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FIB-SEM

Votre système pour des performances incomparables du faisceau d'ions.

FIB-SEM

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Les microscopes électroniques à balayage à faisceau d'ions focalisé ZEISS, en abrégé FIB-SEM, allient les performances de l'imagerie et de l'analyse 3D de la colonne GEMINI e-Beam avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l'échelle nanoscopique.

FIB-SEM AURIGA

Crossbeam

Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu'à 100 nA avec un excellent profil de spot pour combler le vide entre la création de micro- de nanomotifs.

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