GeminiSEM

GeminiSEM

Votre MEB-FEG pour des images basses tension et à fort contraste

Votre MEB-FEG pour des images basses tensions et à fort contraste

  • Introduction

    Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable.

    La famille GeminiSEM est synonyme d'imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS GeminiSEM 500 combine la technologie éprouvée Gemini avec un nouveau design optique. Obtenez de meilleures résolutions, plus particulièrement à basses tension. Avec une détection de signal en colonne 20 fois plus intense, vous pourrez toujours obtenir des images nettes rapidement et avec un minimum de dommages sur votre échantillon. Le nouveau mode à pression variable vous fait penser que vous travaillez en haut vide.

    Vous aurez un microscope électronique à balayage polyvalent et fiable pour votre laboratoire de recherche ou industriel ou votre plateforme d'imagerie. Avec les GeminiSEM, vous acquérez toujours des images de qualité sur tout type d'échantillon.

    Contactez dès maintenant votre interlocuteur ZEISS pour en savoir plus sur GeminiSEM!

  • Points Forts
    Silicium nanostructuré

    Plus de détails à basse tension

    • Détectez des structures nanoscopiques à haute résolution et fort contraste à basses tensions d'accélération.
    • A 500 V, vous imagez des structure de 1.2 nm, à 1 kV vous obtenez 1.1 nm de résolution. Vous obtiendrez des images de qualité, tout le temps, sans avoir besoin de polariser l'échantillon.
    • Profitez de la rapidité des réglages grâce à la technologie Gemini.
    Lentille "Nano-twin"

    Plus de signal

    • Le nouveau design de la lentille objectif de GeminiSEM 500 vous permet d'améliorer l'efficacité de détection. Il multiplie le signal des électrons secondaires dans la colonne par 20 comparé au design de la colonne Gemini classique.
    • Soyez plus efficaces et obtenez un maximum d'information de vos échantillons.
    • Réduisez votre temps pour imager vos échantillon ou travaillez à très faible courant pour minimiser les dommages sur vos échantillons.
    Papier

    Plus de flexibilité avec le mode Pression Variable

    • Travaillez en mode pression variable (VP) comme si vous travailliez en mode haut vide.
    • Utilisez la détection en colonne en pression variable. Acquérez des images en haute résolution, à fort contraste et fort rapport signal sur bruit.
    • Capturez, dès à présent, des images nettes, même de vos échantillons les plus complexes tels les échantillons non conducteurs.

    Contactez dès maintenant votre interlocuteur ZEISS pour en savoir plus sur GeminiSEM!

  • Colonne Gemini
    Schéma en cross-section de la colonne Gemini.

    Basé sur la technologie éprouvée Gemini

    • Le design de la lentille objectif Gemini combine un champ magnétique et électrostatique pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences des champs au niveau de l'échantillon. Ceci entraine une qualité d'imagerie, même sur des échantillons difficiles comme dans le cas de matériaux magnétiques.
    • Le concept de la détection dans la colonne assure une détection efficace en imageant les électrons secondaires et/ou rétrodiffusés, réduisant ainsi le temps pour obtenir une image.
    • La technologie du "beam booster" garanti des tailles de sonde réduites et des forts rapports signal sur bruit.
    Nouveau design de la colonne Gemini

    Plus de détail. Plus de signal.

    • GeminiSEM 500 est fourni avec une optique électronique inédite: la nouvelle lentille "Nano-twin" permet d'améliorer la résolution à basses tensions.
    • Le signal sur le détecteur dans la colonne est multiplié par un facteur 20 dans des conditions basses tensions. Vous obtiendrez toujours des images nettes rapidement et un minimum de dommages sur l'échantillon.
    • Le mode du canon "high résolution" minimise les aberrations chromatiques et permet des tailles de sondes encore plus petites. 

    Contactez dès maintenant votre interlocuteur ZEISS pour en savoir plus sur GeminiSEM!

  • GeminiSEM 300

    GeminiSEM 300 est le choix idéal pour l'imagerie de grands champs avec une excellente qualité d'image et temps rapide à l'image. Avec l'optique Gemini vous pouvez compter sur une détection efficace, une excellente résolution et, de grands champs sans distorsion.
    Profitez de la nouvelle conception optique qui est adapté à l'imagerie à basse tension, même pour les échantillons difficiles, tels que les matériaux sensibles au faisceau ou magnétiques. Caractériser votre échantillon globalement: obtenez un contraste unique du matériaux à basse tension avec le détecteur de d'électrons rétrodiffusés sélectif en énergie. Utiliser le mode NanoVP: imagez des spécimens non-conducteurs à haute résolution avec une excellente sensibilité de surface avec le détecteur Inlens SE à des pressions plus élevées.

  • Pression Variable (VP)
    Le NanoVP dans la chambre du GeminiSEM 500.

    Plus de détail. Plus de flexibilité.

    • Réduisez les charges sur les échantillons isolants.
    • La technologie NanoVP réduit l'élargissement du faisceau et permet donc d'imager des échantillons à haute résolution et la détection annulaire dans la colonne jusqu'à 150 Pa.
    • Ainsi, les détecteurs SE Inlens et EsB peuvent être utilisés, simultanément, en mode VP pour l'imagerie de surface et de contrastes de matériaux en haute résolution.
    • La pression peut même être augmentée jusqu'à 500 Pa, en utilisant le détecteur VPSE dans la chambre pour vos échantillons les plus exigeants.
       

    Contactez dès maintenant votre interlocuteur ZEISS pour en savoir plus sur GeminiSEM!

  • Logiciels

    ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie Multi-échelle

    Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail. Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre MEB ZEISS.

     

     

    Pour plus d'infos

    3D Surface Modelling – 3DSM

    Votre MEB mesure et analyse n'importe quel échantillon en 2D; pour étudier la surface de l'échantillon en 3D, utilisez le module 3DSM. 3DSM, une application ZEISS vour fournit des information topographiques par la reconstruction d'un modèles 3D complet de la surface à partir des signaux du détecteur AsB de votre MEB.


    Pour plus d'infos

    Logiciel de visualisation et d'analyse

    Visualization and Analysis Software

    ZEISS recommande Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

    Une solution avancée d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par une variété de technologies, y compris les rayons X, FIB-SEM, SEM et microscopie à l'hélium.

    Anciennement Visual SI Advanced, Dragonfly Pro offre des techniques de visualisation haute définition et des graphiques de pointe. Dragonfly Pro prend en charge la personnalisation grâce à des scripts Python faciles à utiliser. Les utilisateurs ont maintenant le contrôle total de leur environnement de post-traitement des données 3D et des flux de travail.

    plus

     

  • Téléchargements

    ZEISS GeminiSEM

    Your Field Emission SEMs for the Highest Demands in Imaging and Analytics from Any Sample

    Page(s): 34
    Volume de fichier: 11.224 kB

    ZEISS Integrated Atomic Force Microscope

    Your Only True in situ AFM Solution for FE-SEMs and FIB-SEMs

    Page(s): 17
    Volume de fichier: 6.022 kB

    Application Note

    Electron Channeling Contrast Imaging Performed by ZEISS GeminiSEM 500

    Page(s): 7
    Volume de fichier: 3.145 kB

    Technical Note: GeminiSEM... The real time 3DSM solution

    Extend 3DSM functionality to real time surface reconstruction and metrology in a fast and precise way

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 2.131 kB

    Novel Optical Design of Field Emission SEMs

    Innovations in Gemini Column, Detection Technology and Variable Pressure Technology

    Page(s): 8
    Volume de fichier: 1.937 kB

    ZEISS Gemini Optics

    High Resolution Images On Real World Samples

    Page(s): 1
    Volume de fichier: 775 kB

    Technical Note

    High Resolution Imaging of non-conductive Specimen benefits from Local Charge Compensation

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 3.017 kB

Nous utilisons des cookies sur ce site Internet. Les cookies sont de petits fichiers textes enregistrés sur votre ordinateur par des sites Internet. Les cookies sont largement répandus et permettent d'optimiser la présentation des pages Web et de les améliorer. En continuant à naviguer sur ce site, vous déclarez accepter les cookies. plus