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ZEISS Xradia 810 Ultra

Extension de la portée et de la valeur de l'imagerie non destructive à l'échelle nanométrique

ZEISS Xradia 810 Ultra

Explorez à la vitesse de la science

Avec le microscope à rayons X ZEISS Xradia 810 Ultra, obtenez une résolution spatiale aussi basse que 50 nm, la plus élevée parmi les systèmes d'imagerie par rayons X de laboratoire. Découvrez des performances et une flexibilité inégalées avec l'imagerie 3D non destructive qui joue un rôle essentiel dans la recherche de pointe actuelle. L'architecture innovante Xradia Ultra, avec son optique à rayons X exclusive adaptée de la technologie du synchrotron, dispose du contraste d'absorption et de phase. Avec une énergie de 5,4 keV, vous pouvez à présent multiplier par 10 le débit de votre imagerie à l'échelle nanométrique. Obtenez un contraste et une qualité d'image encore meilleurs pour des échantillons de Z moyen à faible avec l'énergie plus faible de Xradia 810 Ultra. Attendez-vous à disposer de capacités in-situ et 4D avancées pour étudier l'évolution structurale dans le temps et sous des conditions variables. Repoussez les limites de l'exploration avec l'imagerie par rayons X 3D pour la recherche sur les matériaux, les sciences de la vie, les ressources naturelles et diverses applications industrielles.

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Une résolution maximale, et même un contraste supérieur, plus rapidement

Les solutions ZEISS produisent la seule imagerie par rayons X 3D non destructive au monde avec une résolution aussi basse que 50 nm dans un instrument de laboratoire. En association avec le contraste d'absorption et de phase de Zernike, ZEISS Xradia 810 Ultra emploie une optique de pointe adaptée du synchrotron pour fournir la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché pour votre recherche. Cet instrument innovant permet une recherche de pointe en ajoutant une étape essentielle, et non destructive, à votre workflow d'imagerie traditionnel.

En offrant à vos études un contraste plus élevé à 5,4 keV, Xradia 810 Ultra rend l'imagerie par rayons X à haute résolution viable pour de nombreux matériaux dont les images sont difficiles à capturer. Optimisez votre imagerie avec le contraste d'absorption et de phase pour une gamme variée de matériaux tels que les polymères, les oxydes, les composites, les piles à combustible, les échantillons géologiques et les matières biologiques. Après avoir innové dans le domaine de l'imagerie par rayons X à l'échelle nanométrique auprès d'installations de synchrotron et de laboratoires renommés dans le monde entier, ZEISS XRM offre des solutions révolutionnaires pour amener vos études à l'avant-garde de la recherche.

En augmentant d'un ordre de grandeur la vitesse d'imagerie par rayons X à l'échelle nanométrique, Xradia 810 Ultra optimise la rentabilité de la XRM à la fois en science et en industrie. Pour les laboratoires de microscopie centraux, un workflow plus rapide se traduit en un nombre plus élevé d'utilisateurs qui sont en mesure de tirer parti de l'instrument en moins de temps, ce qui à son tour élargit la XRM à une base d'abonnés plus large. De même, vous pouvez réaliser rapidement et répéter des études 4D et in-situ de structures internes, rendant ces techniques viables pour de nombreuses autres applications. Et si vos applications sont très ciblées, par exemple la physique numérique des roches utilisée pour les études de faisabilité dans l'extraction de pétrole et de gaz, Xradia 810 Ultra produit des mesures que vous pouvez utiliser pour caractériser les paramètres critiques comme la porosité en quelques heures à peine.

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Recherche sur les matériaux
Optimisez l'étude et la conception de matériaux fonctionnels : batteries, piles à combustible, catalyseurs, composites, matériaux de construction. Obtenez des données de la microstructure 3D réalistes afin d'améliorer les modèles de calcul informatique pour la conception des matériaux d'un bout à l'autre. Étudiez et prévoyez les propriétés des matériaux et l'évolution de la nanostructure. Examinez la porosité, les fissures et la distribution de phase des matériaux en quelques heures plutôt qu'en plusieurs jours. Utiliser la cartographie en 3D pour une meilleure compréhension des propriétés et des comportements : porosité/connectivité des pores, orientation des fibres, propagation des fissures, taille/distribution des particules, délamination. L'imagerie non destructive à haute résolution facilite les études en 4D et in-situ, avec un contraste élevé pour les matériaux à Z moyen à faible.

Ressources naturelles
Utilisez la microscopie par rayons X à l'échelle nanométrique pour déterminer la structure des roche magasin non conventionnelles (carbonate, schiste), obtenir en quelques heures les paramètres de caractérisation (porosité, perméabilité) utilisés dans les simulations d'écoulement afin d'optimiser l'extraction. Réalisez des mesures de la structure des pores à l'échelle nanométrique 10 fois plus rapidement pour la physique numérique des roches et l'analyse des carottes spéciales, en obtenant ainsi des résultats beaucoup plus rapidement.

Sciences de la vie
Imagerie des tissus tendres et durs : les microtubules dans la dentine, les lacunes d'ostéocyte et les canalicules dans les os, les biocadres pour l’ingénierie tissulaire, les agglomérations de nanoparticules dans des matières organiques.

Électronique
Optimisez le développement de vos boîtiers grâce à la visualisation à l'échelle nanométrique des échantillons de semiconducteurs pour la recherche et le développement des boîtiers des composants électroniques.

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  • L’imagerie par rayons X 3D ayant la résolution la plus élevée, jusqu’à 50 nanomètres, dans un laboratoire
  • L’imagerie par rayons X 3D non destructive permet la capture répétitive d’images du même échantillon et ainsi l'observation directe de l'évolution microstructurale
  • Contraste à la fois d’absorption et de phase de Zernike pour capturer des images d’une gamme variée de matériaux – à Z moyen à faible, des carbonates au schiste, des tissus aux biomécanismes – jusqu’à 10 fois plus rapidement à l’échelle nanométrique
  • Des résultats en qualité synchrotron dans votre laboratoire sans le défi du chercheur lié à l’accès limité aux synchrotrons ou à l'optimisation de la rentabilité du temps de synchrotron.
  • Rentabilité améliorée reposant sur des temps d’acquisition d’image plus courts afin d’élargir le champ d’action du laboratoire de microscopie central à un plus large éventail de chercheurs
  • Champ de vision commutable de 16 à 65 µm, le niveau le mieux adapté à vos besoins en imagerie
  • Maintien de la résolution élevée pendant l'imagerie d'échantillons à l'intérieur des dispositifs in-situ
  • Alignement automatique des images pour la reconstruction tomographique
  • Develop, prepare and test your planned synchrotron experiments in your laboratory to make limited availability of synchrotron beam time more efficient

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Xradia Ultra Load Stage: Un accessoire optionnel

Platine de tests nanomecaniques In situ pour l'imagerie 3D

Comprendre les modifications de la nanostructure en 3D sous une charge

La platine ZEISS Xradia Ultra Load Stage vous permet d'effectuer des tests nanomecanique in situ - compression, tension, indentation - tout en imageant en 3D. Etudiez l'évolution des structures internes en 3 dimension, sous une charge, et jusqu'à 50 nm de résolution. Comprenez comment les déformations et défaillances sont reliées à des object localisés de taille nanoscopique. Ajoutez cette technique aux méthodes d'essais mécaniques existantes pour mieux comprendre le comportement des matériaux sur plusieurs ordres de grandeur différents.

Points forts

  • Ajoutez des capacités de tests nanomécaniques in situ à votre  your Xradia Ultra nanoscale 3D X-ray microscope (XRM)
  • Enregistrez des tomogrammes de votre échantillon en 3D sous un charge avec une résolution jusqu'à 50nm
  • Effectuez différents type de test comme ceux de compression, tension, indentation
  • Etudiez un large éventail de matériaux, y compris les métaux, les céramiques, les composites, les polymères et les biomatériaux
  • Agrémentez vos résultats mécaniques d'informations obtenues avec la microscopie électronique, la micro CT et des tests autonomes pour comprendre le comportement de vos échantillons sur plusieurs ordres de grandeurs: du niveau atomique à l'échelle nanométrique puis microscopique et enfin macroscopique.
  • Disponible en deux modèles avec différentes charges:
    • LS108: 0.8 N maximum
    • LS190: 9 N maximum  
  • Compatible avec:
    • ZEISS Xradia 800 Ultra
    • ZEISS Xradia 810 Ultra
    • Xradia UltraXRM-L200
    • Xradia nanoXCT-200

Fonctionnement:

ZEISS Xradia Ultra Load Stage peut etre facilement configurée par l'utilisateur. can be easily configured by the user. Il comprend un actuateur piézomécanique contrôlé par un système de boucle fermée, un capteur de force et une ensemble d'enclumes permettant les différents types de tests mécaniques. L'échantillon est positionné entre les deux enclumes et un capteur mesure la force exercée sur l'échantillon en fonction du déplacement des enclumes.

MODES

Compression
Observer la déformation et la défaillance des matériaux sous une charge uniaxiale en compression. Etudier les déformations élastiques et plastiques et déterminer si les effets sont uniformes, anisotropiques ou localisés par rapport aux nanostructures commes les pores, interstices ou interfaces.

Tension
Observer la déformation et la défaillance des matériaux sous une charge uniaxiale en tension. Comprendre les propriétés critiques comme le module élastique, le rendement de résistance en traction et comment ils sont liés aux caractéristiques nanostructurelles de l'échantillon. 

Indentation
Etudier la déformation et défaillance localisée autour de la zone d'indentation. Comprendre la génération et propagation des fissures ou la délamination des révêtements et structures lamellaires.

Principales applications

Les tests nanomécaniques in situ sont utiles dans une large gamme d'applications couvrant à la fois les matériaux manufacturés et naturels. Parmis ces matériaux, on peut citer:

  • Alliages à haute résistance
  • Biomatériaux
  • Revêtements
  • Matériaux de contruction
  • Fibres / composites
  • Mousses

Logiciel d'analyse et de visualisation

ZEISS recommende Visual SI Advanced de Object Research Systems (ORS)

Une solution logicielle d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par différentes techniques comme la microscopie à rayons X, la microscopie ionique (FIB/SEM) et la microscopie électronique à balayage (SEM).

En utilisant des techniques de visualisation et de rendu avancées, Visual SI permet l'exploration en haute définition des détails et propriétés de vos données 3D.
 

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