Axio CSM 700 de Carl Zeiss
Iéna, Stuttgart, mai 2008.
Le microscope confocal Axio CSM 700 de Carl Zeiss a été conçu pour le contrôle de qualité et mesure des rugosités de surfaces sans contact et avec une haute précision. Le microscope visualise les surfaces en trois dimensions, avec une haute résolution et en couleurs réelles. Carl Zeiss répond ainsi aux attentes des utilisateurs qui recherchent un microscope d’un excellent rapport performance/prix qui allie rapidité et fiabilité. Rapide à prendre en main, l’instrument offre pourtant de nombreuses fonctionnalités. Son ergonomie élaborée se reflète notamment dans la console qui a été conçue pour le réglage des paramètres d'acquisition.
L’optique ZEISS permet d’effectuer des mesures précises de microstructures tridimensionnelles, mais aussi de mesurer des rugosités avec une qualité optimale, lors d’analyses de matériaux sur des panneaux LCD, des semiconducteurs, des filtres colorés, ainsi que sur des verres, des polymères et des métaux p. ex. L’utilisateur dispose ainsi d'une image en relief très précise qui restitue bien les couleurs naturelles et qui lui fournit des informations supplémentaires importantes. Pour le relevé topographique de la surface, le système réalise jusqu’à 117 prises de vues par seconde. Il présente en outre l’avantage de pouvoir analyser des échantillons avec des différences de hauteur compris entre 20 nm et le domaine millimétrique et d’offrir une profondeur de champ extraordinaire qui n'était réalisable auparavant qu’avec des microscopes électroniques à balayage.
Facile à mettre en œuvre, le logiciel offre de nombreuses fonctions d’analyse comme la mesure de rugosités, la détermination d’épaisseurs de couches et l’analyse de particules.
Photo 1 : le microscope confocal de Carl Zeiss permet d’examiner des matériaux rapidement et sans contact avec une haute précision, en visualisant leur surface en trois dimensions et en couleurs naturelles.
Photo 2 : évaluation de la topografie 3D d’une bille de roulement pour en déterminer l’usure. Unité de longueur des axes : µm.
Photo 3 : plaque de fibre optique avec mesure de profil altimétrique, profondeur de champ étendue.
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