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ZEISS Sigma

Sigma

Votre MEB-FEG pour l'imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée

Votre MEB-FEG pour l'imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée

  • Introduction

    Détection modulaire. Workflow en 4 étapes. Analyse avancée.

    Combinez la technologie à effet de champ sur votre MEB et l'analyse avancée. Profitez de la colonne Gemini. Choisissez parmi un grand nombre de détecteurs optionnels: vous pouvez imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Gagnez un temps précieux avec le workflow en 4 étapes du Sigma: Standardisez vos routines d'imagerie et de micro-analyse et augmentez votre productivité.

    Sigma 300 propose un excellent rapport qualité-prix. Profitez de la rapidité de l'analyse élémentaire avec la géométrie de premier rang pour l'EDX du Sigma 500.
    Vous pouvez compter sur des résultats précis et reproductibles - sur tous les échantillons, tout le temps.

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  • Points forts
    Fibres, utilisées dans des pansements antimicrobiens pour le traitement de plaies.

    Détection modulaire pour des images nettes

    • Adaptez le Sigma à vos besoins en utilisant les technologies de détection de dernière génération et caractérisez tous vos échantillons.
    • Obtenez des informations de topographie et de composition avec le détecteur optionnel InLens Duo.
    • Profitez de la nouvelle génération de détecteur d'électrons secondaires (SE). Obtenez des images avec près de 50% de signal en plus. Bénéficiez des nouveaux détecteur C2D et VPSE du Sigma en mode pression variable: vous pouvez vous attendre à des images nettes avec plus de 85% de contraste en plus même en pression réduite.
    Gagnez du temps avec le flux de travail en 4 étape de Sigma

    Automatisez et accélérez votre flux de travail

    • Un flux de travail en 4 étapes vous donne le contrôle de toutes les fonctionnalités de votre Sigma. Profitez d'un temps réduit pour imager vos échantillons et gagnez du temps sur la formation - surtout dans un environnement multi-utilisateurs.
    • Tout d'abord, naviguez sur votre échantillons puis définissez les conditions d'imagerie optimales.
    • Ensuite, acquérez des images de plusieurs échantillons en utilisant des régions d'intérêts. Utilisez, pour finir, la dernière étape de votre flux de travail et visualisez contextuellement vos résultats.
    Accélerez vos analyses X avec la géométrie de premier rang de Sigma.

    Microscopie analytique avancée

    • Combinez la microscopie et l'analyse élémentaire: la géometrie EDX de Sigma vous permet d'optimiser vos travaux de microanalyse, plus particulièrement sur des échantillons sensibles.
    • Récupérez des résultats d'analyse avec deux fois moins de courant et deux fois plus rapidement.  
    • Obtenez des microanalyses précises et sans ombrage avec votre FESEM. Profitez de la faible distance de travail analytique de 8,5 mm et de l'angle de "take-off" de 35°.

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  • Colonne Gemini
    Schéma en coupe de la colonne Gemini.

    Basé sur la technologie Gemini éprouvée

    • Le design de la lentille objectif Gemini combine un champ magnétique et électrostatique pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences du champ au niveau de l'échantillon. Ceci donne d'excellentes images, même sur des échantillons difficiles comme dans le cas de matériaux magnétiques.
    • Le concept de la détection dans la colonne assure une détection efficace en imageant les électrons secondaires et/ou rétrodiffusés, réduisant ainsi le temps pour obtenir une image.
    • La technologie du "beam booster" garanti des tailles de sonde réduites et de forts rapports signal sur bruit.

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  • Détection
    Schéma en coupe de la colonne Gemini avec détecteurs.

    Détection modulaire pour des images nettes

    • Caractérisez tous vos échantillons avec les technologies de détection de dernière génération.
    • Obtenez des informations topographiques et à haute résolution avec les nouveaux détecteurs ETSE et Inlens en mode haut vide.
    • Enregistrez des images nettes en mode pression variable avec le détecteur VPSE ou C2D.
    • Obtenez des images haute résolution en transmission avec le détecteur aSTEM.
    • Etudiez la composition de votre échantillon avec le détecteur BSD4 ou YAG.
  • EDS Intégrée

    Solution EDX intégrée : Sigma Element

    Quand l'imagerie à haute définition rencontre l'analyse basse tension

    Sigma Element est une solution EDX intégrée sensible et efficace à basse tension. L'intégration améliore la convivialité en utilisant un seul PC pour commander à la fois l'EDX et le MEB. La commande en parallèle est possible en même temps grâce aux interfaces utilisateur dédiées pour le microscope et la commande EDX.


    Points forts

    • Intégration : imagerie à haute définition combinée avec l'analyse rapide pour des résultats optimaux avec une convivialité maximale
    • Personnalisation : logiciel personnalisable pour différents besoins des utilisateurs
    • Sensibilité : la fenêtre exclusive en nitrure de silicium améliore la détection à basse énergie
       
  • Logiciels

    ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie Multi-échelle

    Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail. Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre MEB ZEISS.

     

     

    Pour plus d'infos

    Logiciel de visualisation et d'analyse

    Visualization and Analysis Software

    ZEISS recommande Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

    Une solution avancée d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par une variété de technologies, y compris les rayons X, FIB-SEM, SEM et microscopie à l'hélium.

    Anciennement Visual SI Advanced, Dragonfly Pro offre des techniques de visualisation haute définition et des graphiques de pointe. Dragonfly Pro prend en charge la personnalisation grâce à des scripts Python faciles à utiliser. Les utilisateurs ont maintenant le contrôle total de leur environnement de post-traitement des données 3D et des flux de travail.

    plus

     

  • Téléchargements
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    3D Imaging Systems

    Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.

    Page: 68
    Volume de fichier: 5952 kB

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    ZEISS Sense BSD

    Backscatter Electron Detector for Fast and Gentle Ultrastructural Imaging

    Page: 6
    Volume de fichier: 6808 kB

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    ZEISS Sigma 300 with RISE

    Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)

    Page: 2
    Volume de fichier: 2075 kB

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    ZEISS SmartEDX

    The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications

    Page: 10
    Volume de fichier: 2160 kB

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    In Situ Lab for ZEISS FE-SEM (Flyer)

    Page: 5
    Volume de fichier: 4278 kB

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    ZEISS Sigma Family - Flyer

    Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy

    Page: 2
    Volume de fichier: 2146 kB

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    Large Volume Imaging of Eye Muscle by SIGMA VP and 3View

    Serial Block Face Imaging

    Page: 8
    Volume de fichier: 1983 kB

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    ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging

    Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy

    Page: 10
    Volume de fichier: 6581 kB

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    Voltage Contrast in Microelectronic Engineering

    Page: 6
    Volume de fichier: 1748 kB

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    Case Study

    Corrosion analysis of modern and historic railway trackwith optical, electron and correlative Raman microscopy

    Page: 10
    Volume de fichier: 7630 kB

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    Cathodoluminescence of Geological Samples: Fluorite Veins

    ZEISS Scanning Electron Microscopes with Atlas

    Page: 5
    Volume de fichier: 5476 kB

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    Investigating Sweet Spot Imaging of Perovskite Catalysts Bearing Exsolved Active Nanoparticles

    Page: 6
    Volume de fichier: 5621 kB

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    ZEISS Sigma 300

    Quantitative EBSD Studies of Soft Magnetic Composites

    Page: 8
    Volume de fichier: 10255 kB

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    ZEISS Focal CC

    Instruction Manual (English)

    Page: 34
    Volume de fichier: 5942 kB

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    ZEISS SmartSEM v7.00 Sigma

    Software Manual (English)

    Page: 272
    Volume de fichier: 9589 kB