Pour la recherche scientifique et industrielle
La progression de la recherche scientifique et du développement technologique dépend beaucoup de solutions d'imagerie efficaces pour caractériser les propriétés et les comportements des matériaux. La révélation des détails de la microstructure, idéalement en 3D, est un élément essentiel de cette compréhension, que l'objectif soit de développer et de valider des modèles qui décrivent les propriétés et les comportements des matériaux ou tout simplement de visualiser des détails structuraux. ZEISS propose des microscopes à rayons X 3D (XRM) : des solutions d'imagerie avancées qui ont éliminé les principaux obstacles à l'imagerie en trois dimensions en réalisant une imagerie à contraste élevé et à résolution submicronique, même pour des échantillons relativement grands. Ces avancées révolutionnaires en imagerie tridimensionnelle (3D) non destructive autorisent un large éventail de disciplines techniques.
La famille Xradia Versa de XRM submicroniques utilise des détecteurs de rayons X brevetés dans une tourelle des porte-objectifs de microscope pour faciliter le grossissement en-deçà d'une résolution spatiale de 700 nm avec des voxels minimums réalisables de 70 nm. Les microscopes à rayons X à échelle nanométrique de la famille Xradia Ultra est le seul microscope à rayons X disponible sur le marché qui utilise une optique à rayons X de qualité synchrotron et offre une véritable résolution spatiale jusqu'à moins de 50 nm avec des voxels minimums réalisables de 16 nm.
ZEISS Xradia Versa 610 / 620
Ce microscope à rayons X 3D offre une imagerie rapide et une résolution submicronique des échantillons intacts. Les microscopes ZEISS Xradia Versa 610 & 620 s'appuient sur la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché, tout en repoussent les limites de votre imagerie non destructive à l'échelle sub-micronique.
ZEISS Xradia 510 Versa
Basé sur le design primé de son prédécesseur, Xradia 510 Versa constitue la base de la famille Xradia Versa pour ceux qui ont besoin de la capacité d'imagerie 3D la plus élevée, mais sans les caractéristiques et les performances avancées du produit haut de gamme.
ZEISS Xradia 410 Versa
Xradia 410 Versa comble le fossé entre les solutions de microscopie à rayons X 3D à hautes performances et les systèmes de tomodensitométrie (TDM) basés sur la projection, traditionnellement moins coûteux et offrant moins de possibilités. De multiples options de source offrent la souplesse requise pour l'imagerie d'un large éventail de tailles et de types d'échantillons.
Famille ZEISS Xradia Ultra
Avec la famille ZEISS Xradia Ultra, découvrez les microscopes à rayons X 3D non destructifs (XRM). Grâce à la résolution à l'échelle nanométrique, vous obtiendrez des images à la qualité comparable à celle d'un synchroton. Deux modèles sont disponibles : ZEISS Xradia 810 Ultra et ZEISS Xradia 800 Ultra, conçus pour offrir une qualité d'image optimale pour vos applications les plus fréquentes.
ZEISS Xradia Context microCT
ZEISS Xradia Context CT est un système de tomographie par micro-calcul 3D (Micro-computed tomographie) à rayons X non destructif et à grand champ de vision. Avec une platine robuste et un positionnement source / détecteur flexible contrôlé par logiciel, vous pouvez créer des échantillons de grande taille, lourds (25 kg) et de grande taille dans leur contexte 3D complet, ainsi que de petits échantillons haute résolution et détaillés.