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ZEISS Axio Imager 2 pour la recherche sur les matériaux
Votre plate-forme de microscope motorisée
Votre système de microscope pour la recherche avancée sur les matériaux
Introduisez la facilité d'utilisation dans votre flux de travail en microscopie - Axio Imager 2 garantit des résultats précis et reproductibles à partir du contrôle qualité et du contrôle du processus.
Axio Imager 2 présente une optique brillante et un éclairage homogène. Le responsable des contrastes et le responsable des éclairages garantissent des conditions définies et des résultats reproductibles à tout moment. Utilisez ACR pour détecter et configurer automatiquement les objectifs et les modules de contraste pour Axio Imager.Z2m.
Choisissez votre système parmi quatre versions de support différentes et étendez vos applications avec des solutions dédiées : analyseur de particules, microscopie corrélative ou LSM 900.
Points forts

- Profitez d'une optique brillante pour un contraste et une résolution exceptionnelsGagnez en flexibilité avec le concept de conception modulaire avec une gamme de composants motorisés et codés pour une flexibilité accrue
- Obtenez des résultats reproductibles grâce à son support stable et à ses conditions de travail sans vibrations
- Mettez à niveau votre Axio Imager 2 avec le module de balayage laser confocal ZEISS LSM 900
- Utilisez Axio Imager 2 pour les workflows de microscopie corrélative et l'analyse de particules
- Obtenez une reproduction précise du contrôle de la qualité et du contrôle de processus avec ses fonctions automatisées
Fonctionnalités

Contrastes
Choisissez parmi une grande variété de techniques
Prenez en charge vos recherches et examinez un large éventail de matériaux. Analysez les structures métalliques, les composites, le verre, le bois et la céramique. Examiner les polymères, les cristaux liquides.
Choisissez parmi une grande variété de techniques contrastées pour obtenir des informations supplémentaires. Utilisez la lumière réfléchie et observez vos échantillons en fond clair, en fond noir, en contraste interférentiel différentiel (DIC), en contraste interférentiel différentiel circulaire (C-DIC), en polarisation ou en fluorescence. Utilisez la lumière transmise et examinez vos échantillons en champ clair, en champ noir, en contraste d'interférence différentielle (DIC), en polarisation ou en polarisation circulaire.
Le gestionnaire de contraste garantit des réglages d'éclairage reproductibles pour votre Axio Imager 2.

Ergonomie
Aussi variée que vos surfaces
Axio Imager.Z2m ou Axio Imager.M2m affiche les fonctions de fonctionnement des touches sur un écran tactile, vous permettant ainsi de contrôler du bout des doigts tous les composants motorisés.
Des boutons de commande supplémentaires sont positionnés de manière ergonomique autour de la commande de mise au point, avec des surfaces tactiles qui les rendent faciles à distinguer.
Axio Imager.D2m dispose de cinq boutons préprogrammés tandis qu'Axio Imager.Z2m dispose de dix boutons pouvant être définis par l'utilisateur.

Thermomicroscopie
Documentation flexible sur les changements de température
Voulez-vous examiner l’influence de la température sur le comportement des métaux, des cristaux, de la céramique ou des plastiques ?
Avec les étages de chauffage AxioVision et Linkam, vous définissez des expériences de chauffage ou de refroidissement. Documentez le modèle de température dans une série de laps de temps. Le résultat obtenu est un journal des données de température et de vide dans chaque image de laps de temps. Observez les changements d'échantillons pendant le processus de chauffage ou de refroidissement, par exemple dans le domaine du contrôle de la qualité.
Applications

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Téléchargements
ZEISS Axio Imager 2
Your Open Microscope System for Automated Material Analysis
Page: 23
Volume de fichier: 9453 kB
ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals
Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research
Page: 11
Volume de fichier: 15320 kB
Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel
Shuttle & Find
Page: 6
Volume de fichier: 1951 kB
Applications of Microscopy in Additive Manufacturing
Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems
Page: 7
Volume de fichier: 2975 kB
Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure
Page: 7
Volume de fichier: 2441 kB
Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel
Page: 6
Volume de fichier: 1192 kB
Topography and Refractive Index Measurement
of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy
Page: 6
Volume de fichier: 1755 kB
ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas
Understanding reservoir behavior with pore scale analysis
Page: 8
Volume de fichier: 7877 kB
Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control
Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.
Page: 41
Volume de fichier: 4477 kB
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