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Industrial Quality Solutions
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La tomographie à rayons X
WEBINAIRE

Les technologies avancées ZEISS sur MMT​

Mardi 8 septembre 2026
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Webinaire : Les technologies avancées ZEISS sur MMT​
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Webinaire : Les technologies avancées ZEISS sur MMT​

8 technologies qui accélèrent les mesures sur MMT

Dans un contexte industriel où les exigences de précision ne cessent de croître et les temps de cycle sont sous pression, la machine à mesurer tridimensionnelle reste l'outil de référence du contrôle qualité.

En 30 minutes, ce webinaire vous montre comment des technologies avancées, disponibles dès aujourd'hui, permettent de réduire drastiquement les temps de mesure, d'éliminer les compromis entre vitesse et précision, et de mesurer des pièces jusqu'ici impossibles à contrôler par les méthodes traditionnelles.

Que vous utilisiez déjà une MMT ou que vous réfléchissiez à moderniser votre contrôle qualité, cette session vous donnera des réponses concrètes et chiffrées.

Au programme : 8 technologies avancées ZEISS, présentées à travers des cas concrets : Scanning actif & FlyScan, VAST Navigator, VAST Probing, Plateau rotatif (RT), ZAS - Articulating Stylus, Rotos, LineScan et DotScan. 

Rejoignez-nous pour explorer ces solutions et optimiser la performance de vos équipements :

➡️ Mardi 8 septembre à 9h30 - Durée 30 minutes

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Au programme

8 technologies avancées sur MMT
  • Scanning actif & FlyScan

    Contrôle en continu de la force de mesure.

  • VAST Navigator

    Augmentation la vitesse de scanning sans perte de précision.

  • VAST Probing

    Réduction du temps de palpage de 63 % à 70 %, d'un simple clic.

  • Plateau rotatif (RT)

    Scanning 4 axes continu.

  • ZAS : Articulating Stylus

    Mesure de toutes les faces d'une pièce complexe sans multiplier les configurations de stylet.

  • Rotos

    Rugosité et ondulation mesurées directement sur la MMT.

  • LineScan

    Numérisation en 3D par laser pour mesure ou rétroconception.

  • DotScan

    Mesure en point à point ou scanning continu des pièces brillantes, souples ou transparentes.

Un webinaire animé par Mickael CICHONSKI

Applications & Project Manager - CMM, Scan 3D, ZEISS Industrial Quality Solutions

Mickaël Cichonski est spécialisé en métrologie dimensionnelle et reconnu comme expert des technologies avancées sur MMT. En tant que référent technique, il accompagne les clients dans l'optimisation de leurs processus de contrôle qualité grâce aux solutions ZEISS. Son expertise approfondie des capteurs, des stratégies de mesure et des fonctionnalités logicielles, combinée à sa connaissance des contraintes industrielles, font de lui un interlocuteur privilégié pour tous les projets visant à améliorer la performance et la productivité sur MMT.

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