Analyse à l'échelle nanométrique et corrélative

Solutions sur mesure pour l'analyse de particules

Configuré selon vos besoins

Les systèmes ZEISS analysent les particules présentes sur vos filtres et vous permettent d'en savoir plus sur la composition chimique du matériau. Utilisez un microscope électronique et SmartPI pour automatiser entièrement votre analyse de 200 000 particules au maximum. Le système d’analyseur de particules à corrélation est votre solution optimale pour la connexion d’analyses au microscope optique et au microscope électronique. Il supporte les normes ISO 16232 et VDA19.

Analyse rapide à l'échelle nanométrique, chimique et corrélative des particules

Light Microscope Image

Vous surveillez la propreté technique de vos composants et le processus de production. Vous devez vous assurer que les composants mécaniques fonctionnent sans aucun frottement. Vous devez éviter les fuites causées par les fissures, réduire le blocage des buses et des filtres et arrêter la panne des pompes et des vannes.

Minimisez vos coûts de maintenance et optimisez votre temps de disponibilité.

Electron Microscope Image

ZEISS SmartPI pour l'analyse entièrement automatisée des particules nanométriques

Analysez jusqu’à 200 000 particules sur vos filtres avec un microscope électronique et découvrez éventuellement tout ce que vous avez besoin de savoir sur la composition chimique du matériau - c’est entièrement automatisé avec SmartPI.

Overlay of Light and Electron Microscope Image (incl. EDX Analysis)

L’analyse de particules corrélatives ZEISS vous permet de mesurer et d’analyser rapidement jusqu’à 200 particules critiques en les caractérisant par microscopie optique et électronique - c’est rapide et très efficace. Ce système d'analyse de particules corrélatif pour l'analyse EDS de vos particules prend en charge les normes ISO 16232 et VDA19.

SmartPI

SmartPI : Analyse automatisée de particules

SmartPI vous offre l'avantage d'un outil d'analyse de particules automatisé pour les tailles de particules de l'ordre du nanomètre, y compris l'analyse EDS de la composition chimique. Même les particules situées sur la bordure sont comptées correctement. Vous pouvez utiliser EDS et SEM avec une seule interface utilisateur. Grâce à diverses méthodes d’évaluation, à l’analyse hors ligne et à l’exclusion des particules de la mesure ou des statistiques, vous pourrez définir le niveau approprié pour l’analyse et créer un rapport compétent et bien documenté. Mettez à niveau votre système vers l'analyse corrélative de particules (CAPA).

Votre SmartPI pour l'analyse automatisée de particules à l'échelle nanométrique comprend :

Un microscope électronique tel que EVO, SIGMA, MERLIN, ParticleSCAN, JetSCAN
Logiciel SmartPI

Plus

CAPA

Analyseur de particules corrélatif : analyse rapide des particules

Choisissez un faisceau ZEISS haute résolution pour l'analyse des particules chimiques.

Obtenez vos résultats jusqu'à 10 fois plus rapidement.

Classifiez la taille des particules réfléchissantes (c'est-à-dire métalliques) et non réfléchissantes et identifiez les fibres dans votre microscope optique.