ThinProcess®
reliabilityMADE BY ZEISS

Système de spectrométrie en ligne de ZEISS

À la hauteur de tous les défis.

reliabilityMADE BY ZEISS

Systèmes de contrôle en ligne ThinProcess®

(anciennement OPTOPLEX®)

  • Haute précision en condition de procédé
  • Haute fréquence de mesure
  • Introduction

    ThinProcess® est le développement conséquent de la famille reconnue et bien établie de systèmes OPTOPLEX®.

    Avec l’introduction de ThinProcess®, vous disposez d’une solution ZEISS complète pour le contrôle des procédés de revêtement de grandes surfaces, capable de vous donner des informations sur la qualité de vos produits au cours de la fabrication, et ce avec la précision des systèmes de laboratoire.

    L’utilisation de nos logiciels modernes permet à la famille de systèmes d’intégrer entièrement les toutes nouvelles têtes de mesure ZEISS. Celles-ci satisfont les exigences en matière de certitude, à savoir la fiabilité de mesure depuis le laboratoire à la ligne de production.

     

    ThinProcess® offre des solutions de contrôle de processus en ligne pour tous les procédés du revêtement de grandes surfaces :

    Revêtement en verre horizontal ou vertical
    Film de revêtement à rouleaux couplés
    Sous vide ou
    sous atmosphère

    Tous les membres de la famille ThinProcess® :

    • Mesure de la réflectance spectrale et de la transmission ainsi que de la résistance de couche, selon le matériel disponible.
    • Calcul des valeurs chromatiques, des épaisseurs de couche et d’autres paramètres à partir des spectres.
    • Extension modulaire possible.

    Caractéristiques particulières de la famille ThinProcess® :

    • Haute précision en condition de procédé
    • Haute fréquence de mesureInterface logicielle flexible et claire pour tous les cas d’application
    • Intégration dans la couche d’automatisation via OPC DA, PROFIBUS, PROFINET, ETHERNET I/P et autres, base de données Digital I/O et SQL
    • Modèle de données et d’automatisation continu pour tous les cas d’application de la ligne de production
    • Mise en service et formation par ZEISS
  • ThinProcess® P

    ThinProcess® P est un système de spectrométrie à canal unique ou multicanal qui mesure les caractéristiques optiques après une ou plusieurs étapes de revêtement.

    Les substrats discrets sont reconnus automatiquement et les interstices sont utilisées pour le déclenchement automatique et le référencement.

    La mesure peut être effectuée sous vide ou sous atmosphère.  

    Applications :

    Verre architectural
    Verre automobile
    Verre d’affichage
    Verre solaire
    Cellules solaires à couches minces

    Features :

    • Mesure de la transmission et de la réflectance spectrale (380 nm - 1.050 nm)
    • Calculs et évaluations disponibles :

    - Couleur
    - Épaisseur de couche
    - Analyse de couche
    - Évaluation du spectre
    - Absorbance / absorptance
    - Caractéristique solaire
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Statistique de lots, Cpk & Cp
    - Extension possible via langage de script

     

    Options :

    • Intervalle de longueur d’onde élargi (jusqu’à 1.650 nm)
    • Mesure de la résistance de couche
  • ThinProcess® Q

    ThinProcess® Q est un système de spectrométrie transversal qui mesure les propriétés optiques du produit fini.

    Le système vous offre plusieurs modes de balayage automatiques pour la mesure de positions prédéfinies sur le produit final.

    Applications :

    Verre architectural
    Verre automobile
    Verre d’affichage
    Verre solaire
    Cellules solaires à couches minces

    Features :

    • Mesure de la transmission et de la réflectance spectrale (365 nm - 1.050 nm)
    • Calculs et évaluations disponibles :

    - Couleur
    - Épaisseur de couche
    - Analyse de couche
    - Évaluation du spectre
    - Absorbance / absorptance
    - Caractéristique solaire
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Statistique de lots, Cpk & Cp
    - Extension possible via langage de script

     

    Options :

    • Intervalle de longueur d’onde élargi (jusqu’à 1.650 nm ou 2.150 nm)
    • Mesure de la résistance de couche
    • Mesure de couleur sous un angle de 55° 
  • ThinProcess® R

    ThinProcess® R est un système de spectrométrie à canal unique ou multicanal qui mesure les caractéristiques optiques après une ou plusieurs étapes de revêtement.

    La mesure et le référencement sont déclenchés par la commande du système via Digital I/O ou le signal du bus de terrain.

    La mesure peut être effectuée sous vide ou sous atmosphère.

    Applications :

    Verre architectural
    Verre automobile
    Verre d’affichage
    Verre solaire
    Cellules solaires à couches minces

    Features :

    • Mesure de la transmission et de la réflectance spectrale (380 nm - 1.050 nm)
    • Calculs et évaluations disponibles :

    - Couleur
    - Épaisseur de couche
    - Analyse de couche
    - Évaluation du spectre
    - Absorbance / absorptance
    - Caractéristique solaire
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Statistique de lots, Cpk & Cp
    - Extension possible via langage de script

     

    Options :

    • Intervalle de longueur d’onde élargi (de 365 nm, à 1.650 nm ou 2.150 nm)
    • Mesure de la résistance de couche
  • ThinProcess® WEB

    ThinProcess® WEB est un système de spectrométrie à canal unique ou multicanal qui mesure les caractéristiques optiques après une ou plusieurs étapes de revêtement dans les installations de revêtement de bande.

    Le régime de mesure peut être entièrement intégré dans le concept d’automatisation de la machine.

    La mesure peut être effectuée sous vide ou sous atmosphère.

    Applications :

    Film d’emballage
    Film d’affichage
    Verre mince
    Bandes en métal
    OLED, électronique flexible
    Cellules solaires à couches minces
    Dispositifs de sécurité, hologramme

    Features :

    • Mesure de la transmission et de la réflectance spectrale (380 nm - 1.050 nm)
    • Calculs et évaluations disponibles :

    - Couleur
    - Épaisseur de couche
    - Analyse de couche
    - Évaluation du spectre
    - Absorbance / absorptance
    - Caractéristique solaire
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Statistique de lots, Cpk & Cp
    - Extension possible via langage de script

     

    Options :

    • Intervalle de longueur d’onde élargi (de 340 nm à 1.650 nm ou de 365 nm à 2.150 nm)
    • Mesure de la résistance de couche
  • Logiciel

    La famille ThinProcess® est soutenue par le logiciel ThinProcess®. 

    Grâce à ce logiciel de surveillance basé sur des processus, les propriétés spectrales peuvent être affichées et les différents paramètres de couche tels que les valeurs chromatiques ou l’épaisseur de couche peuvent être calculés. 

    Le logiciel s’oriente sur votre scénario d’application de manière conséquente pour que vous ne puissiez voir que les informations pertinentes à votre application. Vous pouvez utiliser des outils distincts pour ajuster la configuration correspondante. 

    Ce logiciel vous permet de configurer aussi bien vos propres calculs que l’affichage des résultats. Les mesures peuvent être affichées, entre autres, sous forme de valeurs, tendances ou répartitions.

    Les données sont stockées dans des fichiers CSV et dans une base de données SQL.

    Calculs et évaluations disponibles :

    • Couleur
    • Épaisseur de couche
    • Analyse de couche
    • Évaluation du spectre
    • Absorbance / absorptance
    • Caractéristique solaire (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    • Statistique de lots, Cpk & Cp
    • Extension possible via langage de script

    Le logiciel ThinProcess® dispose de :

    • Diverses fonctions d’alarme, c.à.d. avertissement automatique en cas de dépassement des valeurs limites (définition des valeurs limites et niveaux d’alerte).
    • Un module optionnel d’historique des données.
    • Intégration parfaite de SCOUT (un logiciel d’analyse des couches sur la base d’un modèle) ainsi que des modèles chimiométriques.   

OPTOPLEX® est une marque déposée de Leybold Systems GmbH et Applied Materials GmbH & Co. KG.

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