![Webinaire Analyse d'images en microscopie électronique]({"xsmall":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","small":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","medium":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.591.591.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","large":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.591.591.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","xlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.591.591.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","xxlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.591.591.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png","max":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/zeiss-formation123.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.591.591.93,0,684,591.file/zeiss-formation123.png"})
Webinaire
Microscopie électronique - Analyse d’images en science des matériaux
De l’approche classique à l’Intelligence Artificielle
Vous utilisez un microscope électronique et vous recherchez à automatiser l’acquisition et le traitement de vos images ? Alors ne manquez pas notre prochain webinaire !
Cette session montrera comment les solutions ZEISS peuvent simplifier et fiabiliser vos analyses grâce à l'intelligente articielle. Optimisez vos workflows d'analyse des matériaux et découvrez les innovations en matière d’automatisation et d’IA.
Cette session montrera comment les solutions ZEISS peuvent simplifier et fiabiliser vos analyses grâce à l'intelligente articielle. Optimisez vos workflows d'analyse des matériaux et découvrez les innovations en matière d’automatisation et d’IA.
Starting soon
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![Remy Berthier]({"xsmall":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/remy_berthier.jpg","small":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/remy_berthier.jpg","medium":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original./remy_berthier.jpg","large":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original./remy_berthier.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original./remy_berthier.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original./remy_berthier.jpg","max":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinaire-microscopie-electronique/remy_berthier.jpg/_jcr_content/renditions/original./remy_berthier.jpg"})
Intervenant
Remy Berthier, PhD
Ingénieur Applications ZEISS Research Microscopy Solutions
Résumé
Dans ce webinaire, nous verrons comment simplifier et fiabiliser l’analyse des matériaux, de l’analyse d’images traditionnelle jusqu’aux nouveaux outils d’Intelligence Artificielle. En abordant des applications concrètes, nous verrons comment ZEISS automatise l’acquisition et le traitement d’images pour accélérer l’obtention des résultats.
Les points suivants seront abordés :
- Les principaux outils de segmentations et de mesures automatiques
- Les analyses de taille de grains, d'épaisseur de couches, de porosités, et analyses multi-phases
- Les approches classiques et les nouvelles méthodes assistées par IA
Vous découvrirez qu’en combinant ces approches, il est aujourd’hui possible de réduire la complexité des acquisitions tout en maximisant la qualité et la répétabilité des résultats.
Rendez-vous le vendredi 11 septembre de 9h30 à 10h15.
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