Bénéficiez d’une productivité accrue avec une station de travail Open 3D Nano

Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu’à 100 nA avec un excellent profil de détection pour combler le vide entre le micropatterning et le nanopatterning.

Le système Crossbeam allie les performances de l’imagerie et de l’analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l’échelle nanoscopique. Utilisez le concept de plateforme modulaire et l’architecture ouverte et facilement extensible de cette station de travail nano 3D pour une nanotomographie et une nanofabrication haut débit des échantillons les plus exigeants, chargeants ou magnétiques.

Obtenez plus d'informations en moins de temps

• Accélérez votre nanotomographie et nanofabrication : combinez les performances du faible kV SEM et des courants FIB jusqu'à 100 nA.
• Obtenez un maximum d'informations : utilisez l'acquisition multi-détecteurs et la capacité simultanée d'usinage et d'acquisition d'image.
• Examinez de grands champs de vision avec une résolution jusqu'à 50 k x 40 k pixels - grâce à la technologie GEMINI et l'ensemble ATLAS 3D en option.
  

Conservez la maîtrise complète du process

• Profitez de la stabilité maximale et un profil de faisceau uniforme durant vos expériences exigeantes expériences à long terme.
• Changez les paramètres système comme un courant de sonde une tension d'accélération en temps réel lors de votre acquisition, sans devoir effectuer de réglages de l'image.
• Appréciez pleinement l'interface utilisateur graphique facile à comprendre.
  

Profitez d'une flexibilité maximale

• Améliorez facilement votre Crossbeam grâce à une large gamme de détecteurs et d'accessoires.
• Personnalisez votre système pour les expériences in situ.
• Avec l'API (interface de programmation d'application), vous avez accès à chacun des paramètre du microscope.
  

Crossbeam 340 avec GEMINI I VP

• Bénéficiez d'une flexibilité d'échantillon maximale dans des environnements polyvalents.
• Réalisez des expériences in situ avec des échantillons dégazants ou chargeants.
• Obtenez le contraste de matériaux unique de GEMINI grâce au détecteur Inlens Duo en option.
  

Crossbeam 540 avec GEMINI II

• Obtenez une haute résolution même à une faible tension et à un courant élevé grâce au système à double condensateur.
• Obtenez plus d'informations en moins de temps avec une imagerie haute résolution et une analyse rapide.
• Profitez du contraste topographique et de matière unique avec l'acquisition simultanée de Inlens SE et EsB.
  

Réalisez une ablation et une fabrication de matière

Améliorez votre Crossbeam aec un loser en option pour profiter de la technologie la plus rapide pour une ablation massive. En combinaison avec le courant élevé FIB, vous fabriquez des structures fonctionnelles telles que des dispositifs microfluidiques et des MEMS de l'ordre du millimètre au nanomètre.

Découvrez des zones cibles profondément enfouies ou coupez des échantillons fragiles qui ont tendance à s'étaler, se délaminer ou se comprimer. Avec votre Crossbeam et l'option laser, vous réalisez l'ablation et la fabrication de matière dans un système parfaitement intégré.

Personnalisez votre ZEISS Crossbeam avec l'API distante

L'interface de programmation ouverte de Crossbeam permet l'accès à pratiquement tous les paramètres du microscope.
Contrôlez les optiques électroniques et ioniques, le stade, le système de vide, les détecteurs, le balayage et l'acquisition d'image avec des programmes personnalisés fonctionnement sur le système PC ou une station de travail distante.

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