Workshop - ZEISS On Your Campus
CEA de Grenoble, jeudi 30 janvier 2020
PRESENTATION DU MEB-FIB ZEISS CROSSBEAM
Utilisation en mode Cryo et Approche Corrélative (Microscopie Optique – MEB/FIB)
Nous avons le plaisir de vous inviter au prochain workshop ZEISS, qui aura lieu le 30 janvier 2020 dans les locaux du CEA de Grenoble (amphithéâtre IRIG, bâtiment 10.05)
Ce workshop sera centré sur les applications du très versatile MEB-FIB Crossbeam, à température ambiante et à basse température (Cryo) pour l’imagerie (2D/3D) et la préparation de lames TEM.
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CROSSBEAM 550
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CROSSBEAM TOF-SIMS
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MICROSCOPE OPTIQUE CRYO
Acteur moteur de nouvelles technologies, ZEISS propose une large gamme de microscopes automatisés permettant un accès simple et autonome à l’imagerie de pointe.
Venez découvrir notre workflow corrélatif permettant d’exploiter la complémentarité entre microscopes Optiques, Confocaux, Rayons X et MEB-FIB qui sera présenté au travers de différents exemples concrets.
Enfin, de nouveaux périphériques du Crossbeam seront brièvement introduites, comme la spectrométrie de masse (SIMS, TOF-SIMS).
Nous sommes impatients de vous rencontrer lors de cet évènement.
Les équipes de ZEISS Microscopie et du CEA Grenoble.
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From Cryo light to Cryo Crossbeam / Cryo Airyscan guiding Crossbeam (C.elegans embryos)
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Inscription pour ZEISS On Your Campus
CEA Grenoble, 30 janvier 2020
Nous vous confirmons votre inscription. Vous recevrez ultérieurement un email de confirmation avec plus de détails.
Programme du ZOYC
Orateur : Andreas Schertel (Carl ZEISS)
A- High resolution Imaging and Nanoanalytics with ZEISS Crossbeam.
B- Correlative workflows open new possibilities for Cryo-Microscopy
Antonio Casares, Carl Zeiss Microscopy, Carl Zeiss Str. 22, 73447 Oberkochen, Germany