Back To Top

MERLIN

La puissance d'analyse à l'échelle subnanométrique

Microscope électronique à balayage MERLIN

 

 

Regarder la séquence vidéo sur le produit

MERLIN

De l'imagerie à votre laboratoire complet : la puissance d'analyse à l'échelle subnanométrique

MERLIN doté de la colonne GEMINI II combine en un seul et même système une analyse ultra-rapide, l'imagerie à haute résolution en utilisant des modes de détection avancés et une souplesse de configuration permettant de faire face aux futures évolutions.

Grâce à l'optique GEMINI II pré-alignée, les paramètres d'imagerie tels que la tension ou le courant de sonde peuvent être ajustés en continu sur l'ensemble de la gamme afin de s'adapter parfaitement à votre application et à votre échantillon sans qu'aucun réalignement ne soit nécessaire. Même les utilisateurs novices obtiendront des résultats optimaux. L'optimisation du système pour une haute densité de courant, des courants de sonde jusqu'à 300 nA et une résolution supérieure aux courants de faisceau élevés garantissent des résultats rapides en nano-analyse.

Recevez un maximum d'informations de votre échantillon avec la détection en parallèle d'électrons secondaires (SE) dans l'axe intégrée dans la colonne et la détection des électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie (EsB) capable d'identifier les plus petites différences dans la composition des matériaux.

Grâce à la conception modulaire de sa chambre, aux plus de 15 ports et à une multitude de modules spécifiques aux applications, y compris la microscopie à force atomique (AFM), l'ultra-microtomie in-situ, la cartographie de grandes surfaces et la compensation locale de la charge pour une imagerie simplifiée des échantillons non conducteurs, votre MERLIN est fourni avec la souplesse nécessaire pour évoluer avec vos applications depuis un microscope électronique à balayage jusqu'à un laboratoire de nano-caractérisation complet.

Contactez dès maintenant votre interlocuteur chez ZEISS pour en savoir plus sur MERLIN !

Données
Résolution
jusqu'à 0,6nm (mode STEM)
Courant de sonde
jusqu'à 300nA
Tension d'accélération
20 V à 30 kV
  
Modes de détection (sélection)
 
In-lens (SE)
détection d'électrons secondaires dans l'axe intégrée dans la colonne
In-lens (EsB)
détection en parallèle des électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie dans l'axe intégrée dans la colonne pour des contrastes de matériaux; imagerie SE et EsB intégrées dans la colonne
Détecteur de rétrodiffusion à sélectivité angulaire (AsB)
Pour les contrastes cristallographiques.
3DSMPour la visualisation de topographie de surface 3D en temps réel.
STEM Imagerie en transmission optimisée basse tension pour champ clair, champ sombre 4 quadrants et champ sombre à grand angle.
  
Modules d'application (sélection) 
Cartographie de grandes surface ATLAS Pour la cartographie de grandes zones d'échantillon.
Microscopie à force atomique (AFM)Extension de votre MEB pour la résolution des couches atomiques individuelles et pour l'étude du magnétisme de surface ou de la conductivité locale.
Compensation locale de la charge Imagerie d'échantillons non conducteurs sans aucun compromis en détection.
3ViewUltra-microtome in-situ pour réaliser des reconstructions 3D de grands volumes de matière molle.

Contactez dès maintenant votre interlocuteur chez ZEISS pour en savoir plus sur MERLIN !

Aussi polyvalent que vos applications

Apprenez-en plus sur les nanomatériaux, les échantillons de semiconducteurs, les minéraux, les aciers ou alliages – utilisez simplement la gamme d'options spécifiques à vos application

  • Utilisez l'option hybride MEB/AFM (microscopie à force atomique) et obtenez des informations sur vos échantillons de semiconducteurs et de nanomatériaux à une résolution atomique
  • Cartographiez de vastes zones des échantillons pour vérifier la conception des structures semiconductrices avec le module de cartographie de surface étendue ATLAS
  • Explorez les échantillons non conducteurs tels que les minéraux, les céramiques, le verre et les polymères sans compromis au niveau de la tension du faisceau, de la détection et de l'analyse grâce à la compensation de la charge par pression variable localisée
  • Déterminez facilement la topographie et la rugosité de la surface des dispositifs MEMS, des nanostructures, des empreintes pour les mesures de la dureté ou les marques de grattage dans les enquêtes médico-légales avec le module d'imagerie 3DSM en temps réel
  • Capturez les images d'échantillons magnétiques sans distorsion d'image grâce à la construction de la lentille GEMINI.
  • Ajoutez l'ultra-microtome 3View pour réaliser des reconstructions 3D de grands volumes de matière molle.

Image de fibres à haut pouvoir isolant avec compensation de charge par pression variable localisée.

Contactez dès maintenant votre interlocuteur chez ZEISS pour en savoir plus sur MERLIN !

Les performances des matériaux modernes, des nanocomposites, des polymères, des aciers à haute résistance et des structures semiconductrices sont hautement dépendantes des plus petits détails de leur composition. Le système complet de détection MERLIN avec détection des électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie (EsB) dans l'axe est idéalement adapté pour révéler ces détails de la composition. Le filtrage en énergie permet de différencier les changements dans le régime de faible perte des électrons rétrodiffusés, qui est sensible aux composés de matériaux et à leurs dérivés et phases. La conception exclusive du détecteur, symétrique et dans l'axe, permet d'éliminer presque totalement tout besoin de réalignement lorsque les paramètres de fonctionnement changent.

Les signaux provenant d'autres détecteurs, tels que le détecteur d’électrons secondaire in-lens, peuvent en outre être enregistrés et affichés en parallèle pour une caractérisation complète de l'échantillon.

 

Image de trois modifications du carbone par détection EsB à faibles pertes : carbone amorphe sombre, diamant gris foncé, graphite léger gris clair

Image de trois modifications du carbone par détection EsB à faibles pertes : carbone amorphe sombre, diamant gris foncé, graphite léger gris clair

Contactez dès maintenant votre interlocuteur chez ZEISS pour en savoir plus sur MERLIN !

ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie Multi-échelle

Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail. Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre MEB ZEISS.

 

 

Pour plus d'infos

3D Surface Modelling – 3DSM

Votre MEB mesure et analyse n'importe quel échantillon en 2D; pour étudier la surface de l'échantillon en 3D, utilisez le module 3DSM. 3DSM, une application ZEISS vour fournit des information topographiques par la reconstruction d'un modèles 3D complet de la surface à partir des signaux du détecteur AsB de votre MEB.


Pour plus d'infos

Logiciel d'analyse et de visualisation

ZEISS recommende Visual SI Advanced de Object Research Systems (ORS)

Une solution logicielle d'analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par différentes techniques comme la microscopie à rayons X, la microscopie ionique (FIB/SEM) et la microscopie électronique à balayage (SEM).

En utilisant des techniques de visualisation et de rendu avancées, Visual SI permet l'exploration en haute définition des détails et propriétés de vos données 3D.
 

plus

 

White Paper: Electron backscatter diffraction (EBSD)

of nonconductive samples using in-situ charge compensation

Page(s): 7
Volume de fichier: 2.931 kB
Révision 2013-05-07

 

Nous utilisons des cookies sur ce site Internet. Les cookies sont de petits fichiers textes enregistrés sur votre ordinateur par des sites Internet. Les cookies sont largement répandus et permettent d'optimiser la présentation des pages Web et de les améliorer. En continuant à naviguer sur ce site, vous déclarez accepter les cookies. plus

OK