Workshop ZEISS - La microscopie électronique, ionique et rayons X

Workshop au C2N à Palaiseau, le 24 octobre 2019

Nous avons le plaisir de vous inviter au prochain workshop ZEISS, qui aura lieu le 24 octobre 2019 dans les locaux du C2N à Palaiseau. Ce worskhop portera sur : « La microscopie Electronique, ionique, rayon X au service de la caractérisation des nanotechnologies ».

Acteur moteur de nouvelles technologies, ZEISS propose une large gamme de microscopes automatisés permettant un accès simple et autonome à l’imagerie de pointe.

Nous vous invitons à découvrir nos différents équipements mis à disposition pour cet évènement au sein de plusieurs ateliers animés par ZEISS ainsi que par des intervenants du C2N.

Nous sommes impatients de vous rencontrer lors de cet évènement.

Les équipes de ZEISS Microscopie et du C2N.

Programme du workshop

Jeudi 24 octobre 2019

Matinée

9h00

Accueil et présentation du workshop  

Fabien Bayle (C2N) + Jerome Miailhe (ZEISS)      

 9h15  

Présentation du C2N et de ses plateformes                     

// Salle blanche, personnels et équipements  

Simon Jumel (C2N)

 9h30

Présentation du Groupe ZEISS

Jerome Miailhe (ZEISS)

 9h45

Présentation de PIMENT (Plateforme d’Innovation en Micro-Nanotechnologies)                   

// Dépôts, Lithographie, Gravure, Caractérisation

Christian Ulysse (C2N)

 10h00

Introduction des dernières avancées de microscopie appliquées aux sciences des matériaux

// SEM, FIB and XRM

Jerome Miailhe (ZEISS)

 10h30

Pause café

 

 10h45

Microscopie Rayons-X (XRM)                                             

// Imagerie 3D & 4D pour les sciences des matériaux

Nicolas Gueninchault (ZEISS)

 11h25

Présentation de PANAM (Plate-forme d’analyse Avancée des Matériaux)            

// DRX appliquée aux nanostructures, MET, AFM

Ludovic Largeau (C2N), Olivia Mauguin (C2N)

 11h45

ZEISS Orion NanoFab                                                         

// Microscope ionique à balayage multi-source pour les applications sub-nanométriques et analyses SIMS

Peter Gnauck (ZEISS)

 12h30

Déjeuner

 

Jeudi 24 octobre 2019

Après-midi

 

13h45

 

Quelques exemples d’applications avec le système Orion Nanofab

 

Dominique Mailly (C2N)                                                         

 14h15

Challenge des analyses multi-échelles   

// Microscopie corrélative avec Atlas 5
// De l’analyse non destructive XRM à l’acquisition de données HR 3D en FIB/SEM

Jerome Miailhe (ZEISS)

 14h45

Mise en oeuvre en France d’une chaîne de traçabilité pour les mesures dimensionnelles à l’échelle nanométrique conduites par AFM et MEB

Sebastien Ducourtieux (LNE)

 15h00

Exemples d’utilisation du MEB en nanotechnologies       

// Prise de contact électrique sur nanofil unique,
// Observation à froid de nanoparticules d’un liquide,
// Observation de nanoparticules sur isolant sans métallisation

Fabien BAYLE (C2N)

 15h30

Caractérisation de films Getters pour le vide

//Analyses MEB, EDX, TEM, RBS...,

Sylvain Lemettre (C2N)

 16h00

PANAM-EQUIPEX Tempos

// Préparation de lames TEM par FIB,,
// Analyse chimique sur TEM corrigé des aberrations (NanoTEM),
// Croissance in-situ de nanofils III-V par Epitaxie par Jet Moléculaire (NanoMAX)

Ludovic Largeau (C2N, Gilles Patriarche (C2N)

 16h30

 

Discussion et table ronde

 

 

 17h00

 

Visite de la salle blanche

 

 

 18h00

 

Fin du workshop

 

 

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