Thin layer analysis with FilmDetect®
Le système de contrôle de procédé FilmDetect® est la solution autonome rapide et efficace de métrologie « in-line » des propriétés du revêtement de surface. Il mesure l'épaisseur du revêtement de film mince, détermine la région des limites supérieures de réflexion et calcule les valeurs colorimétriques. Réglable facilement et individuellement, FilmDetect® s'adapte dans les procédés de revêtement existants ou nouvellement conçus.
FilmDetect® a été conçu pour une utilisation sur votre bureau ou entièrement intégré dans votre ligne de production. Il est basé sur nos solides spectromètres à réseau de diodes, fiables et compacts. Il vous permet d'économiser du temps et de l'argent grâce à la surveillance de procédé en ligne et lors de toutes vos tâches routinières quotidienne.