FIB-SEM
Les microscopes électroniques à balayage à faisceau d'ions focalisé ZEISS, en abrégé FIB-SEM, allient les performances de l'imagerie et de l'analyse 3D de la colonne GEMINI e-Beam avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l'échelle nanoscopique.
Crossbeam
Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu'à 100 nA avec un excellent profil de spot pour combler le vide entre la création de micro- de nanomotifs.