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ZEISS Xradia 800 Ultra

Votre système d'imagerie 3D non destructive à ultra-haute résolution

ZEISS Xradia 800 Ultra

Des performances similaires au synchrotron en laboratoire

Avec le microscope à rayons X ZEISS Xradia 800 Ultra, obtenez une résolution spatiale aussi basse que 50 nm, la plus élevée parmi les systèmes d'imagerie par rayons X de laboratoire. Avec l'imagerie 3D non destructive qui joue un rôle essentiel dans la recherche de pointe actuelle, vous découvrirez des performances inégalées dans un système de laboratoire à ultra-haute résolution. L'architecture innovante Xradia Ultra dispose des modes d'imagerie à contraste d'absorption et de phase et d'une énergie de rayons X de 8 keV, employant une optique unique adaptée du synchrotron. Avec Xradia 800 Ultra, attendez-vous à obtenir des capacités in-situ et 4D inégalées pour l'étude de l'évolution des matériaux dans le temps et repoussez les limites de l'imagerie par rayons X utilisée en science des matériaux, sciences de la vie, ressources naturelles et diverses applications industrielles.

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Avec une résolution aussi fine que 50 nm, Xradia 800 Ultra vous apporte une vision en profondeur des structures microscopiques et des processus qui étaient précédemment inaccessibles avec la technologie à rayons X de laboratoire conventionnelle. Fonctionnant avec des rayons X de 8 keV, il offre une pénétration et un contraste excellents pour une vaste gamme de matériau, vous permettant ainsi d'observer des structures et des matériaux dans leur état naturel.

La technologie de contraste de phase intégrée ZEISS, qui emploie la méthode Zernike, améliore la visibilité des bords des grains et des jonctions de la matière lorsque le contraste d’absorption est faible, ce qui vous permet de visionner des ultra- et nanostructures sans coloration.

ZEISS Xradia 800 Ultra fournit des informations 3D internes fiables qui ne sont généralement accessibles qu'avec des méthodes destructives comme la coupe transversale. La grande distance de travail et l’environnement atmosphérique de l’échantillon vous permet de réaliser des études in-situ en toute simplicité.

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  • L’imagerie par rayons X 3D non destructive permet la capture répétitive d’images du même échantillon et ainsi l'observation directe de l'évolution microstructurale
  • La résolution élevée de 50 nm à peine est maintenue pour l'imagerie d'échantillons à l'intérieur des dispositifs in-situ
  • Alignement automatique des images pour la reconstruction tomographique
  • Champ de vision commutable allant de 15 à 60 µm
  • Modes d’imagerie à contraste d’absorption et à contraste de phase de Zernike
  • Développez, préparez et testez vos expériences de synchrotron prévues dans votre laboratoire afin de pouvoir exploiter au maximum la disponibilité limitée du temps de faisceau du synchrotron
 
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Recherche sur les matériaux
Pour le développement de matériaux avancés : étudiez et prévoyez les propriétés et l'évolution des matériaux. Caractérisez les structures 3D des matériaux composites tels que les piles à combustible, les polymères et les composites. Mesurez et identifiez la porosité, les fissures, la distribution de phase, etc. Des matériaux de densités différentes peuvent être segmentés grâce à l'utilisation de l'imagerie à contraste d'absorption.

Ressources naturelles
Études de faisabilité de forage pétrolier & gazier : analysez une carotte virtuelle pour obtenir des résultats plus rapidement. Les mesures de la structure poreuse à l'échelle nanométrique pour des échantillons géologiques peuvent à présent se dérouler en quelques heures, contrairement l'analyse d'une carotte traditionnelle. Réalisez la modélisation de l'écoulement à l'échelle nanométrique pour compléter l'imagerie submicronique avec le microscope Versa.

Sciences de la vie
Xradia 800 Ultra offre la possibilité de visualiser la structure interne des échantillons biologiques tels que les os et les tissus mous avec une résolution aussi faible que 50 nm. Il offre une imagerie par rayons X 3D au contraste supérieur et à l'échelle nanométrique pour une grande diversité de matériaux tels que les polymères pour l'administration de médicaments, les échantillons de tissus et les cadres pour l’ingénierie tissulaire.

Électronique
Xradia 800 Ultra permet la visualisation des échantillons de semiconducteurs pour la recherche et le développement des boîtiers des composants électroniques.

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Xradia Ultra Load Stage: Un accessoire optionnel

Platine de tests nanomecaniques In situ pour l'imagerie 3D

Comprendre les modifications de la nanostructure en 3D sous une charge

La platine ZEISS Xradia Ultra Load Stage vous permet d'effectuer des tests nanomecanique in situ - compression, tension, indentation - tout en imageant en 3D. Etudiez l'évolution des structures internes en 3 dimension, sous une charge, et jusqu'à 50 nm de résolution. Comprenez comment les déformations et défaillances sont reliées à des object localisés de taille nanoscopique. Ajoutez cette technique aux méthodes d'essais mécaniques existantes pour mieux comprendre le comportement des matériaux sur plusieurs ordres de grandeur différents.

Points forts

  • Ajoutez des capacités de tests nanomécaniques in situ à votre  your Xradia Ultra nanoscale 3D X-ray microscope (XRM)
  • Enregistrez des tomogrammes de votre échantillon en 3D sous un charge avec une résolution jusqu'à 50nm
  • Effectuez différents type de test comme ceux de compression, tension, indentation
  • Etudiez un large éventail de matériaux, y compris les métaux, les céramiques, les composites, les polymères et les biomatériaux
  • Agrémentez vos résultats mécaniques d'informations obtenues avec la microscopie électronique, la micro CT et des tests autonomes pour comprendre le comportement de vos échantillons sur plusieurs ordres de grandeurs: du niveau atomique à l'échelle nanométrique puis microscopique et enfin macroscopique.
  • Disponible en deux modèles avec différentes charges:
    • LS108: 0.8 N maximum
    • LS190: 9 N maximum  
  • Compatible avec:
    • ZEISS Xradia 800 Ultra
    • ZEISS Xradia 810 Ultra
    • Xradia UltraXRM-L200
    • Xradia nanoXCT-200

Fonctionnement:

ZEISS Xradia Ultra Load Stage peut etre facilement configurée par l'utilisateur. can be easily configured by the user. Il comprend un actuateur piézomécanique contrôlé par un système de boucle fermée, un capteur de force et une ensemble d'enclumes permettant les différents types de tests mécaniques. L'échantillon est positionné entre les deux enclumes et un capteur mesure la force exercée sur l'échantillon en fonction du déplacement des enclumes.

MODES

Compression
Observer la déformation et la défaillance des matériaux sous une charge uniaxiale en compression. Etudier les déformations élastiques et plastiques et déterminer si les effets sont uniformes, anisotropiques ou localisés par rapport aux nanostructures commes les pores, interstices ou interfaces.

Tension
Observer la déformation et la défaillance des matériaux sous une charge uniaxiale en tension. Comprendre les propriétés critiques comme le module élastique, le rendement de résistance en traction et comment ils sont liés aux caractéristiques nanostructurelles de l'échantillon. 

Indentation
Etudier la déformation et défaillance localisée autour de la zone d'indentation. Comprendre la génération et propagation des fissures ou la délamination des révêtements et structures lamellaires.

Principales applications

Les tests nanomécaniques in situ sont utiles dans une large gamme d'applications couvrant à la fois les matériaux manufacturés et naturels. Parmis ces matériaux, on peut citer:

  • Alliages à haute résistance
  • Biomatériaux
  • Revêtements
  • Matériaux de contruction
  • Fibres / composites
  • Mousses

Logiciel d'analyse et de visualisation

ZEISS recommende Visual SI Advanced de Object Research Systems (ORS)

Une solution logicielle d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par différentes techniques comme la microscopie à rayons X, la microscopie ionique (FIB/SEM) et la microscopie électronique à balayage (SEM).

En utilisant des techniques de visualisation et de rendu avancées, Visual SI permet l'exploration en haute définition des détails et propriétés de vos données 3D.
 

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