La tomographie à rayons X
WEBINAIRE

Tomographie par rayons X : détection de défauts par IA

Jeudi 24 septembre 2026

Webinaire | Tomographie par rayons X : détection de défauts par IA

L’utilisation de la tomographie par rayons X est devenue essentielle pour identifier les défauts internes. Cependant, les artefacts et le bruit compliquent souvent l’analyse. Dans ce webinaire de 30 minutes, nous détaillerons en direct sur le logiciel ZEISS Inspect X-ray, comment l’intelligence artificielle améliore la détection fiable des porosités.

Deux cas seront présentés : une pièce poreuse de fonderie aluminium et des BGA de carte électronique.

Au programme : 

  • Pourquoi utiliser de l'IA dans la recherche de défauts ? Aspect théorique 
  • Volume Inspection AI : une solution one-click : Live démo sur une pièce de fonderie aluminium
  • Volume Inspection AI : une solution qui s'adapte à vos pièces : Live démo sur une carte électronique 
  • Pour aller plus loin

Rejoignez-nous pour explorer ces nouvelles solutions par IA :

➡️ Jeudi 24 septembre à 9h30 - Durée 45 minutes

Au programme

La détection de défauts par IA
  • Utilisation de l'IA dans la recherche de défauts

    Aspect théorique de l'utilisation de l'IA dans l'inspection.

  • La solution Volume Inspection AI

    La nouvelle génération d'analyse des données de volume par IA

  • Live démo : pièce de fonderie en aluminium

    Recherche de défaut par IA sur une pièce de fonderie en aluminium.

  • Live démo : carte électronique

    Recherche de défaut par IA sur une carte électronique. 

Un webinaire animé par Thomas BEUVIER

Ingénieur d’application Rayons X, ZEISS Industrial Quality Solutions

Thomas Beuvier est ingénieur d'application chez ZEISS, spécialisé en tomographie et reconnu comme expert dans ce domaine depuis plus de dix ans. En tant que référent, il accompagne les clients dans l'optimisation de leurs processus grâce aux technologies avancées de ZEISS. Son expertise technique et sa compréhension approfondie des besoins industriels font de lui un acteur essentiel pour le succès des projets liés à la tomographie.

S'inscrire au webinaire

Pour vous inscrire au webinaire, merci de compléter le formulaire ci-dessous.

Chargement du formulaire en cours...

Si vous souhaitez avoir plus d’informations sur la gestion des données chez ZEISS, merci de vous référer à notre charte de confidentialité des données.