SUPRA

Ses excellentes propriétés d'imagerie combinées avec ses capacités  d'analyse font de ce FE-SEM haut de gamme un instrument idéal  pour un large éventail d'applications dans la science des matériaux, les sciences de la vie  et la technologie des semiconducteurs. La grande chambre     permet à l'utilisateur de configurer le SUPRA pour  des applications spécifiques sans compromis de productivité ou  d'efficacité.

Grâce à sa capacité unique de pression variable (VP), SUPRA  permet d'examiner des échantillons non conducteurs sans  longue préparation.

Découvrez MERLIN Compact et SIGMA HD - nos nouvelles extensions pour nos familles de produits MERLIN et SIGMA. MERLIN Compact et SIGMA HD remplacent les FE-SEM ULTRA et SUPRA.

Contactez dès maintenant votre  interlocuteur chez ZEISS  pour en savoir plus sur SUPRA !

• Technologie GEMINI avec détecteur à haute efficacité intégré à la colonne et aucun champ magnétique au niveau de l'échantillon
  
• Superbes résolution et qualité d'image aux tensions de service hautes et basses
  
• Plage de tensions de service extrêmement large de 0,02 à 30 kV
  
• Intrinsèquement facile d'utilisation grâce au très petit nombre de réglages nécessaires lors d'un changement des conditions de fonctionnement
  
• Courte distance de travail analytique de 8.5 mm pour l'imagerie à haute résolution simultanément avec l'analyse des rayons X
  
• Courant de sonde élevé (jusqu'à 100 nA) à haute stabilité (meilleure que 0,2 %/h) pour des résultats d'analyse précis
  
• Mode pression variable (VP) jusqu'à 133 Pa pour une imagerie superbe des échantillons non conducteurs
  
• Avec logiciel de commande multi-utilisateurs convivial SmartSEM sous Windows®

Contactez dès maintenant votre  interlocuteur chez ZEISS  pour en savoir plus sur SUPRA !