Microscopes à rayons X ZEISS Xradia Versa
Produit

Microscopes à rayons X ZEISS Xradia Versa

Découvrez davantage de détails grâce à l'imagerie à rayons X 3D non destructive à résolution submicronique

Les microscopes à rayons X 3D (XRM) ZEISS Xradia Versa, extrêmement polyvalents, offrent une image en 3D et des données de qualité supérieure pour de très nombreux matériaux et environnements de travail. Les XRM Xradia Versa proposent un grossissement en deux étapes basé sur une optique calibrée sur synchrotron et sur la technologie révolutionnaire RaaD™ (résolution à distance) pour obtenir une haute résolution, même à de grandes distances de travail. Il s'agit là d'une amélioration conséquente par rapport à la micro-tomographie classique. De plus, l'imagerie non destructive préserve et prolonge l'utilisation de vos précieux échantillons et permet ainsi les observations en 4D et in situ.

  • Accessibilité, productivité, fonctionnalités avancés - ZEISS Xradia 630 Versa
  • Vaste choix de fonctionnalités - ZEISS Xradia 620 Versa
  • Imagerie submicronique plus rapide - ZEISS Xradia 610 Versa
  • Souplesse et facilité d'utilisation - ZEISS Xradia 510 Versa

Xradia 630 Versa

Doté des capacités énergétiques supérieures de l'objectif 40X Prime, ZEISS Xradia 630 Versa repousse comme jamais auparavant les limites de l'imagerie submicronique.
Le système atteint des performances de résolution inégalées de 450-500 nm sur toute la gamme d'énergie, de 30 kV à 160 kV, révélant de nouvelles possibilités pour vos recherches. NavX guide les utilisateurs à travers des flux de tâches automatisés grâce aux informations issues de systèmes intelligents et fournit ainsi des résultats avec simplicité et efficacité. Basé sur l'intelligence artificielle, DeepScout change la donne en matière de compréhension de votre échantillon, avec un rendement 100 fois plus rapide.

ZEISS Xradia 630 Versa

Xradia 630 Versa

Doté des capacités énergétiques supérieures de l'objectif 40X Prime, ZEISS Xradia 630 Versa repousse comme jamais auparavant les limites de l'imagerie submicronique. Le système atteint des performances de résolution inégalées de 450-500 nm sur toute la gamme d'énergie, de 30 kV à 160 kV, révélant de nouvelles possibilités pour vos recherches. NavX guide les utilisateurs à travers des flux de tâches automatisés grâce aux informations issues de systèmes intelligents et fournit ainsi des résultats avec simplicité et efficacité. Basé sur l'intelligence artificielle, DeepScout change la donne en matière de compréhension de votre échantillon, avec un rendement 100 fois plus rapide.

Un objectif sans pareil avec le 40X-P

Un objectif sans pareil avec le 40X-P

Des performances de résolution sans égales pour élargir vos perspectives de recherche

L'objectif ZEISS 40X-Prime

Les séries ZEISS Xradia 600 Versa disposant de plus de photons à rayons X, vous pouvez désormais obtenir un temps de réponse encore plus rapide pour des échantillons variés sans compromettre la résolution. L'objectif 40X-Prime (40X-P) est unique à ZEISS Xradia 630 Versa.

Doté des capacités énergétiques supérieures de l'objectif 40X-Prime (40X-P), le microscope à rayon X ZEISS Xradia 630 Versa permet de repousser les limites de l'imagerie submicronique comme jamais auparavant. Connues pour leur capacité à atteindre une résolution à distance (RaaD™), les plateformes ZEISS Xradia Versa permettent d'obtenir une imagerie haute résolution d'une grande variété de types et de tailles d'échantillons sur une vaste plage d'échelles de longueur.

L'objectif 40X-P permet au système d'atteindre des performances de résolution sans égales de 450-500 nm sur toute la gamme de tension de source, de 30 kV à 160 kV, définissant RaaD 2.0. Révélant de toutes nouvelles possibilités d'application pour les chercheurs, l'objectif ZEISS 40X-P permet au ZEISS Xradia 630 Versa de repousser les normes industrielles en matière de résolution d'imagerie submicronique.

Interface utilisateur NavX

Interface utilisateur NavX

Interface utilisateur NavX

Interface utilisateur NavX

Interface utilisateur NavX

Interface utilisateur NavX

Les principes physiques de l'imagerie par rayons X peuvent être complexes. C'est pourquoi les chercheurs ZEISS en microscopie par rayons X ont analysé les habitudes des utilisateurs, ont examiné les défis auxquels ils sont confrontés et ont eu recours aux principes de conception basée sur l'humain (HCD) afin de permettre à l'utilisateur le plus inexpérimenté d'être immédiatement opérationnel, même en cas de tumulte. NavX™, la nouvelle interface utilisateur pour ZEISS Xradia 630 Versa, guide les utilisateurs à travers des flux de tâches automatisés grâce à des informations issues de systèmes intelligents et fournit des résultats d'expérience plus facilement et efficacement tout en permettant aux utilisateurs expérimentés d'explorer toute la polyvalence de la plateforme.

NavX permet d'automatiser votre flux de tâches et vous guide en vous indiquant l'influence des paramètres que vous choisissez sur votre installation. Cette aide au paramétrage est intégrée au logiciel et vous guide facilement et intuitivement dans les différents choix.

De plus, le module NavX File Transfer Utility (FTU) récupère les données produites par le microscope et les transfère automatiquement vers d'autres emplacements pour que les utilisateurs puissent y accéder là où ils en ont besoin, quand ils en ont besoin. Ces avancées permettent à NavX d'encore mieux fonctionner à distance et donc aux utilisateurs d'augmenter leur productivité.

La navigation intuitive de NavX suit l'évolution de la base d'utilisateurs des microscopes à rayons X et révolutionne la navigation et le contrôle par rayons X grâce à des flux de tâches transparents et intégrés qui complètent la planification et l'exécution de flux de tâches corrélatifs avancés.

Extension Flat Panel
Extension Flat Panel

Extension Flat Panel

Votre microscope à rayons X ZEISS Xradia 630 Versa dispose de série de l'extension flat panel (FPX). Elle améliore encore la polyvalence du système et prend en charge directement le module DeepScout basé sur l'IA de la plateforme Advanced Reconstruction Toolbox, pour l'apprentissage en profondeur et l'entraînement du réseau neuronal. La FPX permet d'effectuer des scans de repérage à basse résolution sur un large champ d'observation et d'identifier des régions intérieures intéressantes pour des scans de zoom à plus haute résolution sur une grande variété d'échantillons. Le flux de tâches Volume Scout harmonise ce processus au sein de NavX.

Carte granulométrique non destructive en trois dimensions d'un échantillon de fer Armco

Carte granulométrique non destructive en trois dimensions d'un échantillon de fer Armco avec illustrations des différentes analyses granulométriques qui peuvent être réalisées sur un ensemble de données LabDCT Pro typique.

Carte granulométrique non destructive en trois dimensions d'un échantillon de fer Armco

LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction (DCT)

Obtenez des informations cristallographiques

Disponible exclusivement sur Xradia 630 et 620 Versa, LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction (DCT) permet une cartographie non destructive de l'orientation des grains et de la microstructure en 3D. La visualisation directe de l'orientation des grains cristallographiques 3D ouvre une nouvelle dimension dans la caractérisation des matériaux polycristallins, comme les alliages métalliques, les géomatériaux, les céramiques ou les produits pharmaceutiques.

  • LabDCT Pro prend en charge les échantillons avec des structures cristallines, de la symétrie cubique aux systèmes à symétrie d'ordre inférieure tels que les matériaux monocliniques
  • Obtenez des informations cristallographiques haute résolution à l'aide de l'objectif DCT 4X dédié. Pour des échantillons encore plus grands, utilisez la cartographie de grande surface et augmentez votre rendement avec l'extension d'écran plat (FPX).
  • Obtenez une analyse complète de la microstructure 3D à partir de volumes représentatifs plus importants et de géométries d'échantillons variées.
  • Étudiez l'évolution de la microstructure en effectuant des expériences d'imagerie 4D.
  • Combinez des informations cristallographiques 3D avec des caractéristiques microstructurales 3D.
  • Combinez les modalités pour comprendre les relations structure-propriété.
 Reconstruction de la microstructure du grain de fer Armco, acquise avec LabDCT. Les grains sont colorés par orientation cristallographique et la reconstruction révèle la véritable forme du grain. L'arrière-plan montre un exemple de motif de diffraction collecté pendant l'acquisition LabDCT.

Xradia 620 Versa

Augmentez les performances de votre Xradia 620 ou 630 Versa et approfondissez vos explorations grâce à leurs fonctionnalités avancées. Améliorez le contraste d'absorption pour les matériaux à faible Z ou à Z similaire à l'aide du Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer). Déverrouillez les informations cristallographiques 3D grâce à la tomographie à contraste de diffraction de laboratoire (LabDCT). Améliorez la vitesse de numérisation et la précision d'échantillons de grande taille ou irréguliers grâce à des techniques d'acquisition avancées telles que la tomographie rapport d'aspect élevé ou High Aspect Ratio Tomography (HART).

Reconstruction de la microstructure du grain de fer Armco, acquise avec LabDCT. Les grains sont colorés par orientation cristallographique et la reconstruction révèle la véritable forme du grain. L'arrière-plan montre un exemple de motif de diffraction collecté pendant l'acquisition LabDCT.

ZEISS Xradia 620 Versa
Changeur de filtre automatique, roue à filtre pour ZEISS Xradia 620 Versa
Changeur de filtre automatique, roue à filtre pour ZEISS Xradia 620 Versa

Atteignez de nouveaux degrés de liberté

Avec plus de photons à rayons X disponibles sur la série ZEISS Xradia 600 Versa, vous pouvez désormais obtenir un temps de réponse encore plus rapide pour des tailles d'échantillons variées sans compromettre la résolution. Xradia 620 Versa offre des fonctionnalités et des capacités d'imagerie supplémentaires uniques.

  • Améliorez la vitesse de numérisation et la précision d'échantillons de grande taille ou irréguliers grâce à des techniques d'acquisition avancées telles que la tomographie rapport d'aspect élevé ou High Aspect Ratio Tomography (HART)
  • Le changement de filtre automatisé (AFC) permet de changer facilement de filtre sans intervention manuelle. Par ailleurs, votre sélection peut être programmée et enregistrée pour chaque recette
  • Obtenez des informations cristallographiques dans votre propre laboratoire grâce au LabDCT optionnel
Un seul balayage énergétique montre que l'aluminium et le silicium sont quasiment identiques (côté gauche) puisqu'ils présentent un contraste de niveaux de gris très similaire.
DSCoVer est disponible exclusivement sur ZEISS Xradia 620 Versa et permet de séparer les particules. Le rendu en 3D montre l'aluminium/vert ; les silicates/rouge

Gagnez en contraste

Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer), exclusivement sur Xradia 620 Versa, améliore les détails capturés dans une seule image d'absorption d'énergie en combinant des informations provenant de tomographies prises avec deux sources d'énergie de rayons X différentes. DSCoVer exploite l'interaction des rayons X avec la matière en s'appuyant sur le nombre atomique effectif et la densité. Cela vous apporte une capacité unique pour distinguer, par exemple, les différences minéralogiques au sein des roches ainsi qu'entre des matériaux difficiles à discerner comme le silicium et l'aluminium.

De Xradia Context microCT à Xradia 510/520 Versa, et désormais pour Xradia 610/620 Versa, vous pouvez convertir votre système en produits de microscopie à rayons X de pointe.
De Xradia Context microCT à Xradia 510/520 Versa, et désormais pour Xradia 610/620 Versa, vous pouvez convertir votre système en produits de microscopie à rayons X de pointe.

Protection de l'investissement

Votre instrument doit évoluer en fonction de vos besoins en imagerie. Contrairement aux systèmes de microCT conventionnels, la série ZEISS Xradia Versa est basée sur une plateforme de microscope à rayons X 3D ZEISS largement établie, évolutive, extensible et fiable, ouvrant la voie à de futures améliorations et protégeant donc votre investissement. Sélectionnez le système qui vous convient aujourd'hui et complétez-le en fonction de vos besoins.

  • Protégez votre investissement en faisant évoluer à tout moment votre système à l'aide de nouvelles fonctionnalités et d'innovations
  • Le développement constant de notre produit signifie que vous pouvez ajouter des fonctionnalités avancées telles que des environnements d'échantillonnage in situ, des modalités d'imagerie uniques et des modules d'amélioration de la productivité
  • Conversion sur le terrain de systèmes de base en systèmes sophistiqués dans la plupart des cas
Carte granulométrique non destructive en trois dimensions d'un échantillon de fer Armco avec illustrations des différentes analyses granulométriques qui peuvent être réalisées sur un ensemble de données LabDCT Pro typique.
Carte granulométrique non destructive en trois dimensions d'un échantillon de fer Armco avec illustrations des différentes analyses granulométriques qui peuvent être réalisées sur un ensemble de données LabDCT Pro typique.

LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction (DCT)

Obtenez des informations cristallographiques

Disponible exclusivement sur Xradia 630 et 620 Versa, LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction (DCT) permet une cartographie non destructive de l'orientation des grains et de la microstructure en 3D. La visualisation directe de l'orientation des grains cristallographiques 3D ouvre une nouvelle dimension dans la caractérisation des matériaux polycristallins, comme les alliages métalliques, les géomatériaux, les céramiques ou les produits pharmaceutiques.

✔ LabDCT Pro prend en charge les échantillons avec des structures cristallines, de la symétrie cubique aux systèmes à symétrie d'ordre inférieure tels que les matériaux monocliniques.
✔ Obtenez des informations cristallographiques haute résolution à l'aide de l'objectif DCT 4X dédié. Pour des échantillons encore plus grands, utilisez la cartographie de grande surface et augmentez votre rendement avec l'extension d'écran plat (FPX).
✔ Obtenez une analyse complète de la microstructure 3D à partir de volumes représentatifs plus importants et de géométries d'échantillons variées.
✔ Étudiez l'évolution de la microstructure en effectuant des expériences d'imagerie 4D.
✔ Combinez des informations cristallographiques 3D avec des caractéristiques microstructurales 3D.
✔ Combinez les modalités pour comprendre les relations structure-propriété.

Mesure sans contact et non destructive d'un module d'objectif d'appareil photo pour smartphone.
Mesure sans contact et non destructive d'un module d'objectif d'appareil photo pour smartphone.

Extension à la métrologie

Ajouter la précision de mesure à la microscopie à rayons X

L'option d'extension pour la métrologie (MTX) transforme votre Xradia 620 Versa en un système de mesure haute précision, vérifié bien au-delà des limites de la technologie CT conventionnelle. Cette fonctionnalité est essentielle pour les laboratoires universitaires et industriels, où la miniaturisation et l'intégration des composants impliquent une demande croissante en métrologie de haute résolution. Bénéficiez d'une imagerie à rayons X haute résolution associée à une métrologie de haute précision.

✔ Métrologie CT de pointe à haute précision : Calibrée avec MTX, ZEISS Xradia Versa fournit une valeur d'erreur maximale tolérée, première sur le marché, de MPESD = (1,9 + L/100) μm pour les mesures à petite échelle, où L est la longueur mesurée en mm.
✔ Petits volumes à haute résolution : MTX permet des mesures avec une précision dimensionnelle élevée dans de petits volumes reconstruits de 125 mm3.
✔ Processus d'étalonnage simple : Le pack MTX propose un processus d'étalonnage intégré et guidé.
✔ Une fois la routine d'étalonnage exécutée, vous effectuez des mesures précises et mettez les données à la disposition d'un logiciel de métrologie standard pour un traitement ultérieur.

Échantillon de pâte de ciment mélangée à de la résine afin que la pâte acquière une porosité supérieure et donc un meilleur comportement au gel-dégel.

Xradia 610 Versa

Basée sur la fonctionnalité RaaD, la série Xradia Versa 600 maintient la résolution maximale à toutes les distances de travail, adaptant les échantillons contenus dans les chambres d'essai et les montages de charge in situ haute précision. Les XRM de la série 600 offrent une résolution et un rendement encore plus élevés que les générations précédentes. Xradia Versa s'intègre en toute transparence avec d'autres microscopes ZEISS pour répondre aux difficultés de l'imagerie corrélative à échelles multiples.

Échantillon de pâte de ciment mélangée à de la résine afin que la pâte acquière une porosité supérieure et donc un meilleur comportement au gel-dégel. Avec l'aimable autorisation de l'Université de sciences et technologie de Nanjing, en Chine.

ZEISS Xradia 610 Versa
Résolution spatiale réelle de 0,5 µm démontrée sur la cible de résolution JIMA
Résolution spatiale réelle de 0,5 µm démontrée sur la cible de résolution JIMA

Une résolution maximale sans compromis

ZEISS Xradia Versa utilise une architecture de grossissement en deux étapes pour permettre une imagerie de résolution submicronique à de grandes distances de travail (RaaD) pour un ensemble diversifié de tailles et de types d'échantillons. Avec plus de photons à rayons X disponibles, le modèle Versa de la série ZEISS Xradia 600 offre un temps de réponse accéléré pour un large éventail de tailles et types d'échantillons, sans compromettre la résolution.

✔ Assurer la qualité d'image sans compromettre le rendement
✔ Capturez l'image d'objets plus grands et plus denses, dont des composants et des dispositifs intacts, en 3D
✔ Le modèle Versa de la série ZEISS Xradia 600 permet d'obtenir une résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm

Source de rayons X pour ZEISS Xradia 620 Versa.
Source de rayons X de ZEISS Xradia 620 Versa

Rayonnement X supérieur

Le modèle Versa de la série ZEISS Xradia 600 exploite la technologie de sources scellées de rayons X de 25 W, fournissant ainsi un rayonnement X élevé qui repousse les limites de la performance. Il assure une excellente gestion thermique, avec une capacité de flux améliorée et un rendement élevé tout en maintenant rigoureusement les excellentes performances de précision concernant la taille du spot Versa. Un système de contrôle novateur garantit la réactivité de la source, permettant ainsi une configuration plus rapide de la numérisation pour une expérience utilisateur simple et engageante

✔ Des scans tomographiques plus rapides – jusqu'à deux fois plus rapides – permettent d'augmenter le nombre d'échantillons traités et d'explorer davantage de régions d'intérêt
✔ Un flux plus élevé offre un meilleur rapport contraste sur bruit et des performances exceptionnelles à un niveau d'énergie élevé (kV), sans compromettre la résolution
✔ Des sources scellées impliquent un vide plus important et une durée de vie plus longue du filament

Tracking in situ des kits avec platine thermomécanique Deben
Tracking in situ des kits avec platine thermomécanique Deben

Premier in situ et 4D

Le modèle Versa de la série ZEISS Xradia 600 permet de caractériser de manière non destructive les microstructures 3D de matériaux dans des conditions de variations contrôlées (in situ) et d'observer l'évolution des structures dans le temps (4D). Basé sur RaaD, le XRM Xradia Versa maintient la résolution maximale sur de grandes distances de travail, adaptant les échantillons, la chambre d'essai, et les montages de charge in situ haute précision, sans compromettre la résolution.

✔ Caractérisez et quantifiez votre échantillon dans des conditions variables et dans des environnements natifs simulés, in situ et dans le temps
✔ Intégration transparente avec d'autres microscopes ZEISS pour répondre aux difficultés de l'imagerie corrélative à échelles multiples

Polymère à base d'uréthane. Imagerie réalisée d'après des expériences in situ. Simulation de l'écoulement des fluides démontrant la perméabilité.

Xradia 510 Versa

Bénéficiez de la technique de grossissement en deux étapes proposée par ZEISS Xradia Versa pour obtenir un RaaD unique et étudier efficacement la plus grande variété de tailles d'échantillons. Le logiciel de contrôle intuitif Scout-and-Scan favorise un large panel d'utilisateurs aux compétences variées dans votre laboratoire.

Polymère à base d'uréthane. Imagerie réalisée d'après des expériences in situ. Simulation de l'écoulement des fluides démontrant la perméabilité. Avec l'aimable autorisation du Laboratoire chimique national, Inde

ZEISS Xradia 510 Versa
Nouveau schéma illustrant le concept de grossissement dans le microscope à rayons X Versa (XRM). Le microscope combine le grossissement géométrique et optique pour produire une image en haute résolution de l'échantillon. Le schéma représente plusieurs des objectifs haute résolution, ainsi que la lentille macro 0,4X en arrière-plan. Ce système produit la RaaD : Résolution à distance.
Nouveau schéma illustrant le concept de grossissement dans le microscope à rayons X Versa (XRM). Le microscope combine le grossissement géométrique et optique pour produire une image en haute résolution de l'échantillon. Le schéma représente plusieurs des objectifs haute résolution, ainsi que la lentille macro 0,4X en arrière-plan. Ce système produit la RaaD : résolution à distance.

Une classe au-dessus de la MicroCT

ZEISS Xradia 510 Versa XRM étend la recherche scientifique au-delà des limites des systèmes microCT basés sur la projection, à une résolution submicronique. La tomographie assistée par ordinateur classique repose sur une seule étape de grossissement géométrique et le maintien d'une résolution élevée pour les échantillons plus grands n'est pas possible en raison des distances de travail plus longues requises. Les XRM ZEISS Xradia Versa sont dotés d'un processus unique en deux étapes basé sur une optique de calibre synchrotron. Les capacités d'échelles à longueurs multiples permettent de capturer des images du même échantillon sur une large gamme de grossissements. Avantage supplémentaire : ZEISS Xradia 510 Versa est facile à utiliser par tous les utilisateurs de votre laboratoire.

✔ Réduisez la dépendance au grossissement géométrique et conservez une résolution submicronique même à de grandes distances de travail
✔ Découvrez la polyvalence d'une grande variété de matériaux, y compris les matériaux déformables et à faible Z, avec des solutions de contraste uniques qui surpassent les limites de la tomographie classique
✔ Caractérisez la microstructure des matériaux dans des environnements natifs simulés in situ et étudiez l'évolution des propriétés dans le temps (4D)

Résolution spatiale réelle
Résolution spatiale réelle

Résolution spatiale réelle

Les systèmes XRM ZEISS bénéficient de la résolution spatiale, à ce jour la mesure la plus probante des performances de votre microscope. La résolution spatiale désigne la séparation minimum à laquelle un système d'imagerie peut discriminer deux éléments. Elle se mesure généralement en reproduisant une cible de résolution standard où l'écart entre deux éléments diminue progressivement. La résolution spatiale explique des caractéristiques pertinentes, par exemple la taille du spot de la source de rayons X, la résolution du détecteur, la géométrie de grossissement et la stabilité vibrationnelle, électrique et thermique.

✔ Résolution spatiale réelle de 0,7 μm avec une taille de voxel minimale réalisable de 70 nm
✔ Détecteurs à réglage énergétique permettant d'obtenir la résolution maximale pour une large gamme de types et de densités d'échantillons
✔ La source se propage dans la totalité de l'espace d'application (30-160 kV) comportant de nombreux détecteurs, ce qui élimine le besoin de reconfigurer manuellement le matériel

Image d'une poire acquise en contraste d'absorption – aucune visibilité des parois cellulaires.
Image d'une poire acquise en contraste de phase, indiquant les détails des parois cellulaires dans des cellules normales et des scléréides (en bas).
Image d'une poire acquise en contraste d'absorption – aucune visibilité des parois cellulaires (à gauche), et une image d'une poire acquise en contraste de phase, indiquant les détails des parois cellulaires dans des cellules normales et des scléréides (à droite).

Révélez des détails masqués

Votre imagerie requiert des capacités de contraste supérieures pour révéler des détails nécessaires à la visualisation et à la quantification précises des propriétés. Les systèmes ZEISS Xradia Versa assurent une imagerie flexible et à fort contraste, même pour les matériaux les plus difficiles : matériaux à faible numéro atomique (faible Z), tissus mous, polymères, organismes fossilisés enveloppés dans l'ambre, et autres matériaux à faible contraste.

  • Notre approche globale est basée sur des détecteurs de contraste d'absorption améliorés propriétaires qui assurent un meilleur contraste en maximisant le regroupement de photons à faible énergie tout en minimisant le regroupement de photons à haute énergie qui réduisent le contraste
  • Le contraste de phase à propagation adaptable mesure la réfraction des photons des rayons X au niveau des transitions de matière pour vous permettre de visualiser des caractéristiques présentant peu ou pas de contraste pendant l'imagerie d'absorption

Imagerie révolutionnaire grâce au XRM ZEISS Xradia Versa

Voir les points forts des microscopes à rayons X 3D ZEISS Xradia Versa : imagerie non destructive, résolution plus élevée et meilleur rendement.

La technologie derrière les microscopes à rayons X Xradia Versa

  • L'avantage polyvalent de la technologie RaaD
    L'avantage polyvalent de la technologie RaaD

    L'avantage polyvalent de la technologie RaaD

    L'avantage polyvalent de la technologie RaaD

    La technique de grossissement en deux étapes proposée par ZEISS Xradia Versa permet d'obtenir une résolution à distance (ou RaaD) unique pour étudier efficacement la plus grande variété de tailles d'échantillons, y compris ceux en chambres in situ .

    Les images sont initialement grossies par projection géométrique comme avec le microCT classique. L'image est projetée sur un scintillateur, les rayons X convertis en une image lumineuse visible ensuite grossie par l'optique du microscope avant son acquisition par un détecteur CCD.

    La réduction de la dépendance au grossissement géométrique permet aux solutions ZEISS Xradia Versa de maintenir la résolution spatiale submicronique sous de 500 nm à de grandes distances de travail.

  • Essai de traction de l'acier soudé au laser soumis à une charge croissante.
    Essai de traction de l'acier soudé au laser soumis à une charge croissante.

    Essai de traction de l'acier soudé au laser soumis à une charge croissante.

    Repoussez les limites du progrès scientifique

    Les systèmes à rayons X ZEISS Xradia apportent la première solution d'imagerie en 3D du marché pour la plus grande variété d'équipements in situ , depuis les cellules de flux haute pression aux platines de traction, de compression et thermiques. Au-delà des trois dimensions de l'espace, profitez de la nature non destructive des examens aux rayons X pour étendre vos recherches grâce aux expériences 4D.

    Ces études exigent que les échantillons soient plus éloignés de la source de rayons X pour adapter différents types d'équipements in situ . Sur les systèmes microCT conventionnels, cette configuration limite significativement la résolution réalisable pour vos échantillons. Les ZEISS XRM utilisent une architecture unique de grossissement en deux étapes dotée de la technologie RaaD qui permet de garantir la résolution maximale pour l'imagerie in situ .

    Les plateformes XRM ZEISS Xradia peuvent intégrer une grande variété d'équipements in situ , depuis les cellules de flux à haute pression aux platines de tension, de compression et thermiques, en passant par les conceptions personnalisées. Vous avez aussi la possibilité d'ajouter le kit d'interface in situ en option à votre XRM ZEISS Xradia qui comprend un kit d'intégration mécanique, un guide de câblage robuste et d'autres fonctions (entrées) et est accompagné d'un logiciel basé sur les recettes pour simplifier le contrôle depuis l'interface utilisateur Versa Scout-and-Scan. Si vous avez besoin de repousser les limites de résolution de vos expériences in situ , transformez votre ZEISS Xradia microCT ou XRM en microscope à rayons X Xradia 620 Versa pour profiter de la technologie RaaD afin d'atteindre des performances maximales en matière d'imagerie tomographique d'échantillons dans les appareils ou chambres in situ .

  • Plongez dès maintenant dans la microscopie multi-échelle, multimodale et multi-dimensionnelle avec l'imagerie 3D non destructive

    Du fait de la nature non destructive des rayons X et de la diversité des types et des tailles d'échantillons qu'ils permettent d'imager, la microscopie corrélative commence souvent avec le XRM ZEISS Xradia Versa ou est rendue possible par celui-ci.

    La fonctionnalité Scout-and-Zoom de Versa vous permet de définir clairement la région d'intérêt (ROI) avant d'endommager votre échantillon pour un découpage précoce ou pour une autre préparation. Effectuez un repérage rapide à basse résolution dans un large champ d'observation, puis zoomez sur la ROI à une résolution supérieure à l'aide de la gamme d'objectifs Versa (jusqu'à 40X), le XRM Xradia Ultra à l'échelle nanométrique ou des microscopes optiques électroniques ZEISS ou des FIB-SEM. Cette méthode permet d'éviter la destruction prématurée de l'échantillon et garantit l'efficacité maximale du processus tout en bénéficiant d'un contexte avec échantillon entier combiné aux informations clés de l'échantillon.

    De plus, la possibilité de réaliser une tomographie intérieure ou de voir clairement l'intérieur de votre échantillon en 3D réduit encore le risque de perdre de vue votre ROI. Travaillez plus efficacement en indiquant une « adresse » spécifique vers laquelle le système pourra naviguer pour réaliser avec précision et efficacité les prochaines étapes d'investigation de votre échantillon.

    Pour finir, examinez votre échantillon dans des conditions variables et dans le temps grâce à des études in situ et en 4D avant de procéder à des analyses supplémentaires – chimiques, surfaciques, etc. – avec d'autres modalités ZEISS.

    Exploitez la plus vaste gamme de solutions de microscopie disponibles — exclusivement chez ZEISS — pour effectuer des analyses multimodales, multi-échelles et multi-dimensionnelles, en commençant votre processus par la microscopie à rayons X 3D non destructive.

    Flux complet d'échantillons corrélatifs pour le projet

    Flux complet d'échantillons corrélatifs pour le projet. Les scans d'origine obtenus par microscopie à rayons X mettent en évidence des zones essentielles pour l'imagerie de plus haute résolution et les emplacements cibles permettant d'orienter les coupes fines dans le volume. Les analyses en 2D consécutives incluent la microscopie électronique et la microscopie optique, afin d'aboutir à une corrélation avec les données micro-analytiques in situ.

Des fonctionnalités qui augmentent la puissance de chaque plateforme Versa

  • Advanced Reconstruction Toolbox

    Un accès simplifié à la dernière technologie de reconstruction

    Advanced Reconstruction Toolbox (ART) est une plateforme novatrice pour accéder en continu aux technologies de reconstruction les plus récentes et performantes de ZEISS. Elle enrichit vos recherches et améliore le retour sur investissement de votre ZEISS Xradia 3D XRM.

    Ces offres uniques de ZEISS reposent sur l'intelligence artificielle et sur une compréhension approfondie des principes physiques des rayons X et des applications client afin de relever, de façon inédite et innovante, certains des défis les plus ardus de l'imagerie. Ces modules en option sont basés sur des postes de travail qui fournissent un accès et une utilisation simplifiés.

    Les modules ART incluent :

    • DeepScout : Reconstruisez de larges volumes en haute résolution à l'aide de l'apprentissage profond basé sur l'IA. DeepScout permet d'obtenir des images à haute résolution sur un large champ d'observation et à haut rendement.
    • DeepRecon Pro : Rendement multiplié par 10 pour les flux de tâches répétitifs et non répétitifs. DeepRecon Pro fournit une qualité d'image supérieure par rapport à une reconstruction standard.
    • Materials Aware Reconstruction Solution (MARS) : Réduction simplifiée des artefacts métalliques. MARS réduit les artefacts multi-matière, p. ex., les implants métalliques dans les os et les tissus, ou les billes de soudure sur les boîtiers de semi-conducteurs.
    • PhaseEvolve : Contraste d'image amélioré pour les échantillons de densité faible à moyenne et les applications d'imagerie à haute résolution. Améliorez la segmentation en éliminant les franges de contraste de phase.
    • OptiRecon : Pour les tomographies intérieures, choisissez entre un rendement amélioré jusqu'à 4X-10X avec une qualité d'image acceptable, ou une qualité d'image améliorée au même niveau de rendement qu'une reconstruction standard (FDK).

    Les modules ART sont maintenant disponibles en trois packs ingénieux :

    • AI Supercharger : DeepScout et DeepRecon Pro
    • Pack de réduction des artefacts : PhaseEvolve et Material Aware Reconstruction Solution (MARS)
    • Pack Recon : OptiRecon et DeepRecon Pro
  • Regardez cette vidéo et obtenez un aperçu du processus guidé par SmartShield.

    SmartShield

    Protégez facilement votre échantillon pour optimiser vos expériences

    SmartShield est une solution qui protège votre échantillon et votre microscope. Ce système automatisé de prévention des collisions fonctionne avec le système de contrôle Scout-and-Scan. Il vous permet de naviguer dans Xradia Versa avec plus de confiance que jamais. D'un simple clic, SmartShield crée une couche protectrice numérique basée sur les dimensions de votre échantillon.

    Grâce à SmartShield, vous profitez de :

    ● L'amélioration de l'efficacité de l'opérateur grâce à une configuration d'échantillons simplifiée
    ● Une expérience utilisateur améliorée pour les novices et pour les utilisateurs avancés
    ● La protection de vos échantillons et de votre investissement
    ● Une qualité de numérisation sans compromis

  • Mode champ large

    Mode champ large

    Le mode champ large (WFM) peut être utilisé pour acquérir des images dans un champ d'observation latéral étendu. Le large champ d'observation latéral peut fournir un volume en 3D trois fois plus grand pour des échantillons de grande taille, ou une densité de voxel plus élevée pour un champ d'observation standard. Tous les systèmes Xradia Versa disposent du WFM lorsqu'ils sont équipés de l'objectif 0,4x. En combinaison avec l'assemblage vertical, le WFM permet d'acquérir les images d'échantillons plus volumineux avec une résolution exceptionnelle.

Exemples d'application

ZEISS Xradia Versa en action

  • Structure en treillis obtenue par fabrication additive.
  • Image d'un isolant en mousse de verre poreux acquise à de multiples échelles.
  • Composite polymère renforcé de fibres de carbone.
  • Tomographie haute résolution localisée et segmentation de phases multiples dans le béton.
  • Structure en treillis obtenue par fabrication additive.
    Structure en treillis obtenue par fabrication additive. Échantillon avec l'aimable autorisation de Kavan Hazeli, ingénierie mécanique et aérospatiale, Université d'Alabama, Huntsville
    Échantillon avec l'aimable autorisation de Kavan Hazeli, ingénierie mécanique et aérospatiale, Université d'Alabama, Huntsville

    Structure en treillis obtenue par fabrication additive.

    Structure en treillis obtenue par fabrication additive.

  • Image d'un isolant en mousse de verre poreux acquise à de multiples échelles.
    Image d'un isolant en mousse de verre poreux acquise à de multiples échelles. Échantillon avec l'aimable autorisation de M.B. Østergaard, Dr R.R. Petersen et Prof. Y. Yue (Université d'Aalborg), et Dr J. König (Institut Jozef Stefan)
    Échantillon avec l'aimable autorisation de M.B. Østergaard, Dr R.R. Petersen et Prof. Y. Yue (Université d'Aalborg), et Dr J. König (Institut Jozef Stefan)

    Image d'un isolant en mousse de verre poreux acquise à de multiples échelles.

    Image d'un isolant en mousse de verre poreux acquise à de multiples échelles.

  • Composite polymère renforcé de fibres de carbone.
    Composite polymère renforcé de fibres de carbone.

    Composite polymère renforcé de fibres de carbone.

    Composite polymère renforcé de fibres de carbone.

  • Tomographie haute résolution localisée et segmentation de phases multiples dans le béton.
    Tomographie haute résolution localisée et segmentation de phases multiples dans le béton.

    Tomographie haute résolution localisée et segmentation de phases multiples dans le béton.

    Tomographie haute résolution localisée et segmentation de phases multiples dans le béton.

Solutions de microscopie pour les sciences des matériaux

Tâches et applications typiques

  • Caractérisez des structures en trois dimensions.
  • Observez les mécanismes de défaillance, les phénomènes de dégradation et les défauts internes.
  • Étudiez les propriétés à de multiples échelles.
  • Quantifiez l'évolution de la microstructure.
  • Réalisez des études in situ et 4D (temporelles) pour comprendre l'impact du chauffage, du refroidissement, de la dessication, du mouillage, de la tension, de la compression, de l'imbibition, du drainage et d'autres études en environnement simulé.
  • Percez les détails de la structure en 3D des fibres, les pores et les passages des pores du papier.
  • Observez la propagation d'une fissure dans votre échantillon.
  • La micrographie XRM d'une fleur révèle ses composants dans une nouvelle vue en 3D.
  • Image d'une libellule acquise dans sa structure native sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.
  • Les graines sont des structures très solides et compactes et il est difficile de capturer une image d'ensemble de leur intérieur.
  • Racine de plante enfouie dans le sol.
  • La micrographie XRM d'une fleur révèle ses composants dans une nouvelle vue en 3D.
    La micrographie XRM d'une fleur révèle ses composants dans une nouvelle vue en 3D.

    La micrographie XRM d'une fleur révèle ses composants dans une nouvelle vue en 3D. On distingue les sépales (jaunes) et les pétales (violet).

    La micrographie XRM d'une fleur révèle ses composants dans une nouvelle vue en 3D. On distingue les sépales (jaune) et les pétales (violet).

  • Image d'une libellule acquise dans sa structure native sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.
    Image d'une libellule acquise dans sa structure native sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.

    Image d'une libellule acquise dans sa structure native sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.

    Image d'une libellule acquise dans sa structure native sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.

  • Les graines sont des structures très solides et compactes et il est difficile de capturer une image d'ensemble de leur intérieur.
    Les graines sont des structures très solides et compactes et il est difficile de capturer une image d'ensemble de leur intérieur.

    Les graines sont des structures très solides et compactes et il est difficile de capturer une image d'ensemble de leur intérieur. L'image montre les feuilles de graine préformées qui contiendront le réservoir d'énergie pour la croissance ultérieure de la plante.

    Les graines sont des structures très solides et compactes et il est difficile de capturer une image d'ensemble de leur intérieur. L'image montre les feuilles de graine préformées qui contiendront le réservoir d'énergie pour la croissance ultérieure de la plante.

  • Racine de plante enfouie dans le sol.
    Racine de plante enfouie dans le sol. Échantillon avec l'aimable autorisation de Keith Duncan, chercheur en sciences, Donald Danforth, Centre des sciences végétales, Saint Louis, MO
    Échantillon avec l'aimable autorisation de Keith Duncan, chercheur en sciences, Donald Danforth, Centre des sciences végétales, Saint Louis, MO

    Racine de plante enfouie dans le sol : la racine peut être identifiée comme une structure dominante dans le sol constitué de graines de différentes tailles et formes. Taille de voxel : 5,5 µm.

    Racine de plante enfouie dans le sol : la racine peut être identifiée comme une structure dominante dans le sol constitué de graines de différentes tailles et formes. Taille de voxel : 5,5 µm.

Application en sciences de la vie

Tâches et applications typiques

  • Imagerie en 3D d'échantillons biologiques dans leur environnement naturel.
  • Imagerie de racines végétales toujours intégrées dans leur sol d'origine sans préparation spécifique de l'échantillon.
  • Imagerie d'animaux modèles et de plantes fragiles sans préparation, ni sectionnement de l'échantillon.
  • Imagerie submicronique de structures solides telles que les graines en entier.
  • Visualisation de billes C4, de TSV et de microbilles du pilier Cu dans un boîtier en 2,5D.
  • Coupe transversale virtuelle du boîtier en 2,5D.
  • Interconnexion d'un boîtier DRAM à l'intérieur d'un boîtier 10 mm x 7 mm x 1 mm contenant un empilement de 4 puces.
  • Coupe transversale virtuelle de microbilles dans un boîtier DRAM.
  • Visualisation de billes C4, de TSV et de microbilles du pilier Cu dans un boîtier en 2,5D.
    Visualisation de billes C4, de TSV et de microbilles du pilier Cu dans un boîtier en 2,5D.

    Visualisation de billes C4, de TSV et de microbilles du pilier Cu dans un boîtier en 2,5D, permettant d'obtenir des vues en haute résolution de l'intérieur du boîtier intact, 1 µm/voxel.

    Visualisation de billes C4, de TSV et de microbilles du pilier Cu dans un boîtier en 2,5D, permettant d'obtenir des vues en haute résolution de l'intérieur du boîtier intact, 1 µm/voxel.

  • Coupe transversale virtuelle du boîtier en 2,5D.
    Coupe transversale virtuelle du boîtier en 2,5D.

    Coupe transversale virtuelle du boîtier en 2,5D révélant des fissures au niveau de la soudure et des vides dans les billes C4.

    Coupe transversale virtuelle du boîtier en 2,5D révélant des fissures au niveau de la soudure et des vides dans les billes C4.

  • Interconnexion d'un boîtier DRAM à l'intérieur d'un boîtier 10 mm x 7 mm x 1 mm contenant un empilement de 4 puces.
    Interconnexion d'un boîtier DRAM à l'intérieur d'un boîtier 10 mm x 7 mm x 1 mm contenant un empilement de 4 puces.

    Interconnexion d'un boîtier DRAM à l'intérieur d'un boîtier 10 mm x 7 mm x 1 mm contenant un empilement de 4 puces. L'extrusion de la soudure est facilement visible en 3 dimensions, 0,8 µm/voxel.

    Interconnexion d'un boîtier DRAM à l'intérieur d'un boîtier 10 mm x 7 mm x 1 mm contenant un empilement de 4 puces. L'extrusion de la soudure est facilement visible en 3 dimensions, 0,8 µm/voxel.

  • Coupe transversale virtuelle de microbilles dans un boîtier DRAM.
    Coupe transversale virtuelle de microbilles dans un boîtier DRAM.

    Coupe transversale virtuelle de microbilles dans un boîtier DRAM. Les TSV ont un diamètre de 6 μm et les microbilles ont un diamètre moyen de 35 µm. De petits vides de soudure de 2 μm sont visibles.

    Coupe transversale virtuelle de microbilles dans un boîtier DRAM. Les TSV ont un diamètre de 6 μm et les microbilles ont un diamètre moyen de 35 µm. De petits vides de soudure de 2 μm sont visibles.

Applications pour composants électroniques et semi-conducteurs

Tâches et applications typiques

  • Effectuez des analyses structurelles et de défaillance pour le développement du processus, l'amélioration du rendement et l'analyse de la construction de boîtiers de semi-conducteurs avancés, dont les boîtiers en 2,5/3D et les boîtiers fan-out.
  • Analysez des circuits imprimés pour la rétro-ingénierie et la sécurité des matériels.
  • Réalisez une imagerie non destructive à de multiples échelles de longueur : du module au boîtier et à l'interconnexion, caractérisez les défauts à une résolution submicronique et à des vitesses qui peuvent compléter la coupe transversale physique
  • Comprenez mieux l'emplacement et la répartition des défauts en visualisant un nombre illimité d'images virtuelles en coupe transversale et en plan sous tous les angles souhaités
  • Échantillon de métagabbro de faciès de granulites issu du complexe lewisien qui a été analysé à l'aide du logiciel Mineralogic 3D pour l'analyse quantitative de la minéralogie, granulométrie, forme et distribution, ainsi que des relations minérales, assemblages d'inclusion et plus encore, avant la préparation destructive de l'échantillon.
  • Grain d'or individuel identifié parmi une population d'environ 26 000 grains de pyrite.
  • Caractérisation multi-échelle non invasive de carottes de grès.
  • Image en contraste d'absorption classique d'olivine désagrégée.
  • Sous-cristaux individuels identifiés à l'aide de LabDCT Pro sur de l'olivine désagrégée.
  • Échantillon de métagabbro de faciès de granulites issu du complexe lewisien
    Échantillon de métagabbro de faciès de granulites issu du complexe lewisien

    Échantillon de métagabbro de faciès de granulites issu du complexe lewisien qui a été analysé à l'aide du logiciel Mineralogic 3D pour l'analyse quantitative de la minéralogie, granulométrie, forme et distribution, ainsi que des relations minérales, assemblages d'inclusion et plus encore, avant la préparation destructive de l'échantillon.

    Échantillon de métagabbro de faciès de granulites issu du complexe lewisien qui a été analysé à l'aide du logiciel Mineralogic 3D pour l'analyse quantitative de la minéralogie, granulométrie, forme et distribution, ainsi que des relations minérales, assemblages d'inclusion et plus encore, avant la préparation destructive de l'échantillon.

  • Grain d'or individuel identifié parmi une population d'environ 26 000 grains de pyrite.
    Grain d'or individuel identifié parmi une population d'environ 26 000 grains de pyrite.

    Grain d'or individuel identifié parmi une population d'environ 26 000 grains de pyrite.

    Grain d'or individuel identifié parmi une population d'environ 26 000 grains de pyrite.

  • Caractérisation multi-échelle non invasive de carottes de grès.
    Caractérisation multi-échelle non invasive de carottes de grès.

    Caractérisation multi-échelle non invasive de carottes de grès, par tomographie intérieure non invasive de haute qualité et investigation intégrée à l'échelle des pores (montrant la séparation des pores).

    Caractérisation multi-échelle non invasive de carottes de grès, par tomographie intérieure non invasive de haute qualité et investigation intégrée à l'échelle des pores (montrant la séparation des pores).

  • Image en contraste d'absorption classique d'olivine désagrégée.
    Image en contraste d'absorption classique d'olivine désagrégée.

    Image en contraste d'absorption classique d'olivine désagrégée.

    Image en contraste d'absorption classique d'olivine désagrégée.

  • Sous-cristaux individuels identifiés à l'aide de LabDCT Pro sur de l'olivine désagrégée.
    Sous-cristaux individuels identifiés à l'aide de LabDCT Pro sur de l'olivine désagrégée.

    Sous-cristaux individuels identifiés à l'aide de LabDCT Pro sur de l'olivine désagrégée.

    Sous-cristaux individuels identifiés à l'aide de LabDCT Pro sur de l'olivine désagrégée.

Solutions de microscopie pour les matières premières

Tâches et applications typiques

  • Effectuez une minéralogie en 3D automatique avec peu ou pas de préparation de l'échantillon.
  • Effectuez une analyse multi-échelle de la structure des pores et de l'écoulement des fluides, ainsi que mesurez directement le débit de fluide à l'aide d'un équipement à courant in situ.
  • Effectuez des scans de repérage non destructifs et identifiez la région d'intérêt pour observer les structures enfouies dans les roches métamorphiques.
  • Analysez l'orientation des grains dans l'acier et les autres métaux.
  • Évaluation de la rugosité de surface d'une gaine imprimée en fabrication additive (Ti-6Al-4V).
  • Imagerie de différentes qualités de poudre AM A205 à une résolution de 3,9 µm voxel.
  • Structure interne d'une roue dentée en aluminium obtenue par fabrication additive.
  • Évaluation ISO 25178 de la rugosité de surface d'un échantillon d'essai Ti-6Al-4V.
  • Évaluation de la rugosité de surface d'une gaine imprimée en fabrication additive (Ti-6Al-4V).
    Évaluation de la rugosité de surface d'une gaine imprimée en fabrication additive (Ti-6Al-4V). Pièce d'essai fournie par LZN et Liebherr
    Pièce d'essai fournie par LZN et Liebherr

    Évaluation de la rugosité de surface d'une gaine imprimée en fabrication additive (Ti-6Al-4V) ; scan haute résolution acquis à environ 1,7 mm voxel sur une zone d'environ 3,4 mm.

    Évaluation de la rugosité de surface d'une gaine imprimée en fabrication additive (Ti-6Al-4V) ; scan haute résolution acquis à environ 1,7 mm voxel sur une zone d'environ 3,4 mm.

  • Imagerie de différentes qualités de poudre AM A205 à une résolution de 3,9 µm voxel.
    Imagerie de différentes qualités de poudre AM A205 à une résolution de 3,9 µm voxel.

    Imagerie de différentes qualités de poudre AM A205 à une résolution de 3,9 µm voxel.

    Imagerie de différentes qualités de poudre AM A205 à une résolution de 3,9 µm voxel.

  • Structure interne d'une roue dentée en aluminium obtenue par fabrication additive.
    Structure interne d'une roue dentée en aluminium obtenue par fabrication additive. Échantillon avec l'aimable autorisation de Timo Bernthaler, Université d'Aalen
    Échantillon avec l'aimable autorisation de Timo Bernthaler, Université d'Aalen

    Structure interne d'une roue dentée en aluminium obtenue par fabrication additive ; l'imagerie en résolution 3 µm voxel est utilisée pour visualiser les particules non fondues, les inclusions à Z élevé et les petits vides.

    Structure interne d'une roue dentée en aluminium obtenue par fabrication additive ; l'imagerie en résolution 3 µm voxel est utilisée pour visualiser les particules non fondues, les inclusions à Z élevé et les petits vides.

  • Évaluation ISO 25178 de la rugosité de surface d'un échantillon d'essai Ti-6Al-4V.
    Évaluation ISO 25178 de la rugosité de surface d'un échantillon d'essai Ti-6Al-4V. Pièce d'essai fournie par LZN et Liebherr
    Pièce d'essai fournie par LZN et Liebherr

    Évaluation ISO 25178 de la rugosité de surface d'un échantillon d'essai Ti-6Al-4V. Les résultats sont très similaires entre le microscope XRM et le microscope confocal ZEISS Smartproof 5.

    Évaluation ISO 25178 de la rugosité de surface d'un échantillon d'essai Ti-6Al-4V. Les résultats sont très similaires entre le microscope XRM et le microscope confocal ZEISS Smartproof 5.

Solutions de microscopie pour la fabrication additive

Tâches et applications typiques

  • Analyse détaillée de la forme, de la taille et de la répartition du volume de particules dans le lit de poudre servant à la fabrication additive (AM), afin de déterminer les paramètres de traitement appropriés.
  • Effectuez une imagerie non destructive en haute résolution pour l'analyse microstructurale de pièces obtenues par fabrication additive.
  • Réalisez une imagerie 3D permettant la comparaison avec la représentation nominale en CAO.
  • Détectez les particules non fondues, les inclusions à Z élevé et les vides.
  • Analysez la rugosité de surface de structures internes inaccessibles par d'autres méthodes.
  • Cellule de cylindre intacte (160 kV)
  • Grande cellule « pouch » (120 kV)
  • Petite cellule « pouch » (80 kV)
  • Petite cellule « pouch »
  • Cellule de cylindre intacte (160 kV)
    Cellule de cylindre intacte (160 kV)

    Cellule de cylindre intacte (160 kV) – bavures de soudage, inclusions métalliques, plis et coudes dans les couches conductrices.

    Cellule de cylindre intacte (160 kV) – bavures de soudage, inclusions métalliques, plis et coudes dans les couches conductrices.

  • Grande cellule « pouch » (120 kV)
    Grande cellule « pouch » (120 kV)

    Grande cellule « pouch » (120 kV) – analyse des défauts, gonflement, imbibition, évolution gaz électrolyte.

    Grande cellule « pouch » (120 kV) – analyse des défauts, gonflement, imbibition, évolution gaz électrolyte.

  • Petite cellule « pouch » (80 kV)
    Petite cellule « pouch » (80 kV)

    Petite cellule « pouch » (80 kV) – microstructure in situ, effet du vieillissement au niveau des grains de la cathode, couche de séparation.

    Petite cellule « pouch » (80 kV) – microstructure in situ, effet du vieillissement au niveau des grains de la cathode, couche de séparation.

  • Petite cellule « pouch »
    Petite cellule « pouch »

    Petite cellule « pouch » : Scan d'ensemble 0,4x ; résolution à distance 4x ; RaaD 20x.

    Petite cellule « pouch » : Scan d'ensemble 0,4x ; résolution à distance 4x ; RaaD 20x.

Solutions de microscopie pour les batteries lithium-ion

Tâches et applications typiques

  • Contrôlez le développement des recettes et de la chaîne d'approvisionnement : inspection d'échantillons intacts pour un contrôle efficace des fournisseurs qui révèle des changements de recette ou des économies de coûts susceptibles d'affecter les performances ou la longévité.
  • Inspectez la sécurité et la qualité : identification de débris, de formation de particules, de bavures au niveau du contact électrique ou des dommages sur le séparateur polymère.
  • Étudiez la durée de vie et le vieillissement : études longitudinales des effets du vieillissement.

Accessoires

Ajoutez des accessoires à votre microscope et augmentez ses capacités

L'option Autoloader permet d'exécuter en une fois 70 échantillons de manière séquentielle.
L'option Autoloader permet d'exécuter en une fois 70 échantillons de manière séquentielle.

Autoloader

Optimisez l'utilisation de votre instrument

Optimisez l'utilisation de votre instrument et réduisez les interventions de l'utilisateur grâce à ZEISS Autoloader, disponible en option. Réduisez la fréquence d'interaction avec l'utilisateur et augmentez la productivité en exécutant plusieurs tâches. Chargez jusqu'à 14 stations d'échantillons, c'est-à-dire jusqu'à 70 échantillons, placez-les en file d'attente et laissez votre instrument fonctionner toute la journée, ou hors des heures de service.

Kit d'interface in situ
Kit d'interface in situ

Kit d'interface in situ

Repoussez les limites de la science

Les plateformes ZEISS Xradia peuvent intégrer une grande variété d'équipements in situ, depuis les cellules de flux à haute pression aux platines de tension, de compression et thermiques, en passant par les conceptions personnalisées. Au-delà des trois dimensions de l'espace, profitez de la nature non destructive des examens aux rayons X pour étendre vos recherches grâce aux expériences 4D.

Batterie lithium-ion
Batterie lithium-ion

Batterie lithium-ion

Visualisation et analyse

ZEISS recommande Dragonfly Pro

ORS Dragonfly Pro est la solution logicielle d'analyse et de visualisation avancée pour vos données 3D acquises avec différentes technologies, notamment les rayons X, le FIB-SEM, le MEB et la microscopie à hélium ionisé. Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro propose une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour visualiser et analyser de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. À partir de vos données 3D, Dragonfly Pro permet la navigation, l'annotation ou encore la création de fichiers médias – y compris la production de vidéos. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objet pour quantifier vos résultats.

Téléchargements

    • 3D Imaging Systems

      Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.

      Pages: 68
      Taille du fichier: 5 MB
    • ZEISS Xradia 610 and 620 Versa

      Your 3D X-ray Microscopes for Faster Sub-Micron Imaging of Intact Samples

      Pages: 41
      Taille du fichier: 11 MB
    • ZEISS Xradia 630 Versa X-ray Microscope

      Expanded Accessibility. Improved Productivity. Extended Capabilities.

      Pages: 48
      Taille du fichier: 30 MB
    • 3D X-ray Microscope Field Conversion and Upgrade Options

      Pages: 3
      Taille du fichier: 2 MB
    • 40×-Prime Objective from ZEISS

      Enhance Resolution and Image Quality On ZEISS Xradia 630 Versa

      Pages: 3
      Taille du fichier: 3 MB
    • Extending the Frontiers of Semiconductor Failure Analysis

      ZEISS Xradia 630 Versa 3D X-ray Microscopy

      Pages: 2
      Taille du fichier: 1 MB
    • Flyer: ZEISS DeepRecon Pro for Electronics and Failure Analysis

      Faster 3D X-ray data acquisition and superior imaging quality for electronics failure analysis

      Pages: 2
      Taille du fichier: 1 MB
    • Metrology Extensionfor ZEISS Xradia Versa

      Adding measurement accuracy to X-ray microscopy.

      Pages: 4
      Taille du fichier: 812 KB
    • ZEISS DeepRecon

      Faster throughput, superior image qualityfor industry

      Pages: 2
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS Mineralogic 3D

      The next dimension in automated mineralogy

      Pages: 2
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS Mineralogic 3D for Mining - Flyer

      Your geometallurgy goals realized with maximum efficiency

      Pages: 2
      Taille du fichier: 677 KB
    • ZEISS ORS Dragonfly

      Outstanding 3D visualization with best-in-class graphics

      Pages: 2
      Taille du fichier: 689 KB
    • ZEISS PhaseEvolve

      Reveal contrast that has never been seen before

      Pages: 2
      Taille du fichier: 2 MB
    • ZEISS Xradia Versa with FPX

      Larger samples, higher throughput

      Pages: 2
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS ZEN AI Toolkit

      Segmentation and Classification by Machine Learning

      Pages: 4
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS Xradia Versa 3D X-ray Microscope

      Accelerate Failure Analysis and Process Development for Next-generation Electronics

      Pages: 8
      Taille du fichier: 7 MB
    • Diffraction Contrast Tomography

      Unlocking Crystallographic Information from Laboratory X-ray Microscopy

      Pages: 6
      Taille du fichier: 1 MB
    • Originally Published at ISTFA 2022

      A Correlative Microscopic Workflow for Nanoscale Failure Analysis and Characterization of Advanced Electronics Packages

      Pages: 6
      Taille du fichier: 5 MB
    • Resolution of a 3D X-ray Microscope

      Defining Meaningful Resolution Parameters

      Pages: 6
      Taille du fichier: 932 KB
    • X-ray Nanotomography in the Laboratory

      with ZEISS Xradia Ultra 3D X-ray Microscopes

      Pages: 15
      Taille du fichier: 6 MB
    • ZEISS Xradia 510 Versa

      Submicron X-ray Imaging: Maintain High Resolution Even at Large Working Distances

      Pages: 25
      Taille du fichier: 13 MB
    • 3D X-ray Imaging in Life Science Research

      An Introduction to Capturing the 3D Structure of Biological Specimens Using X-rays

      Pages: 9
      Taille du fichier: 3 MB
    • 4D Study of Silicon Anode Volumetric Changes in a Coin Cell Battery using X-ray Microscopy

      Pages: 7
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Geoscience

      Understanding the fundamental processes that shape the universe expressed at the smallest of scales

      Pages: 9
      Taille du fichier: 15 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

      Pages: 8
      Taille du fichier: 7 MB
    • ZEISS Xradia Versa X-ray microscopes

      3D Quantitative Histology of Zebraish

      Pages: 4
      Taille du fichier: 1 MB

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