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Nouvelles fonctionnalités pour le module topographie

Iéna, le 18 juin 2008.
La société Carl Zeiss a complété le module de topographie de son logiciel de microscopie AxioVision de quelques fonctions nouvelles. Ces dernières améliorent la mesure de rugosité et la mesure topographique, réalisées avec un stéréomicroscope. L’utilisateur peut mesurer maintenant la topographie de surfaces avec une finesse de détails accrue et les restituer sous une forme plus compréhensible.

L’extension du module innove aussi en permettant de spécifier la longueur d’onde limite servant à discriminer la rugosité de l’ondulation. Les valeurs de rugosité sont déterminées désormais aussi bien à partir des profils primaires non filtrés, qu’après l’application de filtres passe-haut et passe-bas. L’utilisateur peut aussi maintenant dessiner un certain nombre de lignes de profil dans n’importe quelle direction sur l’image analysée. La mesure de hauteur est également optimisée. Des images en relief peuvent être obtenues sur un stéréomicroscope par l’évaluation des couples d’images stéréoscopiques.

Ces nouvelles fonctions permettent à l’utilisateur de mesurer plus facilement les paramètres d’ondulation et de rugosité ainsi que de comparer plusieurs lignes de profil entre elles. Il est possible par ailleurs d’obtenir désormais des images en relief même avec des stéréomicroscopes dépourvus de mise au point motorisée.

The new functions of the topography module of the  AxioVision 4.7 microscopy software enable easier determination of roughness and waviness parameters and convenient comparison of several profile lines.
Les nouvelles fonctions du module topographique associé au logiciel de microscopie AxioVision 4.7 facilitent la tâche de l’utilisateur dans l’évaluation des paramètres d’ondulation et de rugosité ainsi que dans la comparaison de plusieurs lignes de profil les unes aux autres.


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