ZEISS Sigma
FE-SEM : imagerie haute qualité et microscopie analytique avancée
La série ZEISS Sigma allie la technologie du microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) à l'excellence en matière d'expérience utilisateur. Structurez vos routines d'imagerie et d'analyse pour augmenter la productivité. Étudiez de nouveaux matériaux, des particules pour le contrôle qualité ou encore des spécimens biologiques ou géologiques. Oubliez les compromis en matière d'imagerie haute résolution : choisissez des tensions basses et bénéficiez d'une résolution et d'un contraste améliorés à 1 kV ou moins. Réalisez une microscopie analytique avancée grâce à la meilleure géométrie EDS de sa catégorie et obtenez des données analytiques plus précises deux fois plus rapidement.
Avec la série Sigma, entrez dans le monde de la nano-analyse haut de gamme.
- Sigma 360 est LE choix pour une installation en plate-forme d'imagerie : un MEB à émission de champ intuitif pour l'imagerie et l'analyse.
- Sigma 560 utilise la meilleure géométrie EDS de sa catégorie pour fournir une analyse à rendement élevé et des expériences in situ automatisées.
Points forts

Sigma 360
LE choix pour une installation en plate-forme d'imagerie. Acquisition intuitive.
- Laissez-vous guider avec expertise, de la configuration aux résultats basés sur l'IA. Découvrez un processus d'imagerie intuitif.
- Voyez la différence à 1 kV et moins. Obtenez une résolution améliorée et un contraste optimisé.
- Réalisez une imagerie VP dans des conditions extrêmes pour obtenir d'excellents résultats sur les non-conducteurs.

Sigma 560
Analyse à haut rendement. Expériences in situ automatisées.
- Analyse efficace d'échantillons issus du « monde réel » : analyses basées sur le MEB avec vitesse et polyvalence.
- Automatisez vos expériences in situ : un laboratoire entièrement intégré pour des tests non surveillés.
- Échantillons difficiles à imager sous 1 kV : recueillez des informations complètes sur l'échantillon.
Technologie

Optique Gemini 1
- L'optique Gemini 1 se compose de trois éléments : un objectif, un accélérateur de faisceau et un concept de détection Inlens. Dans l'objectif, la conception de la lentille combine des champs électrostatique et magnétique afin de maximiser les performances optiques, en réduisant à un niveau minimal les influences des champs sur l'échantillon.
- Cette technique produit une excellente imagerie, même sur des échantillons difficiles tels que les matériaux magnétiques. Le concept de détection Inlens garantit une détection efficace du signal en détectant les électrons secondaires (SE) et/ou rétrodiffusés (BSE), en réduisant au minimum le temps d'acquisition de l'image.
- Le booster de faisceau garantit des sondes de petite taille et des rapports signal sur bruit élevés.

Détection flexible pour des images nettes
- SIGMA intègre une suite composée de différents détecteurs. Caractérisez vos échantillons en utilisant la technologie de détecteur la plus moderne.
- Obtenez des informations topographiques de haute résolution avec les détecteurs ETSE et Inlens pour le mode vide poussé.
- Obtenez des images nettes en mode pression variable avec le détecteur VPSE ou C2D.
- Produisez des images en transmission à haute résolution avec le détecteur aSTEM.
- Étudiez la composition et la topographie avec différents détecteurs BSE en option, p. ex. le détecteur aBSD.


Modes standard VP (gauche) et NanoVP lite (droite), distribution de gaz (rose), contournement du faisceau d'électrons (vert).
Mode NanoVP lite
Travaillez avec le mode NanoVP lite pour l'analyse et l'imagerie. Profitez d'une meilleure qualité d'image, particulièrement à basse tension, et obtenez plus rapidement des données analytiques plus précises.
- Dans NanoVP lite, l'effet de contournement et la longueur du trajet du faisceau dans le gaz (BGPL) sont réduits. La réduction du contournement améliore le rapport signal sur bruit dans l'imagerie SE et BSE.
- Le détecteur aBSD rétractable aux cinq segments annulaires offre un excellent contraste des matériaux : il porte le manchon de faisceau et est placé sous la pièce polaire pendant le fonctionnement de NanoVP lite. Il fournit un rendement élevé et une imagerie de contraste de composition et topographique basse tension, et convient au VP et à l'HV (vide poussé).
Applications
Sciences des matériaux






Sciences de la vie




Géosciences et ressources naturelles





Applications industrielles



Accessoires
SmartEDX
Découvrez l'analyse intégrée de spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie

- Optimisation des applications de microanalyse de routine et de la détection des rayons X basse énergie provenant d'éléments légers grâce à la transmissivité supérieure de la fenêtre en nitrure de silicium.
- L'interface utilisateur graphique guidée par workflow facilite encore l'utilisation et la reproductibilité dans des environnements multi-utilisateurs.
- Le service complet et l'assistance système offerts par un ingénieur ZEISS vous offrent un guichet unique pour l'installation, la maintenance préventive et la garantie.
Imagerie Raman et microscopie électronique à balayage
Bénéficiez des avantages de la microscopie RISE entièrement intégrée

- Identifiez des informations moléculaires et cristallographiques.
- Réalisez une analyse 3D et corrélez si nécessaire imagerie MEB, cartographie Raman et EDS.
- La microscopie RISE entièrement intégrée vous permet de tirer parti des deux meilleurs systèmes MEB et Raman de leur catégorie.

Associez la performance des matériaux à la microstructure avec le laboratoire in situ pour ZEISS FE-SEM
Exploitez les avantages d'une solution intégrée
Pour associer la performance des matériaux à la microstructure, ZEISS met à votre disposition un laboratoire expérimental de chauffage et de tension in situ automatisé. Observez automatiquement la réaction des matériaux à la chaleur et à la tension tout en traçant instantanément des courbes de contrainte/déformation. Faites évoluer votre ZEISS FE-SEM en lui ajoutant une solution in situ pour les expériences de chaleur et de traction. Étudiez des matériaux tels que métaux, alliages, polymères, plastiques, composites et céramiques.
Combinez une torsion mécanique ou une platine de compression, une unité de chauffage et des détecteurs SE et BSE à haute température dédiés avec analyse EDS ou EBSD (diffraction d'électrons rétrodiffusés). La conception des optiques électroniques de ZEISS Gemini simplifie grandement l'intégration de matériel in situ. Contrôlez tous les composants du système depuis un seul PC à l'aide d'un environnement logiciel unifié pour tester les matériaux automatiquement et sans surveillance. Le suivi automatique des caractéristiques établit pour vous un nouveau standard d'imagerie et d'analyse de série automatiques telle qu'une cartographique EDS ou EBSD avec définition simultanée de multiples régions d'intérêt.
Bénéficiez :
- d'une configuration simple et rapide sans nécessité de superviser le système lors de l'acquisition ;
- de processus in situ automatisés, pour une collecte de données indépendante de l'utilisateur, hautement reproductible, précise et fiable ;
- d'un rendement élevé en matière d'acquisition des données à haute résolution. Cela permet d'établir rapidement des résultats représentatifs sur le plan statistique ;
- de données de grande qualité pour un post-traitement fiable, p. ex. cartographie de déformation utilisant le contraste interférentiel différentiel (DIC), avec GOM ;
- d'une gestion facile des données.

Logiciel

ZEISS SmartSEM Touch – Un outil polyvalent
SmartSEM Touch, une extension du système d'exploitation en place, est une interface utilisateur simplifiée destinée aux environnements multi-utilisateurs. Elle offre une simplicité de fonctionnement, tant pour les utilisateurs expérimentés que pour les novices. Selon l'environnement de laboratoire, le fonctionnement du MEB peut être du ressort exclusif d'experts en microscopie électronique. Néanmoins, des utilisateurs non experts tels que des étudiants, stagiaires ou ingénieurs qualité ont eux aussi fréquemment besoin de données provenant du MEB. Sigma 300 et Sigma 300 VP répondent à ces deux exigences avec leurs options qui adaptent l'interface utilisateur aux besoins opérationnels personnels des microscopistes, expérimentés ou non.

ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie multi-échelle
Atlas 5 vous simplifie la vie : créez des images multimodales à échelles multiples complètes avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon. Ensemble matériel et logiciel puissant et intuitif, Atlas 5 étend les capacités de votre microscope électronique à balayage.

Modélisation de surface 3D – 3DSM
Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D. Pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez 3DSM, le pack logiciel en option de ZEISS. Obtenez des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface de votre échantillon à l'aide des signaux des détecteurs de rétrodiffusion.

Logiciel de visualisation et d'analyse
ZEISS recommande Dragonfly Pro d'Object Research Systems (ORS)
Cette solution logicielle d'analyse et de visualisation avancée fonctionne avec vos données 3D acquises avec différentes technologies, notamment les rayons X, le FIB-SEM, le MEB et la microscopie à hélium ionisé.
Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro offre une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour la visualisation et l'analyse de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. Dragonfly Pro permet de naviguer, d'annoter, de créer des fichiers médias et de produire des vidéos à partir de vos données 3D. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objet pour quantifier vos résultats.

ZEISS Mineralogic – Minéralogie automatisée
L'identification de phases et l'analyse de textures en 2D et 3D à l'aide de MEB ZEISS, XRM et les systèmes microCT.
Téléchargements
3D Imaging Systems
Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.
Page: 68
Volume de fichier: 5952 kB
ZEISS Sense BSD
Backscatter Electron Detector for Fast and Gentle Ultrastructural Imaging
Page: 6
Volume de fichier: 6808 kB
ZEISS Sigma 300 with RISE
Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)
Page: 2
Volume de fichier: 2075 kB
ZEISS Sigma Family
Your Field Emission SEMs for High Quality Imaging and Advanced Analytical Microscopy
Page: 37
Volume de fichier: 11041 kB
ZEISS SmartEDX
The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications
Page: 10
Volume de fichier: 2160 kB
In Situ Lab for ZEISS FE-SEM
Page: 5
Volume de fichier: 4278 kB
ZEISS Sigma Family - Flyer
Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy
Page: 2
Volume de fichier: 2146 kB
Large Volume Imaging of Eye Muscle by SIGMA VP and 3View
Serial Block Face Imaging
Page: 8
Volume de fichier: 1983 kB
ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging
Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy
Page: 10
Volume de fichier: 6581 kB
Voltage Contrast in Microelectronic Engineering
Page: 6
Volume de fichier: 1748 kB
Recherche Résultats 1 - 10 de 16
