ZEISS LSM 800

LSM 800 pour les Matériaux

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LSM 800 pour les Matériaux

Votre microscope confocal modulaire pour la recherche et l'analyse de défaillance

Introduction

ZEISS LSM 800, le microscope confocal à balayage laser (CLSM), est le seul instrument dont vous aurez besoin pour l'analyse des matériaux. Caractérisez la topographie de surfaces 3D dans votre laboratoire ou votre plateform d'imagerie. LSM 800 permet l'imagerie en trois dimensions et l'analyse des nanomatériaux, des métaux, des polymères et des semi-conducteurs. Adaptez votre microscope droit, ZEISS Axio Imager.Z2m, avec un module de balayage confocal. Combinez les méthodes de contrastes essentielles pour les matériaux avec une grande précision en topographie. Sans changer de microscope, vous gagnerez du temps sur la préparation. Et les workflows guidés vous simplifient le travail. Profitez de l'architecture logicielle ouverte qui vous permet d'analyser vos échantillons avec vos propres macros.

Points Forts

Failure analysis, wear measurement on a display of a mobile phone

Combinez la microscopie optique et l'imagerie confocale

LSM 800, votre plateforme confocale haut de gamme, est fait pour les applications exigentes sur les matériaux, en 2D ou 3D. Utilisez en parallèles toutes les techniques de contrastes compatibles avec votre microscope droit.

  • Characteriser les structures en 3D en mode confocal ou avec la fluorescence.
  • Imagez les matériaux anisotropiques en polarisation.
  • Identifiez des régions d'intéret avec le contraste interférentiel différentiel (C-DIC) et étudiez plus précisément en mode confocal.  
LSM 800 acquisition Wizard

Imagerie simplifiée avec des workflows dédiés

Réduisez les temps de mise en place et obtenez des résultats rapidement en imageant et réalisant des analyses sans changer de microscope.

  • Définissez une surface à analyser, puis imager uniquement la zone d'intéret (ROI).
  • Wous avez un contrôle total sur la forme et la taille de votre ROI.
  • L'interface simplifiée vous aide à travers des workflows dédiés.
     

Elargissez vos capacités d'imagerie

L'unité confocale augmente vos capacités d'analyse en champ large.

  • Améliorez votre Axio Imager.Z2m avec LSM 800 et profitez de sa modularité, par exemple objectifs, platines, élairages.
  • Créez vos propres applications avec l'Open Application Development (OAD). Transférez les données vers des programmes externes comme MATLAB.
  • Profitez de Shuttle & Find, le module de microscopie corrélative. Il propose un workflow pour imager votre échantillon sur votre microscope optique vers votre microscope électronique – et vice versa. Vous combinez ainsi des méthodes d'imagerie et d'analyses complémentaires.

Le Principe du Microscope Confocal

Le principe du microscope confocal

Schéma du prinicipe confocal

Imagez votre échantillon en 3D

LSM 800 est un microscope confocal à balayage laser, qui utilise un rayonnement laser dans un trajet confocal pour sauvegarder des sections optiques de votre échantillon, et les recombine dans une pile d'images en 3D. Un diaphragme (couremment appelé pinhole) est positionné de manière à ce que toute information hors plan focal soit bloquée et que seulement l'information au point focal soit détectée..

  • Une image est obtenue en balayant dans les deux directions (x et y). L'information du plan focal est alors brillante tandis que tous les autres plans apparaissent sombres.
  • En modifiant la distance entre l'échantillon et la lentille objectif, l'échantillon est sectionné optiquement et une pile d'image est obtenue.
  • L'analyse de la distribution d'intensité pour un seul pixel au travers de la pile d'image permet de calculer la hauteur absolue de l'échantillon en ce point. Combiner les informations en altitude sur tout le champ balayé permet d'obtenir une carte d'altitude (height map).

Fiez-vous aux objectifs C Epiplan-APOCHROMAT

Déterminez la qualité des objectifs C Epiplan–APOCHROMAT avec le ratio de Strehl. Ce rapport donne la performance d'un système optique réel par rapppot à un système théorique parfait (avec un rapport de 1).

Déterminez la qualité des objectifs C Epiplan–APOCHROMAT avec le ratio de Strehl. Ce rapport donne la performance d'un système optique réel par rapppot à un système théorique parfait (avec un rapport de 1).

Utilisez les objectifs C Epiplan-APOCHROMAT, des objectifs apochromatiques et à champ plat, pour les applications en lumière réfléchie. 

  • Profitez de contrastes améliorés et d'une haute transmittivité dans le spectre visible.
  • Obtenez des resultats optimisés en microscopie champ large, DIC et fluorescence.
  • Les objectifs C Epiplan-APOCHROMAT sont spécialement conçus pour la micrsoscopie confocale, en minimisant les aberrations à 405 nm sur tout le champ. Vous obtiendrez des résultats précis avec peu de bruits et d'artéfacts de mesures.

OAD: Votre Interface avec le logiciel ZEN

OAD: Interface vers ZEN

OAD: Interface vers ZEN

ZEISS LSM 800 est contrôlé par la dernière version du logiciel d'imagerie ZEN qui inclu l'interface OAD.

  • Modifiez et automatisez vos workflows. Lorsque vous avez besoin de fonctionnalités plus spécifiques que celles proposées par ZEN, vous pouvez échanger et lancer des logiciels tiers pour analyser vos données.
  • Créez vos propres macros. Utilisez des fonctions ZEN spécifiques et la possibilité d'inclure des librairies de type .Net Framework pour créer des applications spécifiques.

Inspectez les surfaces en 3D avec ConfoMap

ConfoMap est l'option idéale pour visualiser et inspecter les surfaces en 3D.

  • Evaluez la qualité et les performance fonctionnelles de surfaces en suivant les dernieres normes comme par exemple la norme ISO 25178.
  • Incle de multiples fonctions pour créer des analyses complètes de vos surfaces – et créez des rapports d'analyses complets.
  • Ajoutez des modules complémentaires pour les analyses de textures, analyse de Fourier en 3D, statistiques, etc.

Téléchargements

ZEISS LSM 800

Your Versatile Confocal Microscope for Research and Failure Analysis

Page(s): 20
Volume de fichier: 6.561 kB

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

Page(s): 22
Volume de fichier: 12.414 kB

White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

Page(s): 6
Volume de fichier: 1.755 kB

Application Note

Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

Page(s): 5
Volume de fichier: 1.245 kB

Hotfixes & Servicepacks