Logiciel pour capteurs optiques 3D

ZEISS colin3D

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ZEISS colin3D

Points forts

  • Parfait accord avec les capteurs optiques 3D de ZEISS Optotechnik
  • Génération rapide d'un maillage triangulaire
  • Comparaison de surfaces avec l’édition derapports
  • Traitement intuitif du maillage
  • Rapports de calibration
  • Suivi de la précision du système
  • Optimisation automatique de la qualité des mesures grâce à des critères intelligents  
Calcul rapide du maillage triangulaire par réduction des données

Calcul rapide du maillage triangulaire par réduction des données

Fonctionnalités innovantes

La plateforme logicielle ZEISS colin3D est conçue pour fonctionner de manière idéale avec les systèmes de capteurs COMET, COMET Photogrammetry et T-SCAN. Le programme identifie lui-même la meilleure stratégie pour fusionner des images individuelles (matching) et guide l'utilisateur à travers une interface entièrement repensée, orientée projet, pour obtenir le résultat optimal. Grâce à l'intégration de la CAO, l'utilisateur est informé en permanence des surfaces qu'il reste à numériser.

Performance maximale

Fondés sur des années d'expérience avec les systèmes d'exploitation 64 bits et le matériel correspondant comme les cartes graphiques et les systèmes multiprocesseurs, les nouveaux algorithmes utilisés dans ZEISS colin3D fournissent une performance et une qualité de données maximales.

Assistance utilisateur optimale

Le champ de mesure et le scanner peuvent être affichés par le programme ZEISS colin3D pour positionner le système ZEISS T-SCAN de manière rapide et efficace, et déterminer plus facilement la position idéale de la caméra par rapport à la pièce à mesurer. Les programmes de mesure pour les applications utilisant les plateaux tournants COMETrotary et COMETdual rotary peuvent être générés et exécutés aisément. Toutes les mesures individuelles effectuées dans une séquence de mesure font l'objet d'un contrôle qualité et sont répétées si besoin.

Comparaison simple par cartographie couleur des défauts

Comparaison simple par cartographie couleur des défauts

Fonctions d'analyse des données

Pour les applications d'assurance qualité, les données scannées peuvent être comparées aux données de surface d'un modèle CAO, en effectuant un simple ajustement des données (best fit). ZEISS colin3D propose une fonction cartographie couleur des défauts(color mapping). Pour analyser les écarts avec davantage de précision, l'utilisateur peut sélectionner des zones spécifiques sur la surface où placer des étiquettes . Les protocoles documentant les résultats de mesures sont générés et gérés de manière simple et rapide.