Analyse à l’échelle nanométrique et corrélative

Des solutions personnalisées pour l'analyse des particules

Configuré pour vos besoins

  • Introduction

    Analyse rapide des particules à l’échelle nanométrique, chimique et corrélative

    Image au microscope optique

    Image au microscope optique

    Vous surveillez la propreté technique de vos composants et du processus de production. Vous devez avoir la certitude que les composants mécaniques fonctionnent sans aucune friction. Vous devez éviter les fuites provoquées par des fissures, réduire l'obstruction des buses et des filtres et aussi mettre fin aux pannes des pompes et des vannes et soupapes.

    Réduisez au minimum vos coûts de maintenance et optimisez votre temps de fonctionnement.

    Image au microscope électronique

    Image au microscope électronique

    ZEISS SmartPI pour l'analyse de particules entièrement automatisé à l'échelle nanométrique
    Analysez jusqu'à 200 000 particules sur vos filtres avec un microscope électronique et, en option, apprenez tout ce que vous avez besoin de connaître sur la composition chimique du matériau – avec SmartPI, c'est entièrement automatisé.

    Superposition des images des microscopes optique et électronique (analyse EDX incluse)

    Superposition des images des microscopes optique et électronique (analyse EDX incluse)

    L'analyse corrélative de particules ZEISS vous permet de mesurer et d'analyser rapidement jusqu'à 200 particules critiques en les caractérisant à l'aide de la microscopie optique et électronique — rapide et très efficace. Ce système d'analyse corrélative de particules pour l'analyse EDS des particules prend en charge les normes ISO 16232 et VDA19.

     

     

  • SmartPI

    SmartPI : Analyse automatisée des particules

    SmartPI vous apporte les avantages d'un outil automatisé d'analyse des particules pour des particules à l'échelle du nanomètre, y compris l'analyse EDS de la composition chimique. Même les particules qui se trouvent sur les bordssont comptées correctement. Vous pouvez commander l'EDS et le MEB avec une seule interface utilisateur. Différentes méthodes d'évaluation, d'analyse hors ligne et d'exclusion de particules des mesures ou statistiques vous permettront de fixer le niveau d'analyse approprié et de créer un compte-rendu compétent et bien documenté. Faites évoluer votre système vers l'analyse corrélative de particules (CAPA).

    Composition de votre SmartPI pour l'analyse de particules à l'échelle nanométrique :

    • Un microscope électronique tel que EVO, SIGMA, MERLIN, ParticleSCAN, JetSCAN
    • Logiciel SmartPI
  • CAPA

    Analyseur corrélatif de particules : Analyse rapide de particules

    • Choisissez un ensemble ZEISS à haute résolution pour l'analyse des particules chimiques.
    • Obtenez vos résultats jusqu'à 10 fois plus rapidement.
    • Classifiez les particules réfléchissantes (c'est-à-dire métalliques) et non réfléchissantes en fonction de leur taille et identifiez les fibres dans votre microscope optique.
    • Relocalisez ensuite les particules dans votre microscope électronique et effectuez une analyse EDS entièrement automatisée.
    • Combinez les résultats de vos microscopes optique et électronique dans un compte-rendu unique.
    • Prise en charge des normes ISO 16232 et VDA19 relative à l'analyse des particules.

    Composition de votre analyseur corrélatif de particules :

    • Microscope électronique EVO MA 10
    • Microscope à zoom entièrement motorisé Axio Zoom.V16
    • Porte-échantillon corrélatif
    • Logiciel AxioVision Correlative Particle Analyzer

  • Vidéo

    Regarder la séquence vidéo sur le produit

  • Téléchargement

    Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

    Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

    Page(s): 41
    Volume de fichier: 4.478 kB

    Particle Analyzer

    Analyze Tiny Particles: Accurately and Reproducibly

    Page(s): 19
    Volume de fichier: 6.454 kB

    Analyse corrélative de particules ZEISS

    Caractérisez et classifiez rapidement les particules conformément à l'ISO 16232 par microscopie optique et électronique

    Page(s): 17
    Volume de fichier: 3.098 kB

    Guide des filtres pour microscopie optique et électronique