, Sigma ou Crossbeam (ou acquisition à venir). Plusieurs dates sont disponibles, à vous de choisir celle qui vous convient le mieux et de la reporter dans le formulaire d'inscription ci-dessous.

Formation théorique C-SEM pour les microscopes ZEISS EVO

Ces sessions sont ouvertes à tous les utilisateurs possédant un microscope ZEISS de type EVO (ou acquisition à venir). Plusieurs dates sont disponibles, à vous de choisir celle qui vous convient le mieux et de la reporter dans le formulaire d'inscription ci-dessous.

Vous souhaitez vous inscrire à l'une des formations théoriques FE-SEM pour les microscopes ZEISS GeminiSEM, Sigma et Crossbeam ?

Veuillez remplir le formulaire ci-dessous et préciser la date de webinaire souhaitée.

Une fois votre inscription effectuée et confirmée, vous recevrez les liens de connexions par email. Nos formateurs seront également susceptibles de vous contacter en amont de la formation pour mieux préciser votre besoin. 

Chargement du formulaire en cours...

Si vous souhaitez avoir plus d'informations sur la gestion des données chez ZEISS, merci de vous référer aux chartes de protection des données et mentions légales.

Vous souhaitez vous inscrire à l'une des formations théoriques C-SEM pour les microscopes ZEISS EVO ?

Veuillez remplir le formulaire ci-dessous et préciser la date de webinaire souhaitée.

Une fois votre inscription effectuée et confirmée, vous recevrez les liens de connexions par email. Nos formateurs seront également susceptibles de vous contacter en amont de la formation pour mieux préciser votre besoin.

Chargement du formulaire en cours...

Si vous souhaitez avoir plus d'informations sur la gestion des données chez ZEISS, merci de vous référer aux chartes de protection des données et mentions légales.