Shuttle & Find

Shuttle & Find

De nouvelles passerelles entre les mondes micro- et nanoscopiques pour l'analyse de matériaux

Shuttle & Find

  • Introduction

    Unification de la microscopie électronique et optique pour l'analyse des matériaux

    Shuttle & Find de Carl Zeiss est une interface de microscopie corrélative pour les microscopes optiques et électronique, spécifiquement conçue pour une utilisation dans l'analyse des matériaux.
    Une solution matérielle et logicielle combinée qui vous permet de transférer votre échantillon d'un système de microscopie à l'autre en quelques minutes à peine – un processus qui, jusqu'à présent, prenait des heures, voire des jours.

    Shuttle & Find est un système bidirectionnel extrêmement flexible qui vous permet de combiner autant de systèmes Carl Zeiss que vous le souhaitez pour la microscopie corrélative. Il prend également en charge les étapes de préparation intermédiaires, garantissant ainsi une préparation optimale de votre échantillon pour l'utilisation lorsque vous passez d'un système à l'autre.

    Un aspect important pour l'analyse des matériaux, Shuttle & Find accélère vos opérations en automatisant le processus de recherche de la même région d’intérêt. Les temps de recherche des zones d’intérêts sont ainsi réduits et vous pouvez ainsi traiter un nombre d'échantillons nettement plus grand dans une période plus courte.

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  • Points essentiels
    ELYRA – Points forts du produit
    • Relocalisation rapide des régions d’intérêts :
      faites l'acquisition d'une image dans votre microscope optique et marquez les régions d’intérêts (ROI). Les ROI sont enregistrées avec l'image de votre échantillon. Vous pouvez ensuite facilement rechercher et relocaliser vos ROI dans votre microscope électronique au moyen de l'étalonnage automatique et des routines de travail.
    • Plus d'informations :
      Combinez les techniques de contraste optique et les informations sur la taille, la morphologie et la couleur collectées par votre microscope optique avec les méthodes d'analyse de votre microscope électronique. Découvrez des informations à la fois sur la structure et la fonction de votre échantillon.
    • Guichet unique :
      En tant que seul fabricant au monde qui propose à la fois la microscopie optique et la microscopie électronique dans toutes les classes de performance, Carl Zeiss est le plus à même de relier les mondes microscopiques et nanoscopiques. Carl Zeiss représente votre guichet unique pour les microscopes optiques, les microscopes électroniques et le lien entre les deux.

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  • Analyse corrélative de particules

    Analyse corrélative de particules - Perspective élargie, qualité supérieure.

    Caractérisation des particules critiques à un process. L'analyseur de particules corrélatif combine à la fois les données des microscopes optique et électronique. Après avoir détecté des particules avec votre microscope optique, vous pouvez entièrement automatiser leur relocalisation et l'analyse EDX avec l'analyse corrélative des particules de Carl Zeiss. C'est la meilleure façon d'améliorer la caractérisation des particules résiduelles.

    L'analyseur corrélatif de particules vous fournit automatiquement un rapport qui intègre les résultats de l'analyse à la fois au microscope optique et électronique. L'analyseur corrélatif de particules obtient des résultats jusqu'à dix fois plus rapidement que l'analyse individuelle consécutive sur des microscopes optique et électronique.

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  • Téléchargements

    Correlative Microsopy Shuttle & Find

    Bridging the Micro and Nano World in Materials Analysis

    Page(s): 13
    Volume de fichier: 3.174 kB

    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Aged Li-Ion Batteries with "Shuttle & Find"

    Correlative Microscopy allows a high productivity in structural analysis of Li-ion batteries due to a fast, reliable and precise workflow between light microscopy and SEM. This enables new possibilities especially for quantitative image data analysis of the same region of interest.

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 1.177 kB

    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Cross-section Samples from an 18th Century Oil Painting with "Shuttle & Find"

    We present the cross–section sample analysis of an oil painting on canvas. Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) is used for analyzing the cross–section samples, combining the optical properties of light microscopy (LM) with the detailed structural and chemical analysis of the scanning electron microscope (SEM), along with energy dispersive X–ray spectrometer (EDS).

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 1.605 kB

    White Paper: Microstructural Investigation of Austempered Ductile Iron (ADI) with "Shuttle & Find"

    Interface for Correlative Microscopy in Materials Analysis

    Page(s): 5
    Volume de fichier: 2.766 kB

    White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

    Shuttle & Find

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 1.951 kB

    Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

    By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

    Page(s): 8
    Volume de fichier: 1.456 kB

    White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 1.755 kB

    Application Note

    Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

    Page(s): 5
    Volume de fichier: 1.245 kB

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