Microscopes ZEISS Crossbeam 340 et Crossbeam 540

Vos FIB-SEM pour nanotomographie et nanofabrication

Microscopes ZEISS Crossbeam 340 et Crossbeam 540

  • Introduction

    Bénéficiez d’une productivité accrue avec une station de travail Open 3D Nano

    Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu’à 100 nA avec un excellent profil de détection pour combler le vide entre le micropatterning et le nanopatterning.

    Le système Crossbeam allie les performances de l’imagerie et de l’analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l’échelle nanoscopique. Utilisez le concept de plateforme modulaire et l’architecture ouverte et facilement extensible de cette station de travail nano 3D pour une nanotomographie et une nanofabrication haut débit des échantillons les plus exigeants, chargeants ou magnétiques.


  • Points forts

    Obtenez plus d'informations en moins de temps

    • Accélérez votre nanotomographie et nanofabrication : combinez les performances du faible kV SEM et des courants FIB jusqu'à 100 nA.
    • Obtenez un maximum d'informations : utilisez l'acquisition multi-détecteurs et la capacité simultanée d'usinage et d'acquisition d'image.
    • Examinez de grands champs de vision avec une résolution jusqu'à 50 k x 40 k pixels - grâce à la technologie GEMINI et l'ensemble ATLAS 3D en option.

    Conservez la maîtrise complète du process

    • Profitez de la stabilité maximale et un profil de faisceau uniforme durant vos expériences exigeantes expériences à long terme.
    • Changez les paramètres système comme un courant de sonde une tension d'accélération en temps réel lors de votre acquisition, sans devoir effectuer de réglages de l'image.
    • Appréciez pleinement l'interface utilisateur graphique facile à comprendre.

    Profitez d'une flexibilité maximale

    • Améliorez facilement votre Crossbeam grâce à une large gamme de détecteurs et d'accessoires.
    • Personnalisez votre système pour les expériences in situ.
    • Avec l'API (interface de programmation d'application), vous avez accès à chacun des paramètre du microscope.
  • Colonnes GEMINI

    Crossbeam 340 avec GEMINI I VP

    • Bénéficiez d'une flexibilité d'échantillon maximale dans des environnements polyvalents.
    • Réalisez des expériences in situ avec des échantillons dégazants ou chargeants.
    • Obtenez le contraste de matériaux unique de GEMINI grâce au détecteur Inlens Duo en option.

    Crossbeam 540 avec GEMINI II

    • Obtenez une haute résolution même à une faible tension et à un courant élevé grâce au système à double condensateur.
    • Obtenez plus d'informations en moins de temps avec une imagerie haute résolution et une analyse rapide.
    • Profitez du contraste topographique et de matière unique avec l'acquisition simultanée de Inlens SE et EsB.
  • Option laser

    Réalisez une ablation et une fabrication de matière

    Améliorez votre Crossbeam aec un loser en option pour profiter de la technologie la plus rapide pour une ablation massive. En combinaison avec le courant élevé FIB, vous fabriquez des structures fonctionnelles telles que des dispositifs microfluidiques et des MEMS de l'ordre du millimètre au nanomètre.

    Découvrez des zones cibles profondément enfouies ou coupez des échantillons fragiles qui ont tendance à s'étaler, se délaminer ou se comprimer. Avec votre Crossbeam et l'option laser, vous réalisez l'ablation et la fabrication de matière dans un système parfaitement intégré.

  • API

    Personnalisez votre ZEISS Crossbeam avec l'API distante

    L'interface de programmation ouverte de Crossbeam permet l'accès à pratiquement tous les paramètres du microscope.
    Contrôlez les optiques électroniques et ioniques, le stade, le système de vide, les détecteurs, le balayage et l'acquisition d'image avec des programmes personnalisés fonctionnement sur le système PC ou une station de travail distante.

    Visitez le le forum de développement Web SmartSEM API et discutez avec d'autres développeurs.

  • Logiciels

    ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie Multi-échelle

    Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail.

    Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre FIB-SEM ZEISS.

    Corrélez votre microscope à rayons X et votre FIB-SEM: utilisez les données de rayons X pour virtuellement localiser les caractéristiques enfouies et ciblez-les précisément avec votre FIB-SEM.

    Profitez de deux modules dédiés spécifiquement aux applications FIB: Créez automatiquement des données 3D avec le module 3D Tomography. Créez des tâches complexes de nanopatterning et de création de prototypes avec le module NPVE Advanced (nanopatterning and visualization engine)

    Pour plus d'infos

    Logiciel de visualisation et d'analyse

    Visualization and Analysis Software

    ZEISS recommande Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

    Une solution avancée d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par une variété de technologies, y compris les rayons X, FIB-SEM, SEM et microscopie à l'hélium.

    Anciennement Visual SI Advanced, Dragonfly Pro offre des techniques de visualisation haute définition et des graphiques de pointe. Dragonfly Pro prend en charge la personnalisation grâce à des scripts Python faciles à utiliser. Les utilisateurs ont maintenant le contrôle total de leur environnement de post-traitement des données 3D et des flux de travail.

    plus

     

  • Téléchargement

    ZEISS Crossbeam Family

    Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation

    Page(s): 20
    Volume de fichier: 11.734 kB

    X² STEM Lamella Preparation from Multicomposite Organic Electronic Devices with ZEISS FIB-SEMs

    Application Note

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 883 kB

    Technology Note: ZEISS Focused Ion Beam Column

    Enabling Precision and long-term Stability for Cutting Edge Crossbeam Applications

    Page(s): 6
    Volume de fichier: 1.891 kB

    ZEISS Crossbeam Family

    High Resolution STEM and EDS Study of Chromium Depletion in Stainless Steel

    Page(s): 5
    Volume de fichier: 1.615 kB

    ZEISS Crossbeam 550

    High Throughput Imaging

    Page(s): 5
    Volume de fichier: 2.045 kB

    ZEISS Crossbeam

    Reproducible TEM Lamella Thinning by FIB with Real-time Thickness Control and End-point Detection

    Page(s): 5
    Volume de fichier: 1.395 kB

    Application Note:

    FIB-SEM Investigations of the Microstructure of CIGS Solar Cells

    Page(s): 7
    Volume de fichier: 1.388 kB

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