EVO MA

• Profitez de la dernière technologie de détecteurs pour extraire encore plus de détails des modes en vide élevé (HV), en pression variable (VP) et pression étendue (EP). 
  
• Obtenez des détails topographiques nets avec le nouveau détecteur d'électrons secondaires (SE) fournissant 50% de détails en plus.
  
• Les nouveaux détecteurs VP et EP fournissent un signal amélioré à des pressions supérieures pour visualiser les détails de surface les plus fins.
  
  

• EVO offre la productivité la plus élevé en fabrication et contrôle qualité.
  
• Réduisez le nombre d'étapes individuelles de près de 400 à seulement 15 lors de l'acquisition de 4 régions d'intérets sur 9 échantillons à 3 grandissements différents.
  
• L'imagerie automatisée – Automated Intelligent Imaging – propose des régions d'interêts libres (ROIs) pour l'acquisition automatique d'images sans surveillance.
  
• SmartBrowse collecte et présente vos données sous forme d'une carte interactive pour vous aider à comprendre entièrement votre échantillon.
   

• Le principe de mise à jour d'EVO permet d'assurer que votre microscope pourra toujours s'adapter à vos futures applications.
  
• Des tailles de chambre différentes et des sources d'électrons assure que votre EVO peut être parfaitement adapté pour des application d'imagerie exigentes, la microanalyse (EDS, WDS ou EBSD).
  
• Les platines optionnelles robustes fournissent une plateforme idéale pour imager des pièces lourdes et encombrantes issues de l'industrie aérospatiale ou automobile.
   

• Mouvement de la platine de 80x100x35 mm (XYZ)
• Hauteur maximale de l'échantillon de 100 mm
  
  

EVO MA 15 est votre MEB pour une gamme élargie de poids et de dimensions des échantillons.

Les domaines d'application incluent la géologie, le médico-légal et l'analyse des défaillances.

• Mouvement de la platine de 125x125x50mm (XYZ)
• Hauteur maximale de l'échantillon de 145 mm
• Port pour instrumentation WDS
  
  

EVO MA 25 est votre MEB pour leséchantillons lourds et volumineux.

Les domaines d'application incluent le médico-légal, les objets de musée, la construction automobile, l'aérospatiale, les écrans plats et les circuits imprimés.

EVO MA 25 comprend :

• Option BeamSleeve pour mouvement de la platine de 130x130x60 mm (XYZ)
• Hauteur maximale de l'échantillon de 210 mm,
• poids de 5 kg et diamètre de 300 mm
• Imagerie par rétrodiffusion 4 quadrants et 5 segments
• Support pour deux Chamberscopes
  

• Obtenez de meilleures performances en imagerie en mode pression variable avec les nouveaux détecteurs.
• Le détecteur "Cascade Current Detector (C2D)" d'EVO avec son électronique de détection très sensible assure des images à fort rapport signal sur bruit même pour les application les plus exigeantes en VP.
  
• Le détecteur "Extended Range Cascade Current Detector (C2DX)", unique à la série EVO, est spécialement conçu pour obtenir de superbes images aux pressions les plus élevées jusqu'à 3000 Pa.
  
• La technologie des détecteurs EVO établit la norme pour la microscopie électronique en pression variable et environnementale.
  
  

• Imagerie et analyse de la structure des métaux, des fractographies et des inclusions non métalliques.
  
• Analyse de la composition et de la cristallographie d'alliages ou d'aciers complexes.
  
• La géométrie coplanaire EDS/EBSD permet la caractérisation de la microstructure de grains, l'identification de phase, l'analyse des contraintes ainsi que l'activité de glissement entre phases.

• Etude de la morphologie, minéralogie et composition d'échantillons géologiques.
  
• Imagerie de carottes en mode VP avec les détecteurs C2D et HDBSD pour obtenir le maximum d'information de structure et de composition.
  
• Etude d'échantillons géologiques en cathodoluminescence (CL) tout en évitant les effets de charges des carbonates.

• Etude et développement de nouveaux matériaux.
  
• Analyse des propriétés des matériaux tels que la corrosion, la résistance à la température et la performance des revêtements.
  
• Analyse complète des matériaux en cobinant le détecteur HDBSD avec la décélération de faisceau et l'analyse coplanaire EDS et EBSD.  

• Inspection de routine de circuits imprimés et de composants électroniques.
  
• Expériences d'imagerie en courants induits par le faisceau électronique (EBIC) pour la détermination des performances de composants.
  
• Analyse visuelle et de composition de corrosion, défauts ou contamination.

• Analyse de preuve criminelles, y compris les résidus de tir, la fausse monaie et la toxicologie.
  
• La configuration avec l'EDS permet une analyse rapide et à haut débit pour l'analyse GSR compatible avec les logiciels tiers GSR spécialisés.
  
• Un porte-object specifique de comparaison de balles pour l'analyse de balles ou de douilles.

• De grandes chambre et des platines robustes optionelles permettent l'étude de composants encombrants et lourds de l'insdustrie automobile.
  
• Analyse avancée de matériaux composites, de revêtements et de textiles en mode à pression variable.
  
• Analyse à haut débit de la composition de particules et de débris d'usure de moteur.