• Microscopie non destructive à une échelle inférieure au micron d'échantillons intacts
• Flux plus élevé et numérisations plus rapides sans compromettre la résolution
• Résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm
• Haute résolution sur une large gamme de types d'échantillons, de tailles et de distances de travail
• Imagerie in situ pour la caractérisation non destructive de microstructures dans des environnements contrôlés et dans le temps
• Evolutif et extensible avec les innovations et développements futurs

Là où la tomographie traditionnelle repose sur un grossissement géométrique en une étape, Xradia Versa combine une optique unique à grossissement en deux étapes et une source de rayons X à flux élevé pour produire des images à résolution inférieure au micron plus rapidement. Notre capacité RaaD (Résolution à Distance) exclusive permet la création d'images 3D haute résolution d'objets volumineux et denses, y compris de composants et de périphériques intacts. L'extension d'écran plat optionnelle (FPX) permet de numériser rapidement de très grands échantillons (jusqu'à 25 kg), permettant ainsi de naviguer dans les régions intérieures intéressantes.

Utilisez la solution d’imagerie à rayons X 3D la plus complète du marché pour la recherche scientifique et industrielle avancée : optimisez l’absorption et le contraste de phase pour obtenir une caractérisation sans précédent de vos matériaux et de leurs propriétés. Déverrouillez les informations cristallographiques 3D avec la tomographie à contraste de diffraction. Améliorez la vitesse de numérisation et la précision d'échantillons volumineux ou irréguliers grâce à des techniques d'acquisition avancées. Appliquez des algorithmes d'apprentissage machine pour faciliter le post-traitement et la segmentation de vos échantillons.

La série ZEISS Xradia 600 peut caractériser de manière non destructive la microstructure 3D de matériaux sous perturbations contrôlées (in situ) et observer l'évolution des structures dans le temps (4D). En exploitant la résolution à distance, le Xradia Versa maintient la résolution la plus élevée sur de grandes distances de travail, pouvant accueillir à la fois un échantillon, une chambre climatique et des plates-formes de chargement in situ de haute précision sans sacrifier la résolution. Le Versa s'intègre de manière transparente à d'autres microscopes ZEISS pour résoudre les problèmes d'imagerie corrélative à plusieurs échelles.

La tomodensitométrie (CT) standard est limitée aux échantillons de petite taille lors de l'imagerie à haute résolution ; en raison de la nature géométrique du grossissement. Il est impossible de conserver une résolution élevée pour des échantillons plus volumineux en raison des distances de travail plus longues requises. L'imagerie haute résolution dans les systèmes CT nécessite également un faible flux de rayons X, ce qui réduit le débit de la mesure. Cela limite l'application pratique de la résolution maximale revendiquée par la plupart des fabricants de TC.

ZEISS Xradia série 600 Versa résout ces problèmes en intégrant une architecture à grossissement à deux étages et une technologie de source de rayons X à flux élevé.

ZEISS spécifie la résolution spatiale réelle, en intégrant une mesure standard des performances du microscope à la mesure 3D par rayons X. La résolution spatiale fait référence à la séparation minimale à laquelle deux systèmes peuvent être résolus par un système d'imagerie. Les systèmes Versa de la série ZEISS Xradia 600 obtiennent une résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm.
 

ZEISS Xradia série 600 Versa introduit une technologie révolutionnaire de source de rayons X haute puissance (25 W) capable de fournir un flux de rayons X nettement supérieur à celui de ses prédécesseurs. La nouvelle source repousse les limites des performances avec une gestion thermique améliorée, un flux et un débit accrus tout en préservant les performances de résolution. Un nouveau système de contrôle de source améliore la réactivité de la source en permettant une configuration plus rapide de l'analyse, permettant ainsi une expérience utilisateur plus facile et plus attrayante.

Que propose le flux de rayons X supérieur :

• Des tomographies plus rapides
• Plus d'échantillons
• Plus de régions d'intérêt
• Rapport de contraste sur bruit plus élevé
• Modèles de diffraction plus forts
• Activation des flux de travail longs / multi-numérisations
  (in situ, DSCoVer, couture, DCT)

ZEISS Xradia Versa utilise une architecture de grossissement en deux étapes pour permettre une imagerie de résolution submicronique à de grandes distances de travail (RaaD) pour un ensemble diversifié de tailles et de types d'échantillons. Les images sont initialement grossies par projection géométrique comme avec le microCT classique, l'image est projetée sur un scintillateur, convertissant les rayons X en image lumineuse visible qui est ensuite grossie optiquement par l'optique du microscope avant acquisition par un détecteur CCD.

Avec plus de photons à rayons X disponibles, le Versa de la série ZEISS Xradia 600 offre un temps de réponse plus rapide pour la plus large gamme de tailles et de types d'échantillons, sans compromettre la résolution.

LabDCT (tomographie par contraste de diffraction), disponible exclusivement sur Xradia 620 Versa, permet une cartographie non destructive de l'orientation et de la microstructure en 3D. La visualisation directe de l'orientation des grains cristallographiques 3D ouvre une nouvelle dimension dans la caractérisation des matériaux polycristallins comme les alliages métalliques, les géomatériaux, les céramiques ou les produits pharmaceutiques.

• LabDCT prend désormais en charge les échantillons avec des structures cristallines allant de la symétrie cubique d’ordre supérieur aux systèmes à symétrie d’ordre inférieure tels que les matériaux monocliniques.

• Obtenez une analyse complète de la microstructure 3D , à partir d’un grand volume jusqu’au joint de grains individuel localisé.

• Étudiez l'évolution de la microstructure avec des expériences d'imagerie 4D.

• Combinez des informations cristallographiques 3D avec des caractéristiques microstructurales 3D.

• Combinez les modalités pour comprendre les relations structure-propriété

• L’amélioration de l'efficacité de l'opérateur grâce à une configuration d'échantillons simplifiée
• Une expérience utilisateur améliorée non seulement pour les novices, mais également pour les utilisateurs avancés
• La protection vos précieux échantillons et de votre investissement
• Ne pas avoir à faire de compromis sur la qualité de vos scans

• L’amélioration de l'efficacité de l'opérateur grâce à une configuration d'échantillons simplifiée
• Une expérience utilisateur améliorée non seulement pour les novices, mais également pour les utilisateurs avancés
• La protection vos précieux échantillons et de votre investissement
• Ne pas avoir à faire de compromis sur la qualité de vos scans

• Métrologie CT de pointe en haute précision : calibrée avec MTX, ZEISS Xradia Versa fournit une valeur d'erreur maximale tolérée, leader sur le marché, de MPESD = (1,9 + L /100) μm pour les mesures à petite échelle, où L est la longueur mesurée en mm.

• Petits volumes à haute résolution : MTX permet des mesures avec une précision dimensionnelle élevée dans de petits volumes reconstruits de 125 mm3.

• Flux de travail d'étalonnage simple : le package MTX fournit un flux de travail d'étalonnage intégré et guidé.

• Une fois la routine d'étalonnage exécutée, vous effectuez des mesures précises et mettez les données à la disposition d’un logiciel de métrologie standard pour un traitement ultérieur.

L'extension FPX (Flat Panel Extension) en option permet une numérisation sur grand échantillon et à haut débit avec la meilleure qualité d'image ZEISS. FPX améliore la flexibilité de l’imagerie et permet d’optimiser le flux de travail grâce à un système tout-en-un pour la recherche industrielle et universitaire.

Scout-and-Zoom est une fonctionnalité unique des microscopes à rayons X ZEISS qui exploite FPX pour effectuer des balayages exploratoires «Scout» sur un large champ de vision afin d'identifier les régions intérieures intéressantes pour des balayages «Zoom» à plus haute résolution sans préparation complexe des échantillons.

ZEISS Xradia Versa fournit la première solution d’imagerie 3D du secteur destinée à la plus grande variété de plates-formes in situ, des cellules de mesure haute pression aux étages de tension, de compression et thermique.

Pour pouvoir prendre en charge divers types d'appareils in situ, de telles expériences nécessitent de monter les échantillons plus loin de la source de rayons X. Avec les systèmes microCT traditionnels, cela limite considérablement la résolution pouvant être obtenue lors de telles mesures. Les microscopes à rayons X de ZEISS sont particulièrement adaptés à la technologie de résolution à distance (RaaD), qui offre la plus grande fidélité des informations structurelles 3D au cours de l'imagerie in situ.

Optimisez l'utilisation de votre instrument avec l'autochargeur en option, disponible pour tous les instruments de la série ZEISS Xradia Versa. Réduisez la fréquence des interactions utilisateur et augmentez la productivité en mettant en file d'attente plusieurs tâches. Chargez jusqu'à 14 stations d'échantillonnage, qui peuvent prendre en charge jusqu'à 70 échantillons et sont configurées pour fonctionner toute la nuit ou sur plusieurs jours. Une stabilité mécanique sans précédent permet un balayage répétitif quantitatif en volume élevé d'échantillons similaires.

Le mode champ large (WFM) peut être utilisé pour créer une image sur un champ de vision latéral étendu. Le large champ de vision latéral peut fournir un volume 3D 3 fois plus grand pour les échantillons de grande taille, ou une densité de voxel plus élevée pour un champ de vision standard. Tous les systèmes Xradia Versa sont capables de WFM avec l'objectif 0.4x. Le système Xradia 620 Versa intègre également WFM avec l'objectif 4x. En combinaison avec l'assemblage vertical, WFM vous permet d'imager des échantillons plus volumineux avec une résolution exceptionnelle.

Les filtres d’atténuation de la source rayons X permettent d’ajuster le spectre d’énergie des rayons X éclairant l’échantillon afin d’optimiser le contraste, ce qui dépend des propriétés matérielles spécifiques de l’échantillon. Chaque ZEISS Xradia Versa est livré en standard avec un ensemble de 12 filtres. Le ZEISS Xradia 610 Versa est équipé d'un seul emplacement de filtre permettant un changement de filtre manuel. Les systèmes ZEISS Xradia 620 Versa comportent un changeur de filtre automatisé (AFC), qui améliore la facilité d'utilisation, permettant un changement transparent des filtres pour une investigation pratique d'échantillons inconnus.