La solution optique avec la touche en plus ZEISS O-INSPECT

La symbiose parfaite entre l'optique et le tactile

ZEISS O-INSPECT

Les machines de mesure multicapteurs ZEISS O-INSPECT mesurent chaque caractéristique de manière optimale conformément à la norme ISO-10360, en optique et en tactile.

Leurs avantages :
  • Un champ de vision large avec des images en haute résolution.
  • Des mesures tactiles 3D rapides et précises.
  • Des mesures optiques pour les surfaces sensibles.
  • Une fiabilité accrue en moins de temps.
Fonctions
Grand champ visuel à haute définition d'image

Le capteur caméra ZEISS Discovery.V12 offre un grossissement variable, tandis que les nouvelles options rendent possible une résolution accrue pour saisir les moindres détails

Mesures tactiles 3D rapides et précises

Le ZEISS VAST XXT permet un balayage de haute précision grâce à sa capacité d'enregistrer un grand nombre de points de mesure en un seul mouvement, une performance unique dans cette catégorie d'équipement.

Mesures optiques pour les surfaces sensibles

Le ZEISS DotScan permet de capturer la topographie de la pièce à mesurer sans le moindre contact. Disponible en option pour les surfaces sensibles, réfléchissantes ou à faible contraste, qui rendent difficile l'utilisation d'autres capteurs.

Lumière circulaire

L'éclairage annulaire se compose de quatre anneaux munis de seize LED bleues et de seize LED rouges qui se commandent individuellement en huit segments. Associées au système optique synchronisé, les LED de couleur permettent à l'opérateur de filtrer la lumière ambiante parasite et d'éclairer par exemple des matériaux colorés avec un niveau de contraste élevé.

La précision de tous les côtés

Le plateau tournant en option dote le ZEISS O-INSPECT d'un axe de rotation programmable et permet d'inspecter les caractéristiques d'une pièce sous tous les angles. Vous avez la possibilité de l'intégrer dans une palette pour obtenir différentes positions et réduire le temps de configuration.

Une fiabilité accrue en moins de temps

Le système de palettes intégré équipé d'une interface pour la saisie automatique de la température vous permet de gagner du temps tout en garantissant une meilleure fiabilité.

Rapports professionnels et exploitables

ZEISS PiWeb reporting plus propose une fonction de visualisation et de documentation de vos données de mesure en un clic, vous permettant ainsi d'obtenir des informations utiles sur vos pièces et vos processus.

Des logiciels adaptés à chaque application

ZEISS CALYPSO offre des options de visualisation améliorées pour vous faire gagner du temps. Vous pouvez afficher des modèles CAO en superposition et repérer rapidement les éventuels écarts (RÉEL par rapport à la CIBLE). Avec ses nombreuses options, ZEISS CALYPSO vous offre des outils parfaitement adaptés à vos besoins.

Une optique d'exception

Champ de vision large

Des images en haute définition

Le ZEISS Discovery.V12 est une caméra de la gamme ZEISS Research Microscopy Solutions. Il possède un champ de vision 4 fois plus large que les objectifs standards et obtient des images d'une excellente résolution, même en périphérie. Le résultat ? Des mesures de très haute précision obtenues en un temps record.

Contraste optimal

Le système d'éclairage du ZEISS O-INSPECT

Une image à haut contraste est nécessaire pour des résultats précis. Le ZEISS O-INSPECT dispose d'un système d'éclairage très polyvalent. Des formes, des textures et des couleurs de surface extrêmement différentes peuvent être éclairées de façon à obtenir divers angles d'incidence pour accentuer les arêtes.

Technologie multicapteur

Mesures tactiles

Le choix idéal pour des mesures de haute précision. Les capteurs tactiles du ZEISS VAST XXT palpent la surface du composant, point par point. Le palpage en continu, scanning, fournit donc des informations plus précises sur la forme des éléments géométriques.

Mesures optiques

Le zoom du ZEISS Discovery.V12 offre un large champ d'observation sans distorsion pour des résultats d'une précision excellente et une réduction significative de la durée de la prise de mesures.

Lumière blanche

Le ZEISS DotScan est un capteur chromatique de lumière blanche qui permet de capturer la topographie de la pièce à mesurer sans le moindre contact. Il est généralement utilisé sur les surfaces sensibles, réfléchissantes ou à faible contraste qui rendent l'utilisation d'autres capteurs optiques difficile.

Logiciel

Un logiciel unique pour tous vos besoins de mesure

Avec le ZEISS O-INSPECT, pas de demi-mesure pour le logiciel. Il fonctionne avec ZEISS CALYPSO 2020, le logiciel utilisé sur toutes les autres machines de mesure tridimensionnelle ZEISS. Grâce à son large éventail de fonctions et son utilisation universelle intuitive, ZEISS CALYPSO 2020 offre une flexibilité optimale. La vitesse de mesure accrue (6 fois plus rapide) vous permet de travailler rapidement et d'effectuer facilement une large gamme de mesures avec différents types de capteurs utilisés de manière identique.

ZEISS O-INSPECT

La gamme multicapteur ZEISS O-INSPECT fournit des mesures 3D fiables conformes aux normes ISO dans une plage de températures allant de 18 à 30 °C.
O-INSPECT 322: Volume de mesure [dm] 3/2/2; O-INSPECT 543: Volume de mesure [dm] 5/4/3; O-INSPECT 863: Volume de mesure [dm] 8/6/3

ZEISS O-INSPECT 3/2/2

300x200x200 mm³

ZEISS O-INSPECT 5/4/3

500x400x300 mm³

ZEISS O-INSPECT 8/6/3

800x600x300 mm³

Caractéristiques techniques pour ZEISS O-INSPECT

ZEISS O-INSPECT 3/2/2

ZEISS O-INSPECT 5/4/3

ZEISS O-INSPECT 8/6/3

Caméra

ZEISS Discovery.V12

ZEISS Discovery.V12

ZEISS Discovery.V12

Volume de mesure

300x200x200 mm3

500x400x300 mm3

800x600x300 mm3

Champ de vision

min

16,1x12,0 mm3

16,1x12,0 mm2

16,1x12,0 mm2

max

1,3x1,0 mm2

1,3x1,0 mm2

1,3x1,0 mm2

Erreur de mesure de longueur MPE(E)

en 1D

1,6 µm+L/200 µm

1,4 µm+L/250 µm

1,5 µm+L/250 µm

en 2D

1,9 µm+L/150 µm

1,6 µm+L/250 µm

1,8 µm+L/250 µm

en 3D

2,4 µm+L/150 µm

1,9 µm+L/250 µm

2,2 µm+L/250 µm

Logiciel

ZEISS CALYPSO

ZEISS CALYPSO

ZEISS CALYPSO

Le temps de respirer

Découvrez comment whr Hossinger a réduit le temps de mesure avec ZEISS O-INSPECT