Your Automated SEM Particle Analysis and Classification Solution
Smart Particle Investigator (SmartPI), votre solution avancée de classification et d'analyse de particules, transforme les microscopes électroniques à balayage en solutions clés en main pour la propreté industrielle ou les applications métal et acier. SmartPI intègre tous les aspects du contrôle SEM, du traitement d'image et de l'analyse élémentaire (EDS) au sein d'une même application.
SmartPI a été développé en étroite collaboration avec un fournisseur mondial de composants automobiles, qui avait besoin d'un système spécifique puissant d'identification et de classification des particules et facile à utiliser. Cela signifie que non seulement les exigences actuelles en matière d'analyse de la propreté industrielle ont été prises en compte, mais que les problèmes de convivialité sont également pris en compte dans un environnement industriel typique, dans lequel chaque opérateur n'est pas un expert en microscopie mais aussi lorsque des solutions sont déployées sur plusieurs sites à travers le monde.
L’automatisation SmartPI simplifie considérablement les opérations, ainsi vous n'avez pas besoin d’être un expert en microscopie pour obtenir des données de grande qualité. Les opérateurs plus expérimentés ont à la fois le pouvoir de créer ou de modifier facilement des recettes et d'adapter les routines d'analyse à des exigences spécifiques. Toutes les recettes, les configurations système et les données de particules sont stockées dans une base de données auditable pour une révision et une exportation faciles des données.
À l'aide d'un algorithme sophistiqué d'assemblage de particules, SmartPI détecte, caractérise et classifie également les particules alignées sur plusieurs champs de vision, y compris les particules tronquées dans le jeu de données de particules. Cela est particulièrement important pour éviter que les plus grosses particules ne soient exclues des statistiques, ce qui peut nuire à la propreté ou à l'analyse de la qualité de l'acier.
Contrôlez l’imagerie SEM et l’analyse EDS avec un seul logiciel sur un seul PC. ZEISS SmartPI conserve toutes les données ensemble, assurant l'intégrité des données SEM et EDS ainsi qu'un rappel efficace des données. Même lorsque le système EDS provient d’un fournisseur EDS, l’ensemble du système SmartPI est pris en charge par l’équipe de services et d’applications ZEISS Monde, qui regroupe tous les services d’assistance clientèle.
SmartPI effectue des routines d'auto-diagnostic et d'auto-étalonnage avant chaque exécution automatique et régulièrement pendant l'exécution. Cela garantit la stabilité du système et des résultats précis et reproductibles. Si une interruption survient pendant l'exécution automatique, par exemple lorsqu'un remplacement de filament est requis, un processus de récupération automatique est lancé.
SmartPI utilise des techniques avancées de traitement et d'analyse d'images pour mesurer diverses caractéristiques morphologiques de chaque particule détectée. Par la suite, l’analyse EDS est utilisée pour déterminer la composition chimique de chaque particule. Analysez rapidement les particules avec le mode Spot ou plus en détail à l'aide du mode de numérisation des fonctions ZEISS avancé. Cette analyse de la forme complète de la particule permets une classification plus précise.
Afin de garder votre jeu de données de particules cohérent et de minimiser le temps d’exécution, SmartPI vous permet d’exclure des particules qui ne sont pas jugées intéressantes pour les analyses d’images et d’éléments ultérieurs. Cela pourrait, par exemple, être le cas pour les fibres allongées sur le filtre qui pourraient provenir de la poussière dans l’environnement et qui, par conséquent, ne sont pas liées aux particules provenant du processus de fabrication.
Une série de critères d'arrêt avancés permettent à l'exécution automatique de mettre fin à l'analyse lorsqu'elle atteint un seuil prédéfini. Les critères d'arrêt peuvent inclure le temps d'analyse, le nombre de particules ou de champs comptés, la taille des particules, une classification spécifique ou d'autres critères que vous pouvez spécifier. Cette fonctionnalité peut être appliquée à un ou plusieurs échantillons, ce qui réduit considérablement le temps d'exécution global. Une fenêtre de résultats en direct permet également à l'opérateur de suivre les progrès et de décider si une intervention est nécessaire.
Utilisez le mode examiner la sortie pour affiner et améliorer les recettes de classification en effectuant un examen détaillé des résultats. Vous pouvez également réexaminer toute particule en ramenant le stade aux coordonnées de particule appropriées.
Le mode d'analyse rétrospective vous permet de réévaluer les résultats existants en utilisant de nouveaux critères de classification - sans avoir à analyser de nouveau l'échantillon.
Cette application autonome vous permet de parcourir ou de rechercher dans les résultats : des spectres individuels, des images de particules, des images de champ, des particules de bordure ou d'autres filtres que vous sélectionnez. De plus, SmartPI Explorer comprend des options d'archivage, ainsi qu'une fonction de montage d'image permettant de créer une image assemblée à partir des champs analysés. Il peut également être utilisé hors ligne pour libérer du temps au système pour l'analyse.
Cette application autonome comporte un certain nombre d’outils intégrés qui vous permettent de créer des rapports dédiés. Vous pouvez contrôler en utilisant le glisser-déposer, modifier un modèle de rapport existant ou sélectionner un rapport standard ISO ou VDA. Une fois que vous avez défini votre rapport, vous pouvez l'enregistrer en tant que modèle pour les rapports futurs. Utilisez SmartPI Reporter en ligne pour la génération immédiate de rapports ou hors ligne lorsque vous analyserez les résultats ultérieurement.
EVO est le SEM conventionnel utilisé pour l'analyse de routine des matériaux, l'assurance de la qualité industrielle et l'analyse des défaillances. Avec une grande platine motorisée à 5 axes et le logiciel SmartSEM facile à utiliser, EVO offre une plate-forme d'imagerie hautement configurable pour les applications d'analyse de particules. EVO est disponible avec une pression variable (VP), permettant l'imagerie et l'analyse d'échantillons non conducteurs, tels que des filtres, sans qu'il soit nécessaire d'appliquer un revêtement conducteur, laissant ainsi le filtre intact pour une analyse ultérieure, par ex. Raman ou FTIR.
Sigma 300 est le MEB pour les utilisateurs nécessitant une résolution améliorée pour l'analyse de particules à l'échelle nanométrique. Sigma, doté de la technologie de colonne Gemini, fournit des résultats d’imagerie et d’analyse exceptionnels à partir d’un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM). L’optique Gemini fournit une imagerie de la plus haute résolution sur une plate-forme très bien adaptée à l’analyse élémentaire, en particulier sur des échantillons magnétiques.
Your Automated SEM Particle Analysis and Classification Solution
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Automated Identification of Asbestos
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