ZEISS Axio Observer pour les matériaux

Votre système de microscope inversé pour la métallographie

Pour les enquêtes, développement et analyse des matériaux

Tirez parti de la construction inversée d’Axio Observer pour étudier des échantillons de métallographie en un rien de temps. Il n'est pas nécessaire de refocaliser, même en cas de changement de grossissement ou de changement d'échantillons métallurgiques.

Axio Observer combine la qualité éprouvée de l'optique ZEISS avec des composants automatisés. Profitez de la fiabilité et de la reproductibilité.

À l'aide de modules logiciels dédiés, vous pouvez analyser, par exemple, les inclusions et les tailles de grain non métalliques.

Axio Observer est votre plate-forme d'imagerie ouverte : n'investissez que dans les fonctionnalités dont vous avez besoin aujourd'hui. Au fur et à mesure que les exigences changent, une simple mise à niveau maintient votre système prêt pour toutes les applications de matériaux.

Points forts

Gagnez du temps en recherche métallographique

heavy sample
  • Gagnez du temps dans la préparation et l'analyse des échantillons avec Axio Observer.
  • Sa conception inversée facilite l'alignement parallèle sur l'objectif.
  • Observez plus d'échantillons en moins de temps : posez simplement votre échantillon sur la scène, faites une mise au point une fois et maintenez la mise au point pour tous les grossissements et échantillons supplémentaires.

Comptez sur des résultats fiables et des images brillantes

63x C-APOCHROMAT 1,2W mot corr, Autocorr objective
  • Vous apprécierez les conditions d'imagerie stables d'Axio Observer, en particulier lorsque vous travaillez avec des grossissements élevés.
  • Un éclairage homogène sur tout le champ de vision produit des images brillantes. Vous obtiendrez des résultats fiables et reproductibles à chaque fois, grâce à la qualité optique éprouvée de ZEISS associée à des composants automatisés.
  • Bénéficiez d'un temps d'image réduit pour votre analyse de structure métallographique avec des modules logiciels dédiés, par exemple : NMI, Grains, Multiphase.

Améliorez votre système

Axio Observer sample holder
  • Surveillez votre budget. Avec Axio Observer, vous n'investissez que dans les fonctionnalités dont vous avez besoin maintenant.
  • Lorsque les exigences changent, vous pouvez toujours mettre à niveau votre système.
  • Choisissez entre des composants codés ou motorisés et une gamme d'accessoires. Vous pouvez compter sur les techniques de contraste pertinentes requises par votre application.

Stands

Choisissez entre trois niveaux différents d'automatisation et de motorisation

Axio Observer 7 matériaux

Avec z-focus motorisé, la reconnaissance automatique des composants reconnaîtra toujours les paramètres des objectifs et des filtres que vous avez choisis, l’écran tactile et éventuellement une télécommande.

Axio Observer 5 matériaux

Presque tous les composants peuvent être lus ou même motorisés.

Axio Observer 3 matériaux

Avec embout codé, gestion de la lumière, CAN et interface USB permettant la lecture du grossissement.

Un choix de techniques de contraste

Barker-etched aluminum
Barker-etched aluminum, reflected light, circular polarization contrast
  • Profitez d'une homogénéité maximale et d'un fond d'image exempt de lumière parasite en fond clair et en fond noir - la lumière parasite gênante est minimisée et les aberrations de couleur sont réduites.
  • Étudiez vos échantillons avec un contraste de polarisation - en utilisant des analyseurs fixes, un analyseur de mesure rotatif à 360 ° et un analyseur rotatif à lame pleine onde rotative. Visualisez la biréflection et le pléochroisme sur des échantillons anisotropes, même si aucun étage rotatif n'est disponible.
  • Tirez parti du contraste d'interférence différentielle circulaire (C-DIC), une technique d'optique de polarisation utilisant une lumière polarisée de manière circulaire.

Applications

Spherulitic graphite in nodular cast iron, reflected light, brightfield
Spherulitic graphite in nodular cast iron, reflected light, brightfield
Cast aluminum-silicon, reflected light, darkfield
Cast aluminum-silicon, reflected light, darkfield
Barker-etched aluminum, reflected light, C-DIC
Barker-etched aluminum, reflected light, C-DIC
Zinc, reflected light, polarization contrast with lambda plate
Zinc, reflected light, polarization contrast with lambda plate
Niccolite, reflected light, polarization contrast with lambda plate
Niccolite, reflected light, polarization contrast with lambda plate

Téléchargements

ZEISS Axio Observer

Your Inverted Microscope System for Metallography

Page: 20
Volume de fichier: 5739 kB

Microscopic Methods in Metallography

Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager

Page: 8
Volume de fichier: 5863 kB

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

Page: 41
Volume de fichier: 4477 kB

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

Page: 11
Volume de fichier: 15285 kB

Axio Observer – Inverted microscope

Complete Operating Manual

Page: 192
Volume de fichier: 11479 kB

Axio Observer – Inverted Microscope

Quick Reference Guide (Multilanguage)

Page: 122
Volume de fichier: 5362 kB

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