Advanced User Meeting

Assistez à un évènement inédit à l'Institut Jacques Monod de Paris pour tester de plus près les technologies ZEISS, et découvrez en avant-première le tout nouveau Lattice SIM 3 !
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Profitez de cet évènement unique pour rencontrer des experts internationaux, (re)découvrir les technologies ZEISS, mettre à l'épreuve nos systèmes avec vos échantillons et découvrir un large éventail d'applications !

Découvrez l'intégralité du programme et lien d'inscription ci-dessous :

Agenda

Institut Jacques Monod - Paris

Day 1 Mardi 19 mars 2024

13:45 - 14:00

Reception

14:00 - 14:15

Welcome speech
Fabrice Schmitt, Directeur ZEISS Division Research Microscopy Solutions
Emmanuel Elias, Directeur des ventes

14:15 - 14:30

A New Blue Star is Born
Michael Gue, Spécialiste ZEISS Microscopie Optique 3D

14:30 - 15:30

Super-Resolution Microscopy: from concepts to practice
Debora Olivier, Product Manager Lattice SIM / Elyra

15:30 - 16:00

PML-NB imaging with Lattice 3D - SIM² and correlation with dSTORM imaging on 1 µm calibration spheres
Karine Monier, Ingénieure de Recherche CNRS

16:00 - 16:30

Coffee Break

16:30 - 16:45

Long term Volumetric Imaging of Living Cells
Michael Gue, Spécialiste ZEISS Microscopie Optique 3D

16:45 - 17:15

Quantifying the T-cell-mediated immune response exploiting advanced microscopy approaches
Marco Fritzsche, Scientific Director of the Oxford-ZEISS Centre of Excellence (UK)

Day 2 Mercredi 20 mars 2024

8:45 - 9:00

Reception

9:00 - 9:15

LSM, AiryScan, Dynamics Profiler - Short introduction
Michael Gue, Spécialiste ZEISS Microscopie Optique 3D

9:15 - 10:00

Comprehensive correlation analysis for super-resolution dynamic fingerprinted of cellular compartments using the Zeiss Airyscan detector Lorenzo Scipioni, Researcher at Laboratory for Fluorescence Dynamics (USA)

10:00 - 10:30

Dynamics Profiler - Session démonstration en remote
ZEISS Microscopy Customer Center - Steffen Burgold

10:30 - 11:00

Coffee Break

11:00 - 11:30

Unmix the complexities of life
Kalliopi Arkoudi, Product Manager / Sector ZEISS

11:30 - 12:00

Arivis
David Wiles, Ingénieur d'Applications ZEISS Arivis

12:00 - 14:00

Lunch cocktail

14:00 - 14:45

Lattice SIM - Remote demonstration session
ZEISS Microscopy Customer Center - Dr Abel Pereira de Graca

14:45 - 15:00

Coffee break

15:00 - 17:30

Arivis station, Lattice Lightsheet & Elyra 7 - Demonstration session

Day 3 Jeudi 21 mars 2024

8:45

Reception

9:00 - 10:00

ZEISS ZEN - Computational clearing, AI Sample Finder, Bio Apps, Data storage & Upgrade
Leslie Bancel Vallée, Davy Soleilhet, Julien Kissenberger, Sébastien Dupichaud
Ingénieurs d'Applications ZEISS Microscopie Optique

10:00 - 10:30

Automation - AxioScan, CD7 & LSM
Davy Soleilhet, Julien Kissenberger
Ingénieurs d'Applications ZEISS Microscopie Optique

10:30 - 11:00

Coffee break

11:00 - 11:15

Service - Presentation & Predictive maintenance 
Pierre Pallara, Responsable Service Technique ZEISS Microscopie Optique

11:15 - 11:45

Metrologie

- Calibration Objective
Michael Gue, Spécialiste ZEISS Microscopie Optique 3D

- Automated microscope quality assurance with ZEN for reproducible results and high up-time
Uros Krzic, Product Manager ZEISS Microscopy

11:45 - 12:00

Conclusion
Fabrice Schmitt, Directeur ZEISS Division Research Microscopy Solutions
Emmanuel Elias, Directeur des ventes

Intervenants

Marco Fritzsche

Scientific Director of the Oxford-ZEISS Centre of Excellence (UK)

Lorenzo Scipioni

Researcher at Laboratory for Fluorescence Dynamics (USA)

Karine Monier

Ingénieure de Recherche CNRS

Uros Krzic

Product Manager Zeiss Microscopy

Debora Olivier

Product Manager Lattice SIM / Elyra

Kalliopi Arkoudi

Product Manager / Sector ZEISS

Julien Kissenberger

Ingénieur d'Applications ZEISS Microscopie Optique

Davy Soleilhet

Ingénieur d'Applications ZEISS Microscopie Optique

Sébastien Dupichaud

Ingénieur d'Applications ZEISS Microscopie Optique

Michael Gue

Spécialiste ZEISS Microscopie Optique 3D

David Wiles

Ingénieur d'Applications ZEISS Arivis

Pierre Pallara

Responsable Service Technique ZEISS Microscopie Optique

Leslie Bancel Vallée

Ingénieure d'Applications ZEISS Microscopie Optique

Formulaire d'inscription

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