ZEISS Xradia 800 Ultra

Avec le microscope à rayons X ZEISS Xradia 800 Ultra, obtenez une résolution spatiale aussi basse que 50 nm, la plus élevée parmi les systèmes d'imagerie par rayons X de laboratoire. Avec l'imagerie 3D non destructive qui joue un rôle essentiel dans la recherche de pointe actuelle, vous découvrirez des performances inégalées dans un système de laboratoire à ultra-haute résolution. L'architecture innovante Xradia Ultra dispose des modes d'imagerie à contraste d'absorption et de phase et d'une énergie de rayons X de 8 keV, employant une optique unique adaptée du synchrotron. Avec Xradia 800 Ultra, attendez-vous à obtenir des capacités in-situ et 4D inégalées pour l'étude de l'évolution des matériaux dans le temps et repoussez les limites de l'imagerie par rayons X utilisée en science des matériaux, sciences de la vie, ressources naturelles et diverses applications industrielles.

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Avec une résolution aussi fine que 50 nm, Xradia 800 Ultra vous apporte une vision en profondeur des structures microscopiques et des processus qui étaient précédemment inaccessibles avec la technologie à rayons X de laboratoire conventionnelle. Fonctionnant avec des rayons X de 8 keV, il offre une pénétration et un contraste excellents pour une vaste gamme de matériau, vous permettant ainsi d'observer des structures et des matériaux dans leur état naturel.

La technologie de contraste de phase intégrée ZEISS, qui emploie la méthode Zernike, améliore la visibilité des bords des grains et des jonctions de la matière lorsque le contraste d’absorption est faible, ce qui vous permet de visionner des ultra- et nanostructures sans coloration.

ZEISS Xradia 800 Ultra fournit des informations 3D internes fiables qui ne sont généralement accessibles qu'avec des méthodes destructives comme la coupe transversale. La grande distance de travail et l’environnement atmosphérique de l’échantillon vous permet de réaliser des études in-situ en toute simplicité.

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• L’imagerie par rayons X 3D non destructive permet la capture répétitive d’images du même échantillon et ainsi l'observation directe de l'évolution microstructurale
  
• La résolution élevée de 50 nm à peine est maintenue pour l'imagerie d'échantillons à l'intérieur des dispositifs in-situ
  
• Alignement automatique des images pour la reconstruction tomographique
  
• Champ de vision commutable allant de 15 à 60 µm
  
• Modes d’imagerie à contraste d’absorption et à contraste de phase de Zernike
• Développez, préparez et testez vos expériences de synchrotron prévues dans votre laboratoire afin de pouvoir exploiter au maximum la disponibilité limitée du temps de faisceau du synchrotron

Recherche sur les matériaux
Pour le développement de matériaux avancés : étudiez et prévoyez les propriétés et l'évolution des matériaux. Caractérisez les structures 3D des matériaux composites tels que les piles à combustible, les polymères et les composites. Mesurez et identifiez la porosité, les fissures, la distribution de phase, etc. Des matériaux de densités différentes peuvent être segmentés grâce à l'utilisation de l'imagerie à contraste d'absorption.

Ressources naturelles
Études de faisabilité de forage pétrolier & gazier : analysez une carotte virtuelle pour obtenir des résultats plus rapidement. Les mesures de la structure poreuse à l'échelle nanométrique pour des échantillons géologiques peuvent à présent se dérouler en quelques heures, contrairement l'analyse d'une carotte traditionnelle. Réalisez la modélisation de l'écoulement à l'échelle nanométrique pour compléter l'imagerie submicronique avec le microscope Versa.

Sciences de la vie
Xradia 800 Ultra offre la possibilité de visualiser la structure interne des échantillons biologiques tels que les os et les tissus mous avec une résolution aussi faible que 50 nm. Il offre une imagerie par rayons X 3D au contraste supérieur et à l'échelle nanométrique pour une grande diversité de matériaux tels que les polymères pour l'administration de médicaments, les échantillons de tissus et les cadres pour l’ingénierie tissulaire.

Électronique
Xradia 800 Ultra permet la visualisation des échantillons de semiconducteurs pour la recherche et le développement des boîtiers des composants électroniques.

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