![EVO SmartSEM Touch]({"xsmall":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/evo-smartsem-touch.png","small":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/evo-smartsem-touch.png","medium":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/evo-smartsem-touch.png","large":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original./evo-smartsem-touch.png","xlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original./evo-smartsem-touch.png","xxlarge":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original./evo-smartsem-touch.png","max":"https://www.zeiss.fr/content/dam/rms/countries/france/local/events/webinaires/webinar-evo-en/evo-smartsem-touch.png/_jcr_content/renditions/original./evo-smartsem-touch.png"} "EVO SmartSEM Touch")
Webinaire ZEISS EVO Microscope ZEISS EVO, le MEB le plus performant pour les applications en science des matériaux.
Vous souhaitez en savoir plus sur le microscope électronique à balayage ZEISS EVO et sur la manière dont il peut vous aider dans vos applications courantes d'inspection et d'analyse ?
Participez à notre webinaire du jeudi 22 janvier 2026 à 9h30 et découvrez les nouvelles fonctionnalités ainsi que des cas d'utilisation avec les experts ZEISS en ligne.
Au programme :
Webinaire sur le microscope électronique ZEISS EVO
Faites passer votre SEM conventionnel au niveau supérieurDécouvrez le microscope électronique à balayage conventionnel ZEISS EVO, le microscope électronique à balayage le plus qualifié pour les applications en science des matériaux : facile et intuitif à utiliser.
Conçu spécialement pour les applications de contrôle et d'analyse de routine, ZEISS EVO excelle en offrant un concept opérationnel qui séduit non seulement les microscopistes expérimentés, mais aussi les techniciens qui ne sont pas des experts en microscopie électronique à balayage. Il fournit des données de haute qualité, les meilleures de sa catégorie, en particulier pour les pièces non conductrices qui ne peuvent pas être recouvertes d'une couche conductrice en raison d'exigences de contrôle ultérieur.
Une caractéristique vraiment unique de l'EVO est son intégration transparente dans un flux de travail multimodal comprenant des microscopes optiques et diverses techniques d'analyse sur différents systèmes, laboratoires ou même sites.
Une valeur ajoutée au-delà des applications SEM courantes : analyse corrélative des particules
SmartPI sur l'EVO, associé aux analyseurs de particules par microscopie optique ZEISS, permet un flux de travail corrélatif, dans lequel les microscopes optiques détectent la taille des particules, différencient leur forme et classifient les particules métalliques, avant que l'EVO ne prenne le relais pour mesurer la composition élémentaire des particules métalliques. Ce flux de travail hautement efficace permet non seulement de détecter les particules, mais aussi de les classer en fonction de leur taille, de leur forme et de leur origine probable (contamination ou usure).
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Rendez-vous le 22 janvier à 9h30 !Veuillez remplir le formulaire ci-dessous avec vos coordonnées. Une fois inscrit, vous recevrez un e-mail de confirmation contenant un lien vers la page d'inscription au webinaire.