![Journée Technique - ENSAM, Aix-en-Provence]({"xsmall":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","small":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","medium":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original./banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","large":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original./banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original./banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original./banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg","max":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/demo--presentations/banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg/_jcr_content/renditions/original./banner_lp_jt_ensam_768x768.jpg"})
Microscopie multi-échelle
Une synergie entre innovation technologique et analyse des données pour vos matériaux- 00 années
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Nous sommes ravis de vous inviter à la prochaine journée technique ZEISS, organisée à l'École Nationale Supérieure des Arts et Métiers d'Aix-en-Provence.
L’analyse des matériaux s’appuie aujourd’hui sur une pluralité de technologies d'imagerie complémentaires, rendant essentielle la corrélation des informations issues de différentes échelles et modalités d’imagerie. Cet évènement sur le thème "Microscopie multi-échelle : une synergie entre innovation technologique et analyse des données pour vos matériaux" sera ainsi dédié aux nouvelles approches en microscopie corrélative, combinant imagerie optique, microscopie électronique, rayons X et analyse avancée des données.
Cette journée sera l'occasion d'assister à des retours d'expérience d'utilisateurs ainsi que des conférences scientifiques et techniques données par les spécialistes produits ZEISS.
L'après-midi sera libre, consacrée aux ateliers de démonstration, sur les systèmes suivants :
- ZEISS Axioscope 7 : Microscope pour l'acquisition et l'automatisation
- ZEISS Smartzoom 100 : Inspection par microscopie numérique
- Logiciel ZEISS Zen core : comparez l'analyse d'image conventionnelle aux nouveaux modules basés sur l'Intelligence Artificielle
- Logiciel ZEISS Inspect XRay : analyse de tomographie à rayons X
Retrouvez-nous le mardi 30 juin à partir de 9h, à l'ENSAM Aix-en-Provence :
Arts et Métiers ParisTech
2 Cour des Arts et Métiers
13617 Aix-en-Provence
Agenda
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Programme
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09:00 - 09:30 |
Accueil café & Introduction |
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09:40 - 10:45 |
Réinventer la microscopie multi échelle : acquisition programmée et analyse guidée par l’IA Franck Leleux & Guillaume Audoit, spécialistes produits - ZEISS |
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10:45 - 11:15 |
Pause café |
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11:15 - 11:45 |
Inspection par rayons X pour l'analyse des matériaux |
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11:45 - 12:15 |
Focus sur les expérimentations en tomographie avec le METROTOM 1500 sur le campus de Châlons-en-Champagne |
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12:15 - 13:15 |
Cocktail déjeunatoire |
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13:15 - 15:00 |
Ateliers de démonstration : Microscopie :
Logiciels :
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