3DSM

Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D : pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez l'extension système 3DSM. 3DSM, l'application informatique ZEISS, vous fournit des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface à partir des signaux du détecteur AsB du MEB.

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• Effectuez une reconstruction de surface 3D des échantillons examinés avec les microscopes électroniques équipés d'un détecteur AsB ou 4QBSD
• Combinez 3DSM avec le mode inlive de SmartSEM pour l'imagerie 3D en temps réel ou utilisez-le en mode autonome pour la visualisation des fichiers de projet archivés
• Bénéficiez du fonctionnement en temps réel en mode direct et de temps de reconstruction < 1s

• Améliorez votre FE-SEM MERLIN avec 3DSM Metrology pour obtenir des mesures automatiques et une documentation en conformité avec les normes ISO 25178, DIN et ASME et d'autres normes sur les contrôles routiniers
  
• Analysez les surfaces en 3D et générez des enregistrements de mesure complets
  
• Caractérisez les surfaces et les profils en incluant des paramètres tels que la hauteur de pas, la distance, le nanocontour, la rugosité et d'ondulation ainsi que la taille des particules et des grains
  Créez des rapports métrologiques entièrement traçables

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