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Industrial Quality Solutions
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ÉVÉNEMENT

Journée technique ZEISS Inspect

2 juillet 2026 | Sablé-sur-Sarthe
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Journée technique ZEISS Inspect

Vous utilisez ZEISS Inspect et vous souhaitez approfondir vos compétences sur des cas d'usage concrets ?

ZEISS vous invite à une journée technique centrée sur les capacités du logiciel ZEISS Inspect.

Formule « portes ouvertes » : venez le matin, l'après-midi ou toute la journée selon vos disponibilités !
🕐 Horaires flexibles : à partir de 8h30 – Choisissez vos créneaux librement

6 ateliers interactifs de 30 minutes au choix

Nos experts vous présenteront des cas d'usage concrets couvrant un large spectre d'applications : de l'automatisation du contrôle 3D avec les systèmes optiques ZEISS, à l'analyse tomographique par rayons X de pièces du domaine médical, en passant par l'inspection d'assemblages multi-échelles et l'analyse santé-matière assistée par intelligence artificielle ou encore comment relier les résultats de mesure provenant de différentes machines avec le logiciel ZEISS PiWeb.

Modalités pratiques

  • Date : jeudi 2 juillet 2026
  • Lieu : ZEISS Quality Excellence Center à Sablé-sur-Sarthe (72)
  • Horaire : à partir de 8h30
  • Formule flexible : participez à un ou plusieurs ateliers selon vos besoin
  • Créneaux au choix : matin, après-midi ou journée complète
  • Déjeuner sur place : possibilité de déjeuner avec les équipes ZEISS et les autres participants

L'inscription est obligtatoire et gratuite. 

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Le programme des ateliers

X-Ray, Scanners 3D optiques & PiWeb

  • Atelier 1 | Contrôle 3D automatisé pour l'atelier

    Mesure 3D sur des cas d’inspection dimensionnelle automatisée, permettant des mesures en atelier sur une Scanbox 5120 pilotée par ZEISS Inspect et module VMR.

  • Atelier 2 | Métrologie dimensionnelle rapide par scanner 3D sans contact

    Numérisation et inspection dans ZEISS Inspect par TSCAN hawk 2 et ATOS Q-ScanPort pour l’enquête en atelier et le contrôle en laboratoire de métrologie.

  • Atelier 3 | Métrologie par rayons X

    Tomographie sur un METROTOM 800-G2 de 8 pièces du domaine médical avec contrôle dimensionnel complet et automatisé dans ZEISS Inspect X-ray. 

  • Atelier 4 | Analyse d’assemblage multi-échelle

    Tomographie sur un METROTOM 1500-G3 et sur un Xradia Versa 620 d’une pile LR41 avec analyse d’assemblage sur ZEISS Inspect X-ray.

  • Atelier 5 | Analyse santé-matière

    Tomographie sur un METROTOM 1500-G3 d’une pièce de fonderie aluminium présentant des porosités avec analyse santé matière par intelligence artificielle dans ZEISS Inspect X-ray.

  • Atelier 6 | Centralisation des données dans PiWeb

    Rapports et traitement des données mesurées depuis les machines de mesure du QEC dans ZEISS Inspect via PiWeb.

Inscription Journée technique ZEISS Inspect

Jeudi 2 juillet à Sablé-sur-Sarthe

Si plusieurs collaborateurs de votre entreprise souhaitent participer à notre événement, merci de compléter un formulaire d'inscription par personne avec un email différent par personne.

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Si vous souhaitez avoir plus d’informations sur la gestion des données chez ZEISS, merci de vous référer à notre charte de confidentialité des données.

Plan d'accès

ZEISS Quality Excellence Center - Sablé-sur-Sarthe

QEC Sablé-sur-Sarthe 25 Rue Saint-Blaise 72300 Sablé-sur-Sarthe France
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