Particulièrement propre

Propreté technique avec ZEISS

La durée de vie et la fonctionnalité des produits peuvent être directement liées à la contamination par des particules au cours du processus de production ; il est donc essentiel de mettre en place un programme de nettoyage technique avancé pour garantir la qualité des produits. Les systèmes de propreté technique de ZEISS fournissent les données d'analyse de particules dont vous avez besoin pour améliorer et assurer la qualité de votre processus de fabrication.

Caractérisation corrélative des particules à guichet unique

Profitez du portefeuille de solutions le plus complet pour la caractérisation en profondeur des particules - de la forme à la composition élémentaire, à des échelles allant du micro au nano.

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Conforme aux dernières normes de l'industrie

Répondez aux exigences des normes industrielles telles que VDA 19.1 et ISO 16232, implémentez des flux de travail automatisés et rendez l'analyse des particules reproductible.

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Une technologie de pointe dans des conditions de location attractives

Obtenez les dernières solutions de propreté technique, y compris le matériel, les logiciels et le service. Des programmes de location longue durée rentables peuvent vous aider à surmonter vos contraintes budgétaires.

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Détection et classification en profondeur des particules pour répondre aux exigences de qualité les plus strictes

Le portefeuille de solutions ZEISS pour l'analyse approfondie des particules et les tests de propreté comprend:

  • Microscopie optique : évaluez le risque potentiel de contamination, détaillez les particules en fonction de leur quantité, de leur taille et de leur morphologie, et faites la distinction entre les particules métalliques et non métalliques et les fibres jusqu’à 2 µm.
  • Microscopie électronique et systèmes EDS : Identifiez les sources de contamination, mesurez les caractéristiques morphologiques des particules et utilisez des analyses élémentaires entièrement automatisées pour classer les particules en fonction de leur composition chimique.
  • Analyse de particules corrélative : Établissez des workflows d'analyse avancés, caractérisez les particules critiques et identifiez les particules mortelles à l'aide de l'analyse de particules corrélative automatisée (CAPA), qui combine vos données de microscopes à lumière et à microscopes électroniques en un seul flux de travail.

Adapté précisément aux besoins des industries manufacturières

Les solutions ZEISS pour la propreté industrielle ont été développées en étroite collaboration avec des sociétés du secteur automobile, qui avaient un besoin spécifique de systèmes d'identification et de classification des particules puissants mais faciles à utiliser. Cela signifie que les normes de propreté industrielle en vigueur ont été prises en compte et que les problèmes d’utilisabilité sont résolus dans un environnement industriel typique, où chaque opérateur n’est pas un expert en microscopie et où des solutions sont déployées sur plusieurs sites à travers le monde.

Les solutions d'analyse de particules ZEISS sont conformes aux normes de propreté suivantes :

  • ISO 16232
  • VDA 19.1

Préparez-vous à une propreté technique améliorée grâce au crédit-bail avec service complet

La location d’équipement est un excellent moyen d’obtenir la capacité dont vous avez besoin sans la pression d’une dépense d’investissement initiale. Sélectionnez la solution d'analyse de particules requise et bénéficiez du microscope, des accessoires fournis et du support et du service ZEISS dans le monde entier - avec ZEISS couvrant toute la logistique et tous les détails.


Les avantages de la location de services complets avec ZEISS sont les suivants :

  • Dépenses opérationnelles prévisibles
  • Pas de coûts initiaux et pas besoin de mobiliser des capitaux pour obtenir votre microscope
  • Pas de coûts cachés : votre paiement mensuel fixe comprend un contrat de service complet ZEISS pour la maintenance préventive et corrective, la main-d'œuvre et les pièces de rechange.
  • Aucun risque financier : ZEISS assume la responsabilité de l'amortissement du système et de la valeur de revente

Systèmes d'analyse de particules ZEISS

Systèmes de microscopie optique

SteREO Discovery.V8

Pour les particules jusqu'à 20 µm

Identifiez les fibres et faites la différence entre les particules métalliques et non métalliques avec ce système économique pour les applications de test de propreté standard.

 

Axio Zoom.V16

Pour les particules jusqu'à 5 µm

Réalisez des analyses précises et reproductibles avec ce microscope à zoom numérique entièrement automatisé qui prend en charge la numérisation rapide sur de grands champs et les analyses étendues.

 

Axio Imager 2

Pour les particules jusqu'à 2 µm

Répondez à vos exigences en matière d'analyse de particules haute résolution avec ce microscope entièrement automatisé pour une mesure rapide et précise de la longueur, de la largeur et de la hauteur des particules.

 

Analyseur de particules

Logiciel pour les microscopes optiques

Automate analysis of particles – by quantity, size distribution, morphology and type – with Particle Analyzer software. ISO 16232, VDA 19 and internal standards are all supported.

Systèmes SEM / EDS et solutions corrélatives

EVO

MEB conventionnel

Utilisez ce système MEB / EDS pour les applications d’analyse de particules de routine. EVO est disponible avec pression variable (VP) pour permettre l’imagerie et l’analyse d’échantillons non conducteurs.

 

Sigma 300

Emission de champ MEB

Prenez vos applications à l'échelle nanométrique. Sigma 300 pour l'analyse de particules à haute résolution est très bien adapté à l'analyse élémentaire, en particulier sur des échantillons magnétiques.

 

SmartPI

Logiciels pour systèmes MEB / EDS

Le logiciel SmartPI automatise la détection, l'analyse et la classification des particules en intégrant tous les aspects du contrôle SEM, du traitement d'image et de l'analyse élémentaire au sein d'une même application.

 

CAPA

Plus d'informations sur l'origine des particules

Obtenez des informations supplémentaires avec CAPA (Correlative Automated Particle Analysis), la solution ZEISS qui combine la microscopie optique et la microscopie électronique dans un flux de travail permettant une recherche et une classification avancées des particules.

 

Prêt à en apprendre plus ?

Remplissez le formulaire ci-dessous pour obtenir des détails sur les solutions d'analyse des particules qui apporteraient le plus grand bénéfice pour votre gestion de la qualité.