Produits de microscopie à rayons X recommandés pour la recherche sur les matériaux et l'industrie

Microscopie à rayons X

Xradia Versa : Repoussez les limites de la science

Obtenez le maximum d'informations de votre échantillon et effectuez des mesures 4D et in situ – soit avec la microscopie à rayons X (XRM) seule, soit en combinaison avec d'autres techniques de microscopie corrélative électronique et optique que permet l'imagerie 3D XRM non destructive à haute résolution. Les solutions Xradia Versa permettent des avancées considérables dans la recherche en sciences des matériaux, en énergie, en électronique et dans d'autres domaines de recherche de premier plan avec l'imagerie non destructive l'analyse quantitative 3D. La microscopie à rayons x est votre méthode d'imagerie, compléter et accroître l'efficacité des techniques traditionnelles. Dans la recherche en sciences des matériaux, vous utilisez Xradia Versa pour l'analyse des défaillances de l'évolution microstructurale 4D, pour étudier l'itération entre les expériences physiques et les modèles de calcul, pour étudier des dispositifs sous conditions opérationnelles et plus encore.

Flexible. Intégrée. Non destructive.

  • Imagerie non destructive à rayons X pour l'étude 3D et de l’intérieur des échantillons précieux.
  • La meilleure résolution spatiale du marché : 700 nm, avec des tailles de voxel disponibles inférieures à 100 nm. La résolution à distance pour une vaste gamme de tailles d'échantillon assure en exclusivité une grande résolution et un bon contraste d'image, même pour des échantillons plus grands et l'imagerie interne.
  • Un contraste inégalé pour les phases ou les caractéristiques intéressantes des matériaux difficiles à discerner.
  • La nature non destructive de la XRM permet l'imagerie 4D et in-situ.


L'architecture ZEISS permet un contraste et une résolution maximums lors de la conduite de telles études.

Créée pour vos applications

L'imagerie non destructive de la propagation des fissures et des mécanismes de rupture sur une large gamme de matériaux des métaux à la céramique.

  • Imagerie submicronique des matériaux pour améliorer la construction et pour fournir des niveaux de sécurité plus élevés lors des catastrophes naturelles.
  • Caractérisation des microstructures avec des études thermiques et mécaniques pour visualiser et quantifier l'impact de la tension, de la compression, de la température sur la perméabilité, même dans des environnements corrosifs.
  • Imagerie à plusieurs échelles de longueur pour modéliser les cavités, les fissures et les autres mécanismes de défaillance des fibres de carbone légères utilisées comme renforts structurels dans les ailes d'avion et comme conducteurs électriques.
  • Segmentation des matériaux à l'aide de mécanismes de contraste unique. Compréhension des changements volumétriques tels que la déformation d'un solide, l'évolution des pores et la propagation d'une fissure font partie des connaissances fondamentales pour comprendre comment les matériaux se forment, se déforment et remplissent leur fonction.

 

Xradia Ultra : Une imagerie de la qualité du synchrotron dans un système de laboratoire

L'imagerie non destructive par rayons X fournit des données volumétriques 3D détaillées des structures internes sans qu'il soit nécessaire de couper ou de sectionner la région d’intérêt, ce qui permet une imagerie répétée du même échantillon. Xradia Ultra est le seul scanner de laboratoire pour la visualisation 3D des volumes d'échantillons microscopiques ayant une résolution spatiale inférieure à 50 nm. Ce XRM combine une source de rayons X de laboratoire à haut flux avec une optique à rayons X spécialisée pour combler l'écart entre les modalités d'imagerie à haute résolution existantes tels que FIB-SEM, TEM ou AFM et la microscopie optique ou la microCT conventionnelle.

Plus simple. Plus intelligent. Plus intégré.

  • Avec une résolution inférieure à 50 nm, Xradia Ultra de ZEISS est le microscope à rayons X 3D ayant la résolution la plus élevée au monde, offrant une perspective non destructive à l'échelle nanométrique des structures intérieures.
  • Modes à haute résolution spatiale et à grand champ de vision.
  • L'imagerie intégrée à contraste de phase de Zernike améliore la visibilité de tous les bords et des interfaces lorsque le contraste d'absorption est faible.
  • Analyse à haute résolution efficace dans un workflow corrélatif : sert de feuille de route pour le ciblage des régions spécifiques d'un échantillon afin de trouver plus efficacement les caractéristiques intéressantes enfouies en FIB/MEB tout en minimisant le risque de détruire la caractéristique ou de passer un temps d’usinage excessif à sa recherche.

 

Créée pour vos applications

  • Caractérisation des matériaux composites et autres matériaux fonctionnels pour comprendre les propriétés telles que la porosité, les fissures et la distribution des phases.
  • Détection à haute résolution des caractéristiques et de la propagation des fissures sans compromettre les échantillons pour les futures études.
  • Mesure rapide, à grand volume en plusieurs phases des matériaux énergétiques, y compris la porosité, la conductivité électrique et d'autres aspects sensibles.
  • Modes à haute résolution spatiale et grand champ de vision, permettant des mesures non destructives de la microstructure à plusieurs échelles de longueur.
  • Imagerie non destructive dans les batteries, piles et autres dispositifs de stockage d'énergie sous conditions opérationnelles, permettant l'imagerie directe et la mesure des propriétés des électrodes pendant le fonctionnement.

Produits recommandés pour la microscopie à rayons X

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