Verre architectural

  • Introduction

    Le verre est l'un des matériaux les plus en vogue pour les bâtiments partout dans le monde. Il offre un confort élevé et une ambiance agréable dans la vie quotidienne et l'environnement de travail. Combiné avec les technologies de revêtement sophistiquées, le verre possède des caractéristiques très utiles : Le transfert de chaleur est réduit en vue d'une efficacité énergétique maximale dans les logements et les bureaux. Cela contribue à protéger l'environnement et à réduire les coûts. Un facteur de transmission élevé crée des pièces lumineuses, inondées de lumière. Pour un aspect neutre ou un design personnalisé, les couleurs peuvent également être ajustées dans le panneau en verre.

    La complexité de ces revêtements nécessite un contrôle constant et fiable du procédé de production. Des paramètres tels que la réflectance et les spectres de transmission, les valeurs de couleur et l'épaisseur de couche doivent être surveillés avec précision sur de longues périodes avec une fréquence de mesure élevée. Cela nécessite des systèmes de surveillance « in-line » fiables et robustes dans les environnements difficiles, par exemple dans les lignes de flottage ou à l'intérieur du dispositif d'enduction sous vide.

  • Famille OPTOPLEX®

    La famille OPTOPLEX® est une solution pour les mesures de qualité « in-line » d'une large gamme de revêtements en film mince parallèlement à la ligne de production industrielle complète du verre architectural. Chaque système est conçu individuellement pour mesurer les revêtements sur les panneaux en verre à l'intérieur du dispositif d'enduction sous vide. Après avoir achevé toutes les étapes de revêtement dans le dispositif d'enduction, le facteur de transmission et la réflectance sont mesurées avec un système traversé à l'extérieur du dispositif d'enduction sur toute la largeur des panneaux de verre – pour le contrôle qualité afin de garantir un résultat impeccable.

    Avantages

    • Vitesse de mesure élevée
    • Surfaces enduites > 5 m2
    • Correspondance précise des différentes positions, même après des années d'utilisation
    • Adaptation aisée à l'évolution des exigences
    • Accès aux données en temps réel
    • Modes graphiques faciles à lire
    • Intégration dans la couche d'automatisation via OPC, Profibus, E/S numériques et base de données SQL
    • Conception modulaire pour ajouter des positions de mesure ou élargir le spectre
    • Auto-étalonnage, auto-déclenchement et synchronisation
    • Placement optique à l'intérieur ou à l'extérieur de la chambre à vide
    • Configuration et formation au système par ZEISS

     

    OPTOPLEX® est une marque déposée de Leybold Systems GmbH et de Applied Materials GmbH & Co. KG
     

  • Procédé « in-line »

    Procédé « in-line » (fka OPTOPLEX® 4 in-line)

    OPTOPLEX® 4 in-line est un système de surveillance des procédés de revêtement transparent dans un environnement scellé sous vide. Le système permet de réaliser des mesures « in-line » en utilisant les têtes de sondes fixes, ce qui offre la possibilité d’étalonner le système dans les interstices entre les disques qui défilent au-dessous de celui-ci. Les résultats de la mesure comprennent la réflexion spectrale, la transmission ainsi que le calcul des valeurs de couleur et des épaisseurs de revêtement.

    Caractéristiques techniques
    • Mesure de la transmission spectrale (380 nm-1 100 nm ; 1 700 nm sur demande)
    • Mesure de la réflectivité spectrale (380 nm-1 100 nm ; 1 700 nm sur demande)
    • En option, capteurs de courants de Foucault transversaux « in-line » (fka OPTOPLEX® Q NG)

    Procédé « in-line » (fka OPTOPLEX® Q NG)

    La justification des résultats et la validation de la qualité des produits finaux après le procédé de revêtement sont une nécessité absolue. OPTOPLEX® Q NG autorise plusieurs modes de balayage automatique pour la transposition des positions pré-sélectionnées sur le produit final. L'utilisateur peut facilement déterminer les paramètres de mesure sans connaissances spécialisées supplémentaires. Le système peut être livré soit sous la forme d'une configuration transversale complète, soit sous la forme d'une tête de mesure à point unique.

    Caractéristiques techniques
    • Mesure de la transmission spectrale (365 nm-1 100 nm ; 1 700 nm sur demande)
    • Mesure de la réflectivité spectrale (365 nm-1 100 nm ; 1 700 nm sur demande)
    • Capteurs de courant de Foucault en option
    • En option, tête de mesure OFR155 option pour l'aspect optique, observation sous un angle de 55°

    OPTOPLEX® est une marque déposée de Leybold Systems GmbH et de Applied Materials GmbH & Co. KG

  • ThinProcess®

    Le système de contrôle de procédé ThinProcess® est la solution autonome rapide et efficace de métrologie « in-line » des propriétés du revêtement de surface. Il mesure l'épaisseur du revêtement de film mince, détermine la région des limites supérieures de réflexion et calcule les valeurs colorimétriques. Réglable facilement et individuellement, ThinProcess® s'adapte dans les procédés de revêtement existants ou nouvellement conçus.

    Avantages
    • Contrôle de procédé « in-line »
    • Des boîtiers de protection supplémentaires sont inutiles
    • Facile à installer et à intégrer
    • Interface configurable
    • Fonctionnement piloté par recette pour des changements de produit faciles
    • Analyse rapide et précise à la pleine vitesse de traitement
    • Archivage des données
    • Grande taille de point pour un contrôle de procédé « in-line » rapide et précis des surfaces microstructurées
    • La spectroscopie d'émission optique stabilise le plasma dans la chambre à vide
    Caractéristiques techniques
    Nombre de couches  > 2 (suivant la pile de couches) 
    Fréquence d'échantillonnage  Jusqu'à 20 mesures/s 
    Plage de mesure  0,40 µm – 25 µm | 0,25 µm – 100 µm (en option) 
    Accès aux données  Fichier CSV, OPC, ES numériques (SQL sur demande) 
    Intégration  Ethernet, PROFIBUS
  • Téléchargement
Nous utilisons des cookies sur ce site Internet. Les cookies sont de petits fichiers textes enregistrés sur votre ordinateur par des sites Internet. Les cookies sont largement répandus et permettent d'optimiser la présentation des pages Web et de les améliorer. En continuant à naviguer sur ce site, vous déclarez accepter les cookies.
OK